浸液式晶振外壳捡漏箱制造技术

本实用新型专利技术涉及晶振元件检测技术领域，具体涉及一种浸液式晶振外壳捡漏箱,包括：测试槽，测试槽为顶部开放的盒体结构，并且测试槽任意的一侧具有透明的密封板；测试槽任意一侧的顶部设有真空接口，真空接口通过真空管与真空设备连接；测试槽底部中央设有纵向的固定轴；上盖，上盖与测试槽顶部适配，并且上盖边缘与测试槽顶部之间设有密封圈；上盖顶部设有提手；第一承载托盘，第一承载托盘设置在上盖下方，并通过贯穿第一承载托盘的第一轴套配合在固定轴上；承载托盘设有晶振固定座，用于安装码放晶振元件。本实用新型专利技术能对晶振外壳进行缺陷检测，其利用真空将缺陷晶振内的气体吸出并在测试液中形成气泡，从而实现对缺陷晶振的判定工作。定工作。定工作。

【技术实现步骤摘要】
浸液式晶振外壳捡漏箱


[0001]本技术涉及晶振元件检测
，具体涉及一种浸液式晶振外壳捡漏箱。

技术介绍

[0002]石英晶体谐振器简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件。
[0003]石英晶体谐振器在压封时，谐振器内部要求抽真空并充入氮气，以保证石英晶片不被腐蚀并且能够正常起振，石英晶体谐振器在完成压封、封焊之后，需要对石英晶体谐振器的密封性能进行检测，石英晶体谐振器封装后是否漏气，是晶体产品可靠性的重要指标之一，一般在检测之前需要将谐振器放置在检测液中加压，再进行谐振器性能检测，因此我们提出一种石英晶体谐振器密封性能检漏装置。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种浸液式晶振外壳捡漏箱，通过该装置能对晶振外壳进行缺陷检测，其利用真空将缺陷晶振内的气体吸出并在测试液中形成气泡，从而实现对缺陷晶振的判定工作。
[0005]为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案：一种浸液式晶振外壳捡漏箱，其包括：测试槽，所述测试槽为顶部开放的盒体结构，并且所述测试槽任本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种浸液式晶振外壳捡漏箱，其特征在于,包括：测试槽，所述测试槽为顶部开放的盒体结构，并且所述测试槽任意的一侧具有透明的密封板；所述测试槽任意一侧的顶部设有真空接口，所述真空接口通过真空管与真空设备连接；所述测试槽底部中央设有纵向的固定轴；上盖，所述上盖与所述测试槽顶部适配，并且所述上盖边缘与所述测试槽顶部之间设有密封圈；所述上盖顶部设有提手；第一承载托盘，所述第一承载托盘设置在所述上盖下方，并通过贯穿所述第一承载托盘的第一轴套配合在所述固定轴上；所述第一承载托盘设有晶振固定座，用于安装码放晶振元件。2.根据权利要求1所述的浸液式晶振外壳捡漏箱，其特征在于：所述第一承载托盘为圆形结构，并位于在所述第一轴套的底部，所述第一承载托盘顶部环所述第一轴套设有多扇形凹槽；所述晶振固定座放置在各个所述扇形凹槽内。3.根据权利要求1所述的浸液式晶振外壳捡漏箱，其特征在于：所述第一轴套高度大于所述固定轴高度，并且所述第一轴套顶部设有沿径向贯穿的提取孔。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳彬，
申请(专利权)人：晶宇兴电子科技三河有限公司，
类型：新型
国别省市：