标准棒制造技术

本公开涉及一种标准棒，用于校正切方机的线网，包括棒主体、基准块和测量件，基准块设置于棒主体的端部且用于设置于线网的方形网孔内，测量件沿棒主体的径向可滑动地设置于基准块，且测量件能够沿径向至少部分地凸出于基准块的外边缘，以用于测量方形网孔的内边缘至基准块的外边缘之间的距离。本公开的测量件能够准确地测量基准块外边缘与线网的方形网孔的内边缘的间距，操作人员能够根据测量的距离进行线网调整，直至线网的位置得到校正。本公开的标准棒节约了操作时间，提升了生产效率。并且，本公开的标准棒在进行线网校正时，无需进行试加工，也就能够节约试加工所需要消耗的人力资源和硅棒资源。力资源和硅棒资源。力资源和硅棒资源。

【技术实现步骤摘要】
标准棒


[0001]本公开涉及硅棒加工
，具体地，涉及一种标准棒。

技术介绍

[0002]切方机在加工硅棒过程中出现异常或切方机更换新主辊后，需要对切方机进行线网校正。如果线网校正的准确性不能满足生产需要，不仅会导致后工序无法正常进行，降低生产作业效率。而且还会导致加工的硅棒的合格率低下，生产成本很高。
[0003]目前，一般是通过一端开槽的棒体结构来进行线网校正。该棒体结构的形状与待加工的硅棒的结构相似，并且靠近线网的一端开设有线槽。在校正线网时，将线网放入线槽内即完成线网校正。但是由于线槽的尺寸一般要比线网的丝线的尺寸要大，例如，在一种常用的棒体结构中，线槽的开设宽度为1毫米，线网的丝线的宽度为0.3毫米。此时，该棒体结构只能进行粗略的线网校正，还需要通过多次试加工，根据加工出来的硅棒的形状和品质对线网的位置再多次的精细调整，才能达到生产需要的线网校正的准确性。
[0004]现有的线网校正方式不仅需要经过多次校正，校正速度较慢，会导致加工效率低下，而且还会造成人力资源和硅棒资源的浪费。

技术实现思路

[0005]本公开的目的是提供一种标准棒，用于解决现有的线网校正效率低下和资源浪费的问题。
[0006]为了实现上述目的，本公开提供一种标准棒，用于校正切方机的线网，包括棒主体、基准块和测量件，所述基准块设置于所述棒主体的端部且用于设置于所述线网的方形网孔内，所述测量件沿所述棒主体的径向可滑动地设置于所述基准块，且所述测量件能够沿所述径向至少部分地凸出于所述基准块的外边缘，以用于测量所述方形网孔的内边缘至所述基准块外边缘之间的距离。
[0007]可选地，所述基准块包括正四棱柱，所述正四棱柱与所述棒主体同轴设置，且所述正四棱柱包括在第一方向上相对设置的两个第一侧面和在第二方向上相对设置的两个第二侧面，其中，所述第一方向和所述第二方向相互垂直；
[0008]所述测量件包括第一测量元件和第二测量元件，所述第一测量元件沿所述第一方向可滑动地设置于所述基准块并能够沿所述第一方向至少部分地凸出于所述第一侧面；所述第二测量元件沿所述第二方向可滑动地设置于所述基准块并能够沿所述第二方向至少部分地凸出于所述第二侧面。
[0009]可选地，所述第一测量元件设置为两个，两个所述第一测量元件分别与两个所述第一侧面一一对应设置；和/或，所述第二测量元件设置为两个，两个所述第二测量元件分别与两个所述第二侧面一一对应设置。
[0010]可选地，所述正四棱柱包括第一轴线，所述第一轴线与所述棒主体的中轴线共线；
[0011]两个所述第一测量元件设置为关于所述第一轴线对称；和/或，两个所述第二测量
元件设置为关于所述第一轴线对称。
[0012]可选地，所述基准块包括沿所述棒主体的中轴线方向远离所述棒主体的顶面，所述顶面上形成有朝向所述基准块内部凹陷的滑槽结构，所述滑槽结构沿所述棒主体的径向延伸，且所述滑槽结构的一端开放并延伸至所述外边缘处，所述测量件可滑动地设置于所述滑槽结构内。
[0013]可选地，所述基准块包括正四棱柱，所述正四棱柱与所述棒主体同轴设置，且所述正四棱柱包括在第一方向上相对设置的两个第一侧面和在第二方向上相对设置的两个第二侧面，其中，所述第一方向和所述第二方向相互垂直；所述测量件包括第一测量元件和第二测量元件，所述滑槽结构包括第一滑槽和第二滑槽；
[0014]所述第一滑槽沿所述第一方向延伸，且所述第一滑槽的一端开放并延伸至所述第一侧面，所述第一测量元件可滑动地设置于所述第一滑槽内，所述第一测量元件能够至少部分地从所述第一侧面伸出；
[0015]所述第二滑槽沿所述第一方向延伸，且所述第二滑槽的一端开放并延伸至所述第二侧面，所述第二测量元件可滑动地设置于所述第二滑槽内，所述第二测量元件能够至少部分地从所述第二侧面伸出。
[0016]可选地，所述滑槽结构在所述顶面上形成有开口，所述滑槽结构的槽底壁沿所述棒主体的轴线方向上的投影覆盖所述开口沿所述棒主体的轴线方向上的投影；所述测量件构造为与所述滑槽结构相适配的板体；所述板体上形成有刻度线。
[0017]可选地，在所述棒主体的中轴线方向上；
[0018]所述棒主体的投影覆盖所述基准块的投影，且，所述棒主体的投影能够用于覆盖所述方形网孔的投影。
[0019]可选地，所述棒主体和所述基准块一体成型。
[0020]可选地，所述棒主体的内部形成有空腔。
[0021]通过上述技术方案，本公开设置的测量件能够准确地测量基准块外边缘与线网的方形网孔的内边缘的间距，从而就使得操作人员能够根据实时测量的距离进行线网的位置的调整，直至线网的方形网孔的中心与标准棒的中轴线共线。如此，就使得线网的位置能够较快速地得到准确的校正，节约了操作时间，从而提升了生产效率。并且，本公开的标准棒在进行线网校正时，无需进行试加工，也就能够节约试加工所需要消耗的人力资源和硅棒资源。
[0022]在上述实施方式中，线网校正的具体过程为：在需要进行线网校正时，可以先将线网移动至标准棒处，并使得线网的一个方形网孔笼罩住基准块，然后根据操作人员目测，先使得基准块大致位于线网的中心。然后滑动测量件，测出不同方向上方形网孔与基准块之间的距离，根据测量所得的数据，调整线网的位置，直至线网的方形网孔的中心与标准棒的中轴线共线。如此，即可快速地完成线网的校正。
[0023]本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0024]附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
[0025]图1是本公开一种示例性实施方式提供的标准棒的俯视视角的结构示意图。其中，还示出了线网；
[0026]图2是本公开一种示例性实施方式提供的标准棒的立体结构示意图；
[0027]图3是本公开一种示例性实施方式提供的基准块的立体结构示意图，其中一个第一测量元件和第二测量元件伸出基准块，此外，还示出了线网；
[0028]图4是本公开一种示例性实施方式提供的基准块的侧视图。
[0029]附图标记说明
[0030]1‑
标准棒；11
‑
棒主体；12
‑
基准块；121
‑
第一侧面；122
‑
第二侧面；123
‑
顶面；124
‑
滑槽结构；1241
‑
第一滑槽；1242
‑
第二滑槽；1243
‑
开口；1244
‑
槽底壁；13
‑
测量件；131
‑
第一测量元件；132
‑
第二测量元件；133
‑
刻度线；2
‑
线网；21
‑
方形网孔。
具体实施方式...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种标准棒，其特征在于，用于校正切方机的线网，包括棒主体、基准块和测量件，所述基准块设置于所述棒主体的端部且用于设置于所述线网的方形网孔内，所述测量件沿所述棒主体的径向可滑动地设置于所述基准块，且所述测量件能够沿所述径向至少部分地凸出于所述基准块的外边缘，以用于测量所述方形网孔的内边缘至所述基准块的外边缘之间的距离。2.根据权利要求1所述的标准棒，其特征在于，所述基准块包括正四棱柱，所述正四棱柱与所述棒主体同轴设置，且所述正四棱柱包括在第一方向上相对设置的两个第一侧面和在第二方向上相对设置的两个第二侧面，其中，所述第一方向和所述第二方向相互垂直；所述测量件包括第一测量元件和第二测量元件，所述第一测量元件沿所述第一方向可滑动地设置于所述基准块并能够沿所述第一方向至少部分地凸出于所述第一侧面；所述第二测量元件沿所述第二方向可滑动地设置于所述基准块并能够沿所述第二方向至少部分地凸出于所述第二侧面。3.根据权利要求2所述的标准棒，其特征在于，所述第一测量元件设置为两个，两个所述第一测量元件分别与两个所述第一侧面一一对应设置；和/或，所述第二测量元件设置为两个，两个所述第二测量元件分别与两个所述第二侧面一一对应设置。4.根据权利要求3所述的标准棒，其特征在于，所述正四棱柱包括第一轴线，所述第一轴线与所述棒主体的中轴线共线；两个所述第一测量元件设置为关于所述第一轴线对称；和/或，两个所述第二测量元件设置为关于所述第一轴线对称。5.根据权利要求1所述的标准棒，其特征在于，所述基准块包括沿所述棒主体的中轴线方向远离所述棒主体的顶面，所述顶面上形成有朝向所述基准块内部凹陷的滑槽结构，所述滑槽结构沿所述棒主体的...

【专利技术属性】
技术研发人员：段刚甲，张朝俊，杨依蓉，孙继泽，王能，代以艳，
申请(专利权)人：保山隆基硅材料有限公司，
类型：新型
国别省市：