表面检查装置、存储介质及表面检查方法制造方法及图纸

一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更。表示的用于计算所述数值的范围的变更。表示的用于计算所述数值的范围的变更。

【技术实现步骤摘要】
表面检查装置、存储介质及表面检查方法


[0001]本专利技术涉及一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。

技术介绍

[0002]目前，在各种产品中，使用将合成树脂成型而成的组件(以下称为“成型品”)。另一方面，有时在成型品的表面显现视觉上能够观察的不良。这种不良包括无意形成的凹陷即“缩痕”、在熔融的树脂合流的部分形成的“焊缝”等。并且，在表面特意形成凹凸的纹理加工的情况下，有时也会显现与设想的质感的差异。质感根据颜色、光泽、凹凸的复合性因素而变化。
[0003]专利文献1：日本专利5966277号公报
[0004]在检查物体表面的品质的装置(以下也称为“表面检查装置”)中设置有显示基准线的功能，该基准线限定所拍摄的图像中计算表示品质的数值的范围。该范围的形状由表面检查装置固定地赋予，未设想范围的变更。
[0005]然而，在物体表面显现的不良的形状或大小各不相同。因此，可能发生表面检查装置所确定的范围变得比用户所关注的不良的大小过大的情况。此时，所计算出的数值比关注的不良更容易受到噪声的影响。
[0006]并且，在想要确认特定的部分的质感的情况下，也会发生在表面检查装置所确定的范围内包含结构上的凹凸或其他不良的情况。此时，所计算出的数值也会受到关注的部分以外的信息的影响。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的在于，与用于计算表示表面的品质的数值的范围的形状为固定的情况相比，能够进行用户所关注的部分以外的影响较少的数值的计算。
[0008]方案1所述的专利技术为表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更。
[0009]方案2所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述处理器在所述图像内显示表示接受变更前的所述范围的第1标识和表示接受变更后的所述范围的第2标识。
[0010]方案3所述的专利技术在方案2所述的表面检查装置中，所述第1标识在所述范围的变更中也显示。
[0011]方案4所述的专利技术在方案2或3所述的表面检查装置中，所述第2标识在接受变更所述第1标识的位置的操作后显示。
[0012]方案5所述的专利技术在方案4所述的表面检查装置中，所述第2标识能够通过曲线描绘。
[0013]方案6所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，所述处理器接受变更后的所述范围的面积与变更前相比变小的变更。
[0014]方案7所述的专利技术在方案6所述的表面检查装置中，所述处理器接受变更后的所述范围的整体包含在变更前的该范围内的变更。
[0015]方案8所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围计算所述数值。
[0016]方案9所述的专利技术在方案8所述的表面检查装置中，在计算所述数值后接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围重新计算所述数值。
[0017]方案10所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在接受所述范围的变更的情况下，所述处理器使所述数值在与基准的范围不同的条件下计算的情况显示在画面上。
[0018]方案11所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在变更后的所述范围的减小超过阈值的情况下，所述处理器警告所计算出的数值的精度下降。
[0019]方案12所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，在变更后的所述范围的外缘与所述图像的外缘的距离变得比预先设定的阈值短的情况下，所述处理器警告所计算出的数值的精度下降。
[0020]方案13所述的专利技术在方案1所述的表面检查装置中，还具有用于接受所述范围的形状的变更的专用的操作件。
[0021]方案14所述的专利技术在方案13所述的表面检查装置中，所述操作件与用于指示开始计算所述数值的第2操作件分开设置。
[0022]方案15所述的专利技术在方案13或14所述的表面检查装置中，所述操作件与用于拍摄所述图像的第3操作件分开设置。
[0023]方案16所述的专利技术在方案1至15中任一项所述的表面检查装置中，其特征在于，装置主体能够携带。
[0024]方案17所述的专利技术为存储介质，其存储有用于使处理由摄像器件拍摄的图像并计算表示作为检查对象的物体的表面的品质的数值的计算机实现如下功能的程序：接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更的功能。
[0025]方案18所述的专利技术为表面检查方法，其包括如下步骤：接受由图像内的标识表示的用于计算数值的范围的变更。
[0026]专利技术效果
[0027]根据本专利技术的第1方案，与用于计算表示表面的品质的数值的范围的形状为固定的情况相比，能够进行用户所关注的部分以外的影响较少的数值的计算。
[0028]根据本专利技术的第2方案，能够比较变更前后的范围的差异。
[0029]根据本专利技术的第3方案，能够一边确认作为基准的范围一边变更范围。
[0030]根据本专利技术的第4方案，能够提高用户对图像的辨识性。
[0031]根据本专利技术的第5方案，能够仅指定关注的部分来计算数值。
[0032]根据本专利技术的第6方案，能够计算更准确地表示关注的部分的品质的数值。
[0033]根据本专利技术的第7方案，能够计算更准确地表示关注的部分的品质的数值。
[0034]根据本专利技术的第8方案，能够计算更准确地表示关注的部分的品质的数值。
[0035]根据本专利技术的第9方案，即使已经计算出数值，也能够将范围的变更反映到数值中。
[0036]根据本专利技术的第10方案，能够向用户通知所计算出的数值成为与标准计算不同的
值。
[0037]根据本专利技术的第11方案，能够向用户通知所计算出的数值成为与标准计算不同的值。
[0038]根据本专利技术的第12方案，能够向用户通知所计算出的数值的精度不满足基准的可能性。
[0039]根据本专利技术的第13方案，能够提高变更用于计算数值的范围时的操作性。
[0040]根据本专利技术的第14方案，能够避免混淆数值的计算和范围的变更。
[0041]根据本专利技术的第15方案，能够避免混淆数值的计算和图像的拍摄。
[0042]根据本专利技术的第16方案，即使作为检查对象的物体表面和表面检查装置所拍摄的范围不确定，也能够提高表面的品质检查的精度。
[0043]根据本专利技术的第17方案，与用于计算表示表面的品质的数值的范围的形状为固定的情况相比，能够进行用户所关注的部分以外的影响较少的数值的计算。
[0044]根据本专利技术的第18方案，与用于计算表示表面的品质的数值的范围的形状为固定的情况相比，能够进行用户所关注的部分以外的影响较少的数值的计算。
附图说明
[0045]根据以下附图，对本专利技术的实施方式进行详细叙述。
[0046]图1是对在实施方式1中设想的表面检查装置的使用例进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在所述图像内显示表示接受变更前的所述范围的第1标识和表示接受变更后的所述范围的第2标识。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述第1标识在所述范围的变更中也显示。4.根据权利要求2或3所述的表面检查装置，其中，所述第2标识在接受变更所述第1标识的位置的操作后显示。5.根据权利要求4所述的表面检查装置，其中，所述第2标识能够通过曲线描绘。6.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器接受变更后的所述范围的面积与变更前相比变小的变更。7.根据权利要求6所述的表面检查装置，其中，所述处理器接受变更后的所述范围的整体包含在变更前的该范围内的变更。8.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围计算所述数值。9.根据权利要求8所述的表面检查装置，其中，在计算所述数值后接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围重新计算所述数值。10.根据权利要求1所述的表面检查...

【专利技术属性】
技术研发人员：平松崇，田崎海渡，相川清史，宇野美穂，市川裕一，桑田良隆，
申请(专利权)人：富士胶片商业创新有限公司，
类型：发明
国别省市：