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本发明公开了一种测试策略调整方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取待测模块的缺陷趋势曲线；对所述缺陷趋势曲线进行分析，确定所述缺陷趋势曲线的凹凸性；根据所述凹凸性对测试策略进行调整。解决了项目开发过程中无法根据项目实际实现质量进行...
该专利属于中国农业银行股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国农业银行股份有限公司授权不得商用。

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