分样方法及样品分样器技术

本发明专利技术公开了一种分样方法及样品分样器，分样方法用于样品分样器，样品分样器包括供料机构、排出机构和称重机构，方法包括以下步骤：获取样品的需求重量和误差允许范围；供料机构启动输出样品至称重机构，直至称重机构测得重量变化；供料机构启动输出样品至称重机构，测得样品总重量和单次实际排出重量；供料机构分次排出样品至称重机构，每次排出样品前，称量并记录上一次称重机构获得的样品总重量和上一次实际排出的样品重量，建立上一次的实际排出的样品重量和供料机构的供给参数之间的系数，以系数控制下一次排出的样品重量，直至需求重量与样品总重量的差值在误差允许范围以内。本发明专利技术在供给样品时能避免样品粘黏和够精确的进行分样。确的进行分样。确的进行分样。

【技术实现步骤摘要】
分样方法及样品分样器


[0001]本专利技术属于样品分配
，具体涉及一种分样方法及样品分样器。

技术介绍

[0002]前针对黏性物和匀浆的微量样品的取样，基本上人工利用勺子等工具取样，人工控制分样和称量，需要大量的操作人员的时间和精力，效率低下。其原因是目前还没有一种可以针对黏性物和匀浆样品进行精确分样控制的设备，比如食品安全检测中，针对蜂蜜等黏性很大的样品，既要取样和精确分样控制，又要高精度称量。
[0003]然而，目前对黏性分样专利中，大部分仅仅是对大量黏性样品的快速取样或者粗略分样，而不用对样品的分离做精确的控制。如申请号为201810246142.4专利公开了一种黏性样品加样器及其适用方法，可以用于糜状或者固体状态的黏性样品的取样和粗略分样，但是无法控制黏性样品和加样器之间的分离，样品会粘附的加样器出口而无法全部落下，从而无法满足精确控制微量样品的高精度准确分样和称重的需要。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种分样方法及样品分样器，旨在解决现有技术中的黏性样品分样时难以精确取样的问题。
[0005]本专利技术采用了以下技术方案：
[0006]一种分样方法，用于样品分样器，所述样品分样器包括供料机构、排出机构和称重机构，所述供料机构为螺旋输送机构或推杆输送机构，所述排出机构包括与所述供料机构的出口连接的排出管和可在所述排出管内上下滑动且同时旋转或振动的出料活塞，所述方法包括以下步骤：
[0007]S1、获取样品的需求重量和误差允许范围；
[0008]S2、所述供料机构启动输出样品至所述称重机构，直至所述称重机构测得重量变化；
[0009]S3、所述供料机构启动输出样品至所述称重机构，测得样品总重量和单次实际排出重量；
[0010]S4、所述供料机构分次排出样品至所述称重机构，每次排出样品前，称量并记录上一次称重机构获得的样品总重量和上一次实际排出的样品重量，建立上一次的实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数，以所述系数控制下一次排出的样品重量，直至所述需求重量与所述样品总重量的差值在误差允许范围以内。
[0011]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述S4的步骤具体为：
[0012]S41、计算上一次的实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数；
[0013]S42、获取单次供给目标重量值，和以所述系数计算所述供料机构下一次供料所需的供给参数，并控制所述供料机构以所述供给参数进行供料；
[0014]S43、当次供料完成后，计算所述需求重量与所述样品总重量的差值是否在误差允
许范围以内，若是，则完成样品分样；若否，则重复所述S41至S43。
[0015]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述S41中，所述系数为：
[0016]式中，n为S3步骤中排出样品的次数，且n大于或等于2；m
n
为第n次排出样品的实际重量；S
n
为第n次排出样品时供料机构的供给参数，k
n
为第n次的系数。
[0017]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述S42步骤中，所述获取单次供给目标重量值，具体为：
[0018]式中，P为需求重量，M
n
为第n次供料后称重机构测得的样品总重量，Δm为单次供给目标重量值。
[0019]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述S42步骤中，所述下一次供料所需的供给参数的计算为：
[0020]式中，Δm为单次供给目标重量值；k
n
为第n次排出样品时供料机构的系数，S
n+1
为第n+1次的供给参数。
[0021]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述供给参数为所述螺旋输送机构的转动圈数或推杆输送机构的推送距离。
[0022]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述供料机构供料后，记录所述供给参数。
[0023]一种样品分样器，包括：
[0024]供料机构，所述供料机构为螺旋输送机构或推杆输送机构；
[0025]排出机构，包括与所述供料机构的出口连接的排出管和可在所述排出管内上下滑动且同时旋转或振动的出料活塞；
[0026]称重机构，位于所述排出管的下方；以及
[0027]控制器，包括：
[0028]输入模块，用于输入样品的需求重量和误差允许范围；
[0029]重量获取模块，用于获取称重机构测得的样品总重量，根据样品总重量计算获得实际排出的样品重量；
[0030]参数获取模块，用于获取所述供料机构的供料参数；
[0031]系数计算模块，用于根据所述供料参数和所述样品重量计算获得上一次的实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数；
[0032]输出控制模块，用于根据所述系数控制下一次排出的样品重量；
[0033]判断模块，用于判断需求重量和所述样品总重量的差是否在所述误差允许范围内。
[0034]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述输出控制模块包括：
[0035]目标计算模块，用于获取单次供给目标重量值；
[0036]参数计算模块，用于根据所述单次供给目标重量值和所述系数计算下一次排出时的供给参数；
[0037]输出模块，按照所述供给参数控制所述输送机构进行供给样品。
[0038]作为本专利技术技术方案的进一步改进，所述单次供给目标重量值为：
[0039]式中，P为需求重量，M
n
为第n次供料后称重机构测得的样品总重量，Δm为单次供给目标重量值。
[0040]与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：
[0041]本专利技术的分样方法中，采用的样品分样器具有排出机构，排出机构的出料活塞能够将排出的样品(黏性样品或粉状样品)进行旋转或振动排出，避免样品粘黏，并通过实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数来控制下一次的排出的样品重量，提升排出时的控制精度，最终使得需求重量与所述样品总重量的差值在误差允许范围以内，完成样品的精准分样。
附图说明
[0042]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术的技术作进一步地详细说明：
[0043]图1是本专利技术的分样方法的流程示意图；
[0044]图2是本专利技术的分样方法的S4步骤的流程示意图；
[0045]图3是本专利技术的样品分样器采用螺旋输送杆供给黏性样品的实施例的结构示意图；
[0046]图4是图3的实施例的供料管、螺旋输送杆和排出管的连接示意图；
[0047]图5是本专利技术的样品分样器采用推杆机构供给黏性样品的实施例的结构示意图；
[0048]图6是本专利技术的样品分样器采用螺旋输送杆供给粉末样品的实施例的结构示意图。
[0049]附图标记：
[0050]1‑
供料机构；11
‑
供料管；12
‑
螺旋输送杆；13
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分样方法，用于样品分样器，所述样品分样器包括供料机构、排出机构和称重机构，所述供料机构为螺旋输送机构或推杆输送机构，所述排出机构包括与所述供料机构的出口连接的排出管和可在所述排出管内上下滑动且同时旋转或振动的出料活塞，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、获取样品的需求重量和误差允许范围；S2、所述供料机构启动输出样品至所述称重机构，直至所述称重机构测得重量变化；S3、所述供料机构启动输出样品至所述称重机构，测得样品总重量和单次实际排出重量；S4、所述供料机构分次排出样品至所述称重机构，每次排出样品前，称量并记录上一次称重机构获得的样品总重量和上一次实际排出的样品重量，建立上一次的实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数，以所述系数控制下一次排出的样品重量，直至所述需求重量与所述样品总重量的差值在误差允许范围以内。2.根据权利要求1所述的分样方法，其特征在于，所述S4的步骤具体为：S41、计算上一次的实际排出的样品重量和所述供料机构的供给参数之间的系数；S42、获取单次供给目标重量值，和以所述系数计算所述供料机构下一次供料所需的供给参数，并控制所述供料机构以所述供给参数进行供料；S43、当次供料完成后，计算所述需求重量与所述样品总重量的差值是否在误差允许范围以内，若是，则完成样品分样；若否，则重复所述S41至S43。3.根据权利要求2所述的分样方法，其特征在于，所述S41中，所述系数为：式中，n为S3步骤中排出样品的次数，且n大于或等于2；m
n
为第n次排出样品的实际重量；S
n
为第n次排出样品时供料机构的供给参数，k
n
为第n次的系数。4.根据权利要求3所述的分样方法，其特征在于，所述S42步骤中，所述获取单次供给目标重量值，具体为：式中，P为需求重量，M
n
为第n次供料后称重机构测得的样品...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵中华，
申请(专利权)人：赵中华，
类型：发明
国别省市：