本发明专利技术公开了一种集成电路制造用多工位的测试设备，包括连接架，所述连接架的中部开设有传动槽，所述传动槽内部的两侧均转动连接有传动中轴，所述传动中轴的中部两侧固定连接有六边传动轮，两个六边传动轮之间固定连接有加强内杆。该集成电路制造用多工位的测试设备，通过滑动杆与翻转齿轮的设置，可在需要将翻转内板翻转时，通过六边传动轮带动传动外框移动至合适位置时，使翻转齿轮与传动齿槽啮合，随后通过单向液压缸推动滑动杆移动，通过翻转齿轮与传动齿槽的啮合，使得翻转齿轮转动，从而带动翻转内板转动，将集成电路板进行翻转，通过翻转齿轮的设置，无需使用电机进行驱动，即可完成翻转，不仅生产较为方便，而且造价较低。价较低。价较低。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路制造用多工位的测试设备
[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，具体为一种集成电路制造用多工位的测试设备。
技术介绍
[0002]集成电路（integrated circuit）是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克
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基尔比（基于锗（Ge）的集成电路）和罗伯特
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诺伊斯（基于硅（Si）的集成电路）。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。
[0003]现有技术中，如中国专利申请CN114377995A的一种集成电路制造用多工位的测试设备，包括固定座、第一检测架和第二检测架，所述固定座的左部外侧连接有第一传输带，且第一传输带的顶部安置有安置组件，所述安置组件的内侧连接有转动板，且转动板的内侧设置有夹持组件，所述转动板的内部设置有微型气泵，且微型气泵的外侧连接有输气管，所述固定座的内侧顶端安置有传送座。本专利技术将多个检测工位集成在一个第一检测组件上，能降低常见集成电路板在检测过程中需要频繁移动检测造成的时间浪费和集成电路板损坏，同时多工位转动调位检测配合转动板带动集成电路板的翻转，能使集成电路板的检测更加灵活，以免集成电路板的检测产生死角。
[0004]但现有技术中，对于电路板检测时的翻转，是采用电机转动直接翻转，而由于电路板本身体积较小，从而使得电路板的夹持架的体积较小，因此，采用电机的体积需要较小，才能较好地带动夹持架的翻转，而直接采用电机的转动，由于电机转动时，会产生一定的惯性，会造成翻转架翻转角度较大，不利于后续的测试，且电机体积越小，可通过的电流量越小，使得转动力度较低，难以较好地带动夹持架的翻转，若选用较大的夹持架，配合较大的电机带动，会增加设备的体积，且会导致电路板的安装不便，造价较高。
[0005]所以我们提出了一种集成电路制造用多工位的测试设备，以便于解决上述中提出的问题。
技术实现思路
[0006]本专利技术的目的在于提供一种集成电路制造用多工位的测试设备，以解决上述
技术介绍
提出的对于电路板检测时的翻转，是采用电机转动直接翻转，而由于电路板本身体积较小，从而使得电路板的夹持架的体积较小，因此，采用电机的体积需要较小，才能较好地带动夹持架的翻转，而直接采用电机的转动，由于电机转动时，会产生一定的惯性，会造成翻转架翻转角度较大，不利于后续的测试，且电机体积越小，可通过的电流量越小，使得转动力度较低，难以较好地带动夹持架的翻转，若选用较大的夹持架，配合较大的电机带动，
会增加设备的体积，且会导致电路板的安装不便，造价较高的问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种集成电路制造用多工位的测试设备，包括连接架，所述连接架的中部开设有传动槽，所述传动槽内部的两侧均转动连接有传动中轴，所述传动中轴的中部两侧固定连接有六边传动轮，两个六边传动轮之间固定连接有加强内杆，所述六边传动轮的外侧设置有传动外框，所述传动外框的两侧均固定连接有转动连接耳，相邻两个所述传动外框之间通过所述转动连接耳转动连接，多个所述传动外框传动连接在两个所述六边传动轮的外侧之间，所述传动外框内侧的相对两侧中部均开设有转动内槽，所述传动外框的内部设置有翻转内板，所述翻转内板的两侧均固定有转动轴，所述转动轴与所述转动内槽转动连接，其中一个所述转动轴的一端固定连接有翻转齿轮，其中一个所述转动内槽的底部开设有转动侧槽，所述翻转齿轮位于所述转动侧槽的内部，所述连接架两侧的一侧中部上下方均开设有安装外槽，所述安装外槽的内部卡接设置有单向液压缸，所述安装外槽的一侧开设有滑动侧槽，所述单向液压缸的外侧固定连接有固定连接板，所述固定连接板与所述连接架固定连接，两个所述单向液压缸的输出端之间固定连接有滑动杆，所述滑动杆的上端中部开设有传动齿槽，所述传动齿槽与翻转齿轮啮合，所述滑动杆的两端均与所述滑动侧槽滑动卡接。
[0008]优选的，所述传动槽两侧的中部上方均固定连接有支撑侧杆，所述支撑侧杆的上端与传动外框的下端贴合。
[0009]优选的，所述传动外框内部的另一相对两侧均开设有二号侧槽，所述二号侧槽的内部固定连接有二号磁铁，所述翻转内板的另外两侧均开设有一号侧槽，所述一号侧槽的内部固定连接有一号磁铁，所述一号侧槽的深度大于一号磁铁的厚度。
[0010]优选的，所述翻转内板的四个内环面的底部均开设有卡接底槽，所述卡接底槽的一侧固定连接有转动限位杆，所述卡接底槽的内部卡接设置有L型限位杆，所述L型限位杆的一端与所述转动限位杆转动卡接，所述翻转内板内部的中部下方开设有底通内腔，所述卡接底槽的底部开设有转载内腔，所述转载内腔与底通内腔连通，所述转载内腔的内部固定连接有挤压气囊，所述挤压气囊的一端与L型限位杆固定连接，所述翻转内板底部的一角部固定连接有二号气泵，所述二号气泵的输入端通过连接管与底通内腔固定连通。
[0011]优选的，所述翻转内板四个内环面的中部均开设有内通气腔，四个所述内通气腔的底部之间连通，四个所述内通气腔的一侧均固定连接有夹持膨胀气囊，所述翻转内板上端的一角部固定连接有一号气泵，所述一号气泵的输出端通过设置的连接管与所述内通气腔固定连通。
[0012]优选的，所述L型限位杆的上端转动卡接有橡胶支撑球。
[0013]优选的，所述翻转内板的一侧开设有限位侧槽，所述传动槽的一侧开设有限位卡槽，所述限位侧槽与限位卡槽之间卡接设置有电路板盛放盒。
[0014]优选的，所述电路板盛放盒的一侧固定连接有抽取把手，所述电路板盛放盒一侧的中部固定连接有透明观察窗，所述透明观察窗为竖直设置。
[0015]优选的，所述连接架的上端固定连接有测试支撑架，所述测试支撑架的上端中部固定连接有单向气压缸，所述单向气压缸的输出端固定连接有连接底板，所述连接底板的内部开设有滑动内腔，所述滑动内腔的内部滑动卡接有缓冲安装板，所述缓冲安装板的上端与滑动内腔之间设置固定连接有缓冲弹片，所述缓冲安装板的下端固定连接有测试探
针。
[0016]优选的，所述连接架的下端固定连接有支撑脚，所述六边传动轮的外表面固定连接有限位凸点，所述传动外框下端的两侧均开设有限位底槽，所述限位凸点与限位底槽之间卡接。
[0017]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：1、通过滑动杆与翻转齿轮的设置，可在需要将翻转内板翻转时，通过六边传动轮带动传动外框移动至合适位置时，使翻转齿轮与传动齿槽啮合，随后通过单向液压缸推动滑动杆移动，通过翻转齿轮与传动齿槽的啮合，使得翻转齿轮转动，从而带动翻转内板转动，将集成电路板进行翻转，通过翻转齿轮的设置，无需使用电机进行驱动，即可完成翻转，不仅生产较为方便，而且造价较低，使用方便，且采用啮合的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路制造用多工位的测试设备，包括连接架（1），其特征在于：所述连接架（1）的中部开设有传动槽（13），所述传动槽（13）内部的两侧均转动连接有传动中轴（23），所述传动中轴（23）的中部两侧固定连接有六边传动轮（22），两个六边传动轮（22）之间固定连接有加强内杆（24），所述六边传动轮（22）的外侧设置有传动外框（12），所述传动外框（12）的两侧均固定连接有转动连接耳（27），相邻两个所述传动外框（12）之间通过所述转动连接耳（27）转动连接，多个所述传动外框（12）传动连接在两个所述六边传动轮（22）的外侧之间，所述传动外框（12）内侧的相对两侧中部均开设有转动内槽（38），所述传动外框（12）的内部设置有翻转内板（11），所述翻转内板（11）的两侧均固定有转动轴，所述转动轴与所述转动内槽（38）转动连接，其中一个所述转动轴的一端固定连接有翻转齿轮（32），其中一个所述转动内槽（38）的底部开设有转动侧槽（31），所述翻转齿轮（32）位于所述转动侧槽（31）的内部，所述连接架（1）两侧的一侧中部上下方均开设有安装外槽（16），所述安装外槽（16）的内部卡接设置有单向液压缸（6），所述安装外槽（16）的一侧开设有滑动侧槽（15），所述单向液压缸（6）的外侧固定连接有固定连接板（19），所述固定连接板（19）与所述连接架（1）固定连接，两个所述单向液压缸（6）的输出端之间固定连接有滑动杆（20），所述滑动杆（20）的上端中部开设有传动齿槽（21），所述传动齿槽（21）与翻转齿轮（32）啮合，所述滑动杆（20）的两端均与所述滑动侧槽（15）滑动卡接。2.根据权利要求1所述的一种集成电路制造用多工位的测试设备，其特征在于：所述传动槽（13）两侧的中部上方均固定连接有支撑侧杆（14），所述支撑侧杆（14）的上端与传动外框（12）的下端贴合。3.根据权利要求1所述的一种集成电路制造用多工位的测试设备，其特征在于：所述传动外框（12）内部的另一相对两侧均开设有二号侧槽（39），所述二号侧槽（39）的内部固定连接有二号磁铁（37），所述翻转内板（11）的另外两侧均开设有一号侧槽（35），所述一号侧槽（35）的内部固定连接有一号磁铁（36），所述一号侧槽（35）的深度大于一号磁铁（36）的厚度。4.根据权利要求2所述的一种集成电路制造用多工位的测试设备，其特征在于：所述翻转内板（11）的四个内环面的底部均开设有卡接底槽（34），所述卡接底槽（34）的一侧固定连接有转动限位杆（41），所述卡接底槽（34）的内部卡接设置有L型限位杆（30），所述L型限位...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈希恒，韦红芳，李力游，小约翰，
申请(专利权)人：南京蓝洋智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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