本实用新型专利技术公开了一种用于半导体测试装置的旋转机架，包括放置座，所述放置座顶部两端皆设有用于支撑的支撑板，且两个支撑板的表面分别通过轴承贯穿设有用于连接的第一转轴与第二转轴，所述支撑板的表面位于第一转轴外部固定设有连接环，且连接环环形端面固定设有卡块，所述卡块表面开设有用于容纳的开口，且开口内部呈环形的内壁开设有卡槽，所述开口内部位于第一转轴外部通过磁性连接与卡槽相卡接的卡盘。本实用新型专利技术便于对半导体测试机进行旋转调整位置，并对其调整好的位置进行限制，防止调整好的位置发生转动复位，使得便于工作人员进行接线调试与维修检测工作。人员进行接线调试与维修检测工作。人员进行接线调试与维修检测工作。
【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试装置的旋转机架
[0001]本技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种用于半导体测试装置的旋转机架。
技术介绍
[0002]半导体的生产制造的过程中，为保证其质量，需要利用半导体测试机安对加工生产后的半导体进行检测，现有的半导体测试机安装在方管机架上实现固定和移动的功能。但是在半导体测试机在调试和使用过程中，工作人员需要频繁的进行接线操作来调试测试机。而半导体测试机的一些接线端口设置在测试机的底部，工作人员每次进行接线操作都需要弯腰操作，使得接线调试与维修检测非常的不方便，这样大大降低了工作人员的工作效率，降低了对半导体的生产效率。
[0003]为此，我们提出一种用于半导体测试装置的旋转机架来解决上述问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于半导体测试装置的旋转机架。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种用于半导体测试装置的旋转机架，包括放置座，所述放置座顶部两端皆设有用于支撑的支撑板，且两个支撑板的表面分别通过轴承贯穿设有用于连接的第一转轴与第二转轴，所述支撑板的表面位于第一转轴外部固定设有连接环，且连接环环形端面固定设有卡块，所述卡块表面开设有用于容纳的开口，且开口内部呈环形的内壁开设有卡槽，所述开口内部位于第一转轴外部通过磁性连接与卡槽相卡接的卡盘。
[0007]进一步的，所述第一转轴与第二转轴相对的一端位于两个支撑板之间皆设有安装板，所述两个安装板相对面的两端皆设有限制板，且限制板的顶部皆通过螺栓设有用于限位的顶盖。
[0008]进一步的，所述卡盘的表面位于第一转轴外设有连接盖，且连接盖表面呈上下位置贯穿设有防脱孔。
[0009]进一步的，所述第一转轴远离安装板的一端设有限位杆，且所述第一转轴的一端位于限位杆的顶部与底端皆通过螺纹连接有与防脱孔滑配的呈T型的防脱杆。
[0010]进一步的，所述连接盖远离卡盘的面固定设有用于与限位杆相卡配的截面呈矩形环状的限位套杆。
[0011]进一步的，所述限位套杆远离连接盖的一端固定设有用于转动的转盘，且转盘远离转盘的表面的下方固定设有用于转动转盘的转把。
[0012]进一步的，所述限位套杆内部设有用于牵拉的弹簧，且弹簧的两端分别与限位套杆内部一端以及限位杆的一端连接。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果为：
[0014]1、通过设置的连个转轴、限位杆、限位套和转盘，以达到具有便于将半导体测试机进行旋转以调整位置的作用，将转盘向外拉动，使得卡盘与开口分离，再转动转盘，受限位套杆与限位杆的卡接限制，使得第一转轴转动，进而使得安装在四个限制板之间的半导体测试机进行旋转，提高了工作人员进行接线调试与维修检测工作的方便性。
[0015]2、通过设置的卡块、开口、卡槽、卡盘、限位套杆与弹簧，以达到便于对半导体测试机旋转调整的位置进行限制的作用，当完成有益效果1中的转动工作后，工作人员通过转盘将限位套杆在限位杆表面进行推动，使得卡盘位于开口内部并与卡槽卡接，同时卡盘与卡块之间的磁性再加上弹簧的牵拉作用，使得卡盘更稳定的卡在开口内部，防止调整好的位置发生转动复位。
[0016]3、通过设置的防脱杆和防脱孔，以达到具有防止限位套杆与限位杆发生滑脱的作用，当限位套杆向外拉动时，限位套杆通过防脱孔在防脱杆表面移动，保证调整工作的正常进行。
附图说明
[0017]图1为本技术提出的一种用于半导体测试装置的旋转机架的第一视角整体结构示意图；
[0018]图2为本技术提出的一种用于半导体测试装置的旋转机架的第二视角整体结构示意图；
[0019]图3为图1中卡块与卡盘的分离结构示意图；
[0020]图4为图3中拆除安装板5后的另一视角图；
[0021]图5为图4中限位套杆与卡盘的剖切图。
[0022]图中：1、放置座；2、支撑板；3、第一转轴；31、防脱杆；32、防脱孔；4、第二转轴；5、安装板；6、限制板；7、顶盖；8、连接环；9、卡块；10、开口；11、卡槽；12、限位杆；13、卡盘；14、连接盖；15、限位套杆；16、转盘；17、弹簧。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]参照图1
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5，一种用于半导体测试装置的旋转机架，包括放置座1，放置座1顶部两端皆设有用于支撑的支撑板2，且两个支撑板2的表面分别通过轴承贯穿设有用于连接的第一转轴3与第二转轴4，第一转轴3远离安装板5的一端设有限位杆12，连接盖14远离卡盘13的面固定设有用于与限位杆12相卡配的截面呈矩形环状的限位套杆15，限位套杆15内部设有用于牵拉的弹簧17，且弹簧17的两端分别与限位套杆15内部一端以及限位杆12的一端连接，弹簧17便于将限位套杆15向卡块9拉动，限位套杆15远离连接盖14的一端固定设有用于转动的转盘16，且转盘16远离转盘16的表面的下方固定设有用于转动转盘16的转把，工作人员将转盘16向外拉动，使得卡盘13与开口10分离，再转动转盘16，受限位套杆15与限位杆12的卡接限制，使得转盘16转动带动第一转轴3转动，进而使得安装在四个限制板6之间的半导体测试机进行旋转，提高了工作人员进行接线调试与维修检测工作的方便性。
[0025]参照图1
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5，两个支撑板2中与第一转轴3转动连接的支撑板2的表面位于第一转轴3外部固定设有连接环8，且连接环8环形端面固定设有卡块9，卡块9表面开设有用于容纳的开口10，且开口10内部呈环形的内壁开设有卡槽11，开口10内部位于第一转轴3外部通过磁性连接与卡槽11相卡接的卡盘13，卡盘13外圈设有与卡槽11相卡配的卡齿，卡盘13的表面位于第一转轴3外设有连接盖14，连接盖14与第一转轴3远离安装板5的一端匹配，工作人员通过转盘16将限位套杆15在限位杆12表面进行推动，使得卡盘13位于开口10内部并与卡槽11卡接，同时卡盘13与卡块9之间的磁性再加上弹簧17的牵拉作用，使得卡盘13更稳定的卡在开口10内部，防止半导体测试机调整好的位置发生转动复位，且连接盖14表面呈上下位置贯穿设有防脱孔32，且第一转轴3的一端位于限位杆12的顶部与底端皆通过螺纹连接有与防脱孔32滑配的呈T型的防脱杆31。
[0026]参照图1
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5，第一转轴3与第二转轴4相对的一端位于两个支撑板2之间皆设有安装板5，两个安装板5相对面的两端皆设有限制板6，限制板6横截面呈折角状，并且限制板6底端为实体状态，用于承载半导体测试机，且限制板6的顶部皆通过螺栓设有用于限位的顶盖7，半导体测试机安放于四个限制板6之间，顶盖7通过螺栓与限制板6的顶部连接防止半导体测试机从四个限制板6中脱离。...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于半导体测试装置的旋转机架，包括放置座（1），其特征在于，所述放置座（1）顶部两端皆设有用于支撑的支撑板（2），且两个支撑板（2）的表面分别通过轴承贯穿设有用于连接的第一转轴（3）与第二转轴（4），所述支撑板（2）的表面位于第一转轴（3）外部固定设有连接环（8），且连接环（8）环形端面固定设有卡块（9），所述卡块（9）表面开设有用于容纳的开口（10），且开口（10）内部呈环形的内壁开设有卡槽（11），所述开口（10）内部位于第一转轴（3）外部通过磁性连接与卡槽（11）相卡接的卡盘（13）。2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于，所述第一转轴（3）与第二转轴（4）相对的一端位于两个支撑板（2）之间皆设有安装板（5），所述两个安装板（5）相对面的两端皆设有限制板（6），且限制板（6）的顶部皆通过螺栓设有用于限位的顶盖（7）。3.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试装置的旋转机架，其特征在于，所述卡盘（13）的表面位于第一转轴（3）外设有连接盖（14），且连接盖...
【专利技术属性】
技术研发人员：李维繁星，
申请(专利权)人：弘润半导体苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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