【技术实现步骤摘要】
一种芯片空气加热装置及方法
[0001]本专利技术涉及一种芯片空气加热装置及方法,属于芯片检测
技术介绍
[0002]在生产制造汽车电子等芯片产品时,测试检验前需要产品转移高温环境中,对芯片产品进行一段时间高温预热,使产品在设置的高温状态充分受热,以便经过高温预热后对产品的质量检测,验证对芯片封装产品性能的影响,检验是否符合产品的质量要求。
[0003]传统做法主要是采用加热丝或加热棒对导热体进行高温加热,利用热传导的方法对芯片产品进行加热,首先热传导使盛放芯片产品的导热载具受热后,再传递至产品与导热载具的接触面,最后传递至芯片产品的本体。
[0004]这种做法技术的缺点和不足,主要体显在以下:第一,温度通过导热体到导热载具,再从导热载具到产品的产品本体,芯片产品受热速度较慢;第二,热传导受物体接触面影响,产品随盛放芯片产品的导热载具转移过程,导热体与导热载具接触面容易产生变化,使产品高温受热状态不均匀;第三,加热丝或加热棒在导热体的位置不同,温度误差较大,温度精度不稳定。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片空气加热装置,其特征在于:包括按气体流向依次连接的空气处理系统、空气加热系统、高温空气流道芯片加热系统,其中:所述空气处理系统包括按气体流向依次连接的储气罐(11)、空气调压阀(12)、流量调节阀(13);且所述储气罐(11)、空气调压阀(12)、流量调节阀(13)之间通过导气管(14)按气体流向依次连接;所述高温空气流道芯片加热系统包括高温导热箱(31)、导风槽(33)、产品进出槽(34);所述导风槽(33)设置于高温导热箱(31)内壁,所述高温导热箱(31)内部设置有高温箱内腔(32),所述产品进出槽(34)安装在高温导热箱(31)内,且所述产品进出槽(34)穿过高温箱内腔(32),同时所述导风槽(33)的出风口均指向产品进出槽(34);且部分导风槽(33)的出风口位于产品进出槽(34)的一侧,另外一部分的导风槽(33)的出风口位于产品进出槽(34)的另一侧。2.根据权利要求1所述芯片空气加热装置,其特征在于:所述风筒加热器(21)通过加热器固定机构固定安装在高温导热箱(31)上,所述加热器固定机构包括加热器固定块(211)、加热器固定架(212),所述加热器固定架(212)固定安装在高温导热箱(31)上,所述加热器固定块(211)将风筒加热器(21)固定安装在加热器固定架(212)上。3.根据权利要求2所述芯片空气加热装置,其特征在于:所述高温导热箱(31)还包括固定外盖(316)、快拆外盖(317),所述固定外盖(316)、快拆外盖(317)安装在高温导热箱(31)上,且所述固定外盖(316)、快拆外盖(317)相互配合形成高温导热箱(31)的密封盖。4.根据权利要求3所述芯片空气加热装置,其特征在于:所述产品进出槽(34)的进出口均设置有磁铁块(312)、磁铁吸块(312),所述磁铁块(312)安装在高温导热箱(31)上,所述磁铁吸块(312)设置于快拆外盖(317)上,且所述磁铁吸块(312)与磁铁块(312)相对...
【专利技术属性】
技术研发人员:李辉,王体,
申请(专利权)人:深圳市诺泰芯装备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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