一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取待测模块的缺陷趋势曲线；对所述缺陷趋势曲线进行分析，确定所述缺陷趋势曲线的凹凸性；根据所述凹凸性对测试策略进行调整。解决了项目开发过程中无法根据项目实际实现质量进行测试的问题。通过对测试过程中出现的缺陷进行分析，对测试策略进行合理调整，实现测试过程中测试策略的动态调整。可以更好的发现缺陷，及时调整测试策略，优化测试资源配置，将测试经验与测试质量脱藕，使测试质量更加规范。使测试质量更加规范。使测试质量更加规范。

【技术实现步骤摘要】
一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]当前测试过程中对测试策略的制定一般都放在项目开始阶段进行制定，但测试前期对项目和系统实现质量无法预估，无法制定合理的测试策略以指导整个测试流程的开展，而在测试后期再制定测试策略已无意义。由于制定测试策略时未能充分考虑测试过程中出现各类问题导致策略需调整的情况，缺少测试策略调整的理论依据，仅仅凭经验而定，增加了测试策略不合适导致最终项目投产后达不到满意结果的风险。目前通用的方法是测试前期制定初步测试策略，在之后的测试过程中依据经验进行相应的测试策略调整，但此方法主要通过工作人员对测试结果进行分析，依靠工作人员的经验，无理论和数据支撑，最后导致项目质量和工作人员经验的耦合度较高，无法产出规范的产品。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质，以解决项目测试过程中无法自主对测试策略进行调整问题。
>[0004]根据本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试策略调整方法，其特征在于，包括：获取待测模块的缺陷趋势曲线；对所述缺陷趋势曲线进行分析，确定所述缺陷趋势曲线的凹凸性；根据所述凹凸性对测试策略进行调整。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：获取待测模块的历史缺陷数据，所述历史缺陷数据包括缺陷产生时间、及对应的缺陷数量；根据各所述缺陷产生时间和对应的缺陷数量生成缺陷趋势曲线。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述缺陷产生时间和对应的缺陷数量生成缺陷趋势曲线，包括：将各所述缺陷产生时间作为横坐标，各所述缺陷产生时间所对应的缺陷数量作为纵坐标，生成缺陷点；对各所述缺陷点进行数据拟合，确定曲线参数；根据各所述曲线参数生成缺陷趋势曲线。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述凹凸性对测试策略进行调整，包括：确定凹曲线对应的凹区间，以及凸曲线对应的凸区间；根据所述凹区间和凸区间确定最新区间；当所述最新区间对应的曲线为凹曲线时，确定所述测试策略合理；当所述最新区间对应的曲线为凸曲线且所述最新区间中包含凸点时，调整所述测试策略。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述调整所述测试策略，包括：获取缺陷解决曲线以及测试目标；根据所述缺陷解决曲线和测试目标对预确定的测试用例集...

【专利技术属性】
技术研发人员：张涵宇，王越，赵士荣，王天宇，
申请(专利权)人：中国农业银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：