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一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置制造方法及图纸

技术编号:35871351 阅读:26 留言:0更新日期:2022-12-07 11:06
本实用新型专利技术公开了一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,包括平板型光电成像探测器;滤光片,具有若干滤光区域,覆盖于所述平板型光电成像探测器上;光纤连接器,覆盖于所述滤光片上;所述光纤连接器上分布有若干第一透光孔,以及若干与所述第一透光孔一一匹配的光纤连接头,所述光纤连接头上连接有入射光纤。针对现有的荧光检测方法均无法适应大通量的实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测系统的快速准确检测荧光的技术问题,本实用新型专利技术提供了一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,它可以大幅提高光电检测部分的速度,同时完全避免了透镜带来的边缘效应和畸变问题,也不需要使用额外的参考试剂,同时还不需要经常做校正。需要经常做校正。需要经常做校正。

【技术实现步骤摘要】
一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置


[0001]本技术涉及生物检测
,具体涉及一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置。

技术介绍

[0002]在新冠病毒肆虐的时候,快速核酸检测对控制和战胜疫情非常重要。本专利的主要目的在于让PCR核酸检测设备中的荧光检测部分变得更加快速和高效,能够更快地给出准确的诊断结果,便于大规模的核酸快速检测时使用。
[0003]荧光PCR检测系统是目前大规模的核酸检测时使用最多的设备。它们就有检测精度高(灵敏度高和特异性高)的特点。荧光PCR检测系统又分为两大类:实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测系统。实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测设备中的最核心的部件就是高灵敏度荧光检测装置。为了增加检测的准确度,实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测系统一般会采用多个荧光通道的检测,便于检测病毒的多个典型的标志物。目前最常见的PCR检测设备多采用4

6个荧光通道,老式的PCR检测设备则采用单通道或者双通道。一般来说,PCR检测设备中的荧光检测通道越多,它能够使用的试剂种类就对越多,检测效率也会更高。
[0004]目前的大通量的实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测系统有以下的两种常见的荧光检测方法:1、采用单个多通道的荧光检测头,通过机械移动的方式对每一个检测的试管做逐一扫描,这种方式检测周期长,结构寿命短;2、采用透镜的制冷型CCD成像技术同时做多个试管的荧光检测,这种成像技术会有边缘效应和透镜的畸变问题,在CCD成像中心的试管的检测更加灵敏,而在边缘的试管的检测的灵敏度会有所下降,常需要使用额外的参考试剂,校正比较费时。

技术实现思路

[0005]1、技术要解决的技术问题
[0006]针对现有的荧光检测方法均无法适应大通量的实时荧光PCR检测系统和等温荧光PCR检测系统技术问题,本技术提供了一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,它可以大幅提高光电检测部分的速度,同时完全避免了透镜带来的边缘效应和畸变问题,也不需要使用额外的参考试剂,同时还不需要经常做校正。
[0007]2、技术方案
[0008]为解决上述问题,本技术提供的技术方案为:
[0009]一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,包括平板型光电成像探测器;滤光片,具有若干滤光区域,覆盖于所述平板型光电成像探测器上;光纤连接器,覆盖于所述滤光片上;所述光纤连接器上分布有若干第一透光孔,以及若干与所述第一透光孔一一匹配的光纤连接头,所述光纤连接头上连接有入射光纤。
[0010]可选地,还包括设于所述平板型光电成像探测器和所述滤光片之间的遮光片,所
述遮光片上分布有若干与所述第一透光孔一一匹配的第二透光孔。
[0011]可选地,所述平板型光电成像探测器为非晶硅薄膜晶体管阵列结构、金属氧化物薄膜晶体管阵列结构或CMOS晶体管阵列结构中的一种。
[0012]可选地,所述光纤连接头包括固连于所述光纤连接器上的光纤连接座,以及用于将所述入射光纤固定于所述光纤连接座上的光纤头。
[0013]可选地,所述光纤头包括固定于所述入射光纤端部,且与所述光纤连接座插接配合的第一光纤头。
[0014]可选地,所述光纤头包括固定于所述光纤连接座内的第二光纤头,且所述光纤头内具有用于固定所述入射光纤的固定孔。
[0015]可选地,所述光纤头包括固定于所述光纤连接座内的第二光纤头,且所述光纤头内具有用于固定所述第一光纤头的固定孔。
[0016]可选地,所述光纤连接器内还设有用于将光线转换成平行光的透镜。
[0017]可选地,所述光纤连接头安装于所述光纤连接器表面。
[0018]可选地,所述光纤连接头嵌入式安装于所述光纤连接器内。
[0019]3、有益效果
[0020]采用本技术提供的技术方案,与现有技术相比,具有如下有益效果:
[0021](1)本基于平板型光电成像探测器的光电检测装置避免使用任何机械移动部件,不再需要对每个试管依次轮流进行扫描检测,可有效地缩短了总体的检测时间;
[0022](2)本基于平板型光电成像探测器的光电检测装置避免使用任何机械移动部件,有效地避免了机械移动装置容易出现问题和故障的情况,提高了整个设备的抗出错冗余。
[0023](3)本基于平板型光电成像探测器的光电检测装置无需采用带透镜的制冷型CCD成像技术来做多个试管的荧光检测,有效地避免了带透镜的制冷型CCD成像技术会产生的边缘效应;也避免了因为制冷导致的透镜和成像芯片表面容易结雾导致的问题。
[0024](4)本基于平板型光电成像探测器的光电检测装置无需采用制冷型CCD成像技术做多个试管的荧光检测,让设备的校正变得更加简单,而且也不再需要经常做费时费力的校正。
附图说明
[0025]图1为本技术实施例提出的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置的结构示意图(光纤连接头设于所述光纤连接器表面);
[0026]图2为本技术实施例提出的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置的结构示意图(所述光纤连接头嵌入式安装于所述光纤连接器内);
[0027]图3为本技术实施例提出的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置的剖面示意图(光纤连接头设于所述光纤连接器表面);
[0028]图4为本技术实施例提出的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置的剖面示意图(所述光纤连接头嵌入式安装于所述光纤连接器内);
[0029]图5为本技术实施例提出的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置的剖面示意图(所述光纤连接头嵌入式安装于所述光纤连接器内,所述光纤连接器内安装有透镜);
[0030]1、平板型光电成像探测器;2、滤光片;3、光纤连接器;4、光纤连接头;5、入射光纤;6、遮光片;7、光纤连接座;8、第一光纤头;9、第二光纤头;10、透镜。
具体实施方式
[0031]为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本技术进行进一步的详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本技术,并不限定本技术的保护范围。
[0032]需要说明的是,当元件被称为“固定于”、“设置于”、“固设于”或“安设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。进一步地,当一个元件被认为是“固定连接”另一个元件,二者可以是可拆卸连接方式的固定,也可以不可拆卸连接的固定,如套接、卡接、一体成型固定、焊接等,在现有技术中可以实现,在此不再累赘。当元件与另一个元件相互垂直或近似垂直是指二者的理想状态是垂直,但是因制造及装配的影响,可以存在一定的垂直误差。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,其特征在于:包括平板型光电成像探测器;滤光片,具有若干滤光区域,覆盖于所述平板型光电成像探测器上;光纤连接器,覆盖于所述滤光片上;所述光纤连接器上分布有若干第一透光孔,以及若干与所述第一透光孔一一匹配的光纤连接头,所述光纤连接头上连接有入射光纤。2.根据权利要求1所述的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,其特征在于:还包括设于所述平板型光电成像探测器和所述滤光片之间的遮光片,所述遮光片上分布有若干与所述第一透光孔一一匹配的第二透光孔。3.根据权利要求1所述的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,其特征在于:所述平板型光电成像探测器为非晶硅薄膜晶体管阵列结构、金属氧化物薄膜晶体管阵列结构或CMOS晶体管阵列结构中的一种。4.根据权利要求1所述的一种基于平板型光电成像探测器的光电检测装置,其特征在于:所述光纤连接头包括固连于所述光纤连接器上的光纤连接座,以及用于将所述入射光纤固定于所述光纤连接座上的光纤头。5.根据权利要求4所述的一种基于平板型光电成像探测器的光...

【专利技术属性】
技术研发人员:方明
申请(专利权)人:方明
类型:新型
国别省市:

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