一种芯片测试分选机制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片生产设备技术领域，尤其涉及一种芯片测试分选机，包括测试底座、分选顶架、取料手柄、转动轴、滑动架、测试架和测试连接座。本实用新型专利技术通过设置取料手柄和转动轴，利用滑动架带动、测试架在分段顶架上上下滑动，从而便于芯片在测试架上的出料，进而提高芯片分选机的分选效率。待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄竖直状态下，测试架位于滑动架内，测试架与测试连接座接触，此时测试连接座连接测试主机，利用测试架对芯片进行测试；取料手柄水平状态下，测试架位于滑动架外，测试架与测试连接座分离，测试结束，手动对滑动架进行复位，测试失败的芯片所在的测试架上的报警指示灯亮起，从而提醒工作人员对错误芯片进行分选。片进行分选。片进行分选。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试分选机


[0001]本技术涉及芯片生产设备
，尤其涉及一种芯片测试分选机。

技术介绍

[0002]芯片测试分选机主要进行芯片光电参数的测试。设备从供给装置拾取芯片，搭载到测定工作台，对芯片的光电参数进行测试，并根据测试结果对芯片的优劣进行判定及筛选后，放置到指定位置的装置，设备可以自动运行。
[0003]公开号为CN215088944U的技术公开了一种全自动LED芯片分选机，包括全自动LED芯片分选机本体，全自动LED芯片分选机本体的底部设置有稳停式行走机构，稳停式行走机构包括固定连接在全自动LED芯片分选机本体底部的盒形底座，盒形底座的底部设置为开口，盒形底座的底部活动接触有底板，底板的底部粘接固定有防滑胶垫，底板的顶部两侧均固定连接有三个导向杆，盒形底座滑动套设在六个导向杆上。该装置设计合理，四个行走轮的设置便于人员对全自动LED芯片分选机本体进行移动，且便于在移动后进行稳定停放，能够有效提高停放稳定性，降低因误碰发生位移晃动的风险，从而提高使用稳定性，满足使用需求。
[0004]但是上述技术方案存在以下缺陷：现有的芯片分选装置普遍存在分选效率较低，自动化程度较低的问题。上述装置提供了一种带有行走机构的分选机，而行走机构本身仅仅从移动方面实现了对分选机的改进，并没有从芯片分选的流程上提高设备的工作效率，实用性低，难以广泛普及。

技术实现思路

[0005]本技术针对
技术介绍
中存在的技术问题，提出一种芯片测试分选机。
[0006]本技术的技术方案：一种芯片测试分选机，包括测试底座、分选顶架、取料手柄、转动轴、滑动架、测试架和测试连接座。
[0007]分选顶架设置在测试底座上。转动轴转动设置在测试底座上；取料手柄设置在转动轴上。由转动轴驱动的滑动架滑动设置在测试底座和分选顶架之间。测试架与测试连接座通讯连接，测试件滑动设置在滑动架上。测试连接座设置在测试底座上，测试连接座与测试主机通讯连接。待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄竖直状态下，测试架位于滑动架内，测试架与测试连接座接触；取料手柄水平状态下，测试架位于滑动架外，测试架与测试连接座分离。
[0008]优选的，还包括连接件；连接件可拆卸设置在测试底座和分选顶架上。
[0009]优选的，测试架包括主测试板和副测试板；主测试板和副测试板滑动设置在滑动架上；芯片设置在主测试板和副测试板之间。
[0010]优选的，分选顶架上设置有分选总槽；测试架滑动设置在分选总槽上。
[0011]优选的，滑动架上设置有分选分槽；取料手柄竖直状态下，测试架位于分选分槽内，测试架与测试连接座接触；取料手柄水平状态下，测试架位于分选分槽外，测试架与测
试连接座分离。
[0012]优选的，测试底座上设置有底座卡块；滑动架上设置有滑动卡块；取料手柄竖直状态下，测试架位于滑动架内，测试架与测试连接座接触，测试架与测试连接座分离底座卡块与滑动卡块分离；取料手柄水平状态下，测试架位于滑动架外，测试架与测试连接座分离底座卡块与滑动卡块卡接。
[0013]优选的，测试底座上设置有转动座；转动轴转动设置在转动座上，转动轴上设置有驱动凸起。
[0014]与现有技术相比，本技术的上述技术方案具有如下有益的技术效果：通过设置取料手柄和转动轴，利用滑动架带动、测试架在分段顶架上上下滑动，从而便于芯片在测试架上的出料，进而提高芯片分选机的分选效率。待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄竖直状态下，测试架位于滑动架内，测试架与测试连接座接触，此时测试连接座连接测试主机，利用测试架对芯片进行测试；取料手柄水平状态下，测试架位于滑动架外，测试架与测试连接座分离，测试结束，手动对滑动架进行复位，测试失败的芯片所在的测试架上的报警指示灯亮起，从而提醒工作人员对错误芯片进行分选。本技术通过设置滑动架带动测试架在分选顶架上滑动，从而便于带动芯片以及测试架从测试底座上弹出，从而便于从本质上提高芯片分选的工作效率。
附图说明
[0015]图1为本技术一种实施例的结构示意图一。
[0016]图2为本技术一种实施例的透视图一。
[0017]图3为本技术一种实施例的结构示意图二。
[0018]图4为本技术一种实施例的透视图二。
[0019]附图标记：1、测试底座；2、分选顶架；3、连接件；4、取料手柄；5、转动轴；6、滑动架；7、测试连接座；8、分选总槽；9、分选分槽；10、主测试板；11、副测试板；12、底座卡块；13、滑动卡块；14、转动座。
具体实施方式
[0020]实施例一
[0021]本实施例提出的一种芯片测试分选机，包括测试底座1、分选顶架2、取料手柄4、转动轴5、滑动架6、测试架和测试连接座7。
[0022]如图1
‑
4所示，分选顶架2设置在测试底座1上。转动轴5转动设置在测试底座1上；取料手柄4设置在转动轴5上。由转动轴5驱动的滑动架6滑动设置在测试底座1和分选顶架2之间。测试架与测试连接座7通讯连接，测试件滑动设置在滑动架6上。测试连接座7设置在测试底座1上，测试连接座7与测试主机通讯连接。
[0023]在本实施例中，通过设置取料手柄4和转动轴5，利用滑动架6带动、测试架在分段顶架2上上下滑动，从而便于芯片在测试架上的出料，进而提高芯片分选机的分选效率。待检测的芯片设置在测试架上。如图1
‑
2所示，取料手柄4竖直状态下，测试架位于滑动架6内，测试架与测试连接座7接触，此时测试连接座7连接测试主机，利用测试架对芯片进行测试；如图3
‑
4示，取料手柄4水平状态下，测试架位于滑动架6外，测试架与测试连接座7分离，测
试结束，手动对滑动架6进行复位，测试失败的芯片所在的测试架上的报警指示灯亮起，从而提醒工作人员对错误芯片进行分选。本技术通过设置滑动架6带动测试架在分选顶架2上滑动，从而便于带动芯片以及测试架从测试底座1上弹出，从而便于从本质上提高芯片分选的工作效率。
[0024]实施例二
[0025]本实施例提出的一种芯片测试分选机，包括测试底座1、分选顶架2、取料手柄4、转动轴5、滑动架6、测试架和测试连接座7。
[0026]如图1
‑
4所示，分选顶架2设置在测试底座1上。转动轴5转动设置在测试底座1上；取料手柄4设置在转动轴5上。由转动轴5驱动的滑动架6滑动设置在测试底座1和分选顶架2之间。测试架与测试连接座7通讯连接，测试件滑动设置在滑动架6上。测试连接座7设置在测试底座1上，测试连接座7与测试主机通讯连接。待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄4竖直状态下，测试架位于滑动架6内，测试架与测试连接座7接触；取料手柄4水平状态下，测试架位于滑动架6外，测试架与测试连接座7分离。
[0027]进一步的，还包括连接件3；连接件3可拆卸设置在测试底座1和分选顶架2上。
[0028]在本实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选机，其特征在于，包括测试底座(1)、分选顶架(2)、取料手柄(4)、转动轴(5)、滑动架(6)、测试架和测试连接座(7)；分选顶架(2)设置在测试底座(1)上；转动轴(5)转动设置在测试底座(1)上；取料手柄(4)设置在转动轴(5)上；由转动轴(5)驱动的滑动架(6)滑动设置在测试底座(1)和分选顶架(2)之间；测试架与测试连接座(7)通讯连接，测试件滑动设置在滑动架(6)上；测试连接座(7)设置在测试底座(1)上，测试连接座(7)与测试主机通讯连接；待检测的芯片设置在测试架上；取料手柄(4)竖直状态下，测试架位于滑动架(6)内，测试架与测试连接座(7)接触；取料手柄(4)水平状态下，测试架位于滑动架(6)外，测试架与测试连接座(7)分离。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，还包括连接件(3)；连接件(3)可拆卸设置在测试底座(1)和分选顶架(2)上。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，测试架包括主测试板(10)和副测试板(11)；主测试板(10)和副测试板(11)滑动设置在滑动架(6)上；芯片设置在主测试板(10)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，刘湘鹏，刘振华，
申请(专利权)人：深圳市聚芯力科技有限公司，
类型：新型
国别省市：