一种全像光学系统中侦测损坏像素的方法，其特征在于，包括下列步骤： 提供多数幅影像信息依序显示于一资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显示一亮以及一暗的二种状态； 依序将该显示平面上的该些幅影像信息记录于一储存媒介中； 提供一激光束直接照射于一光侦测装置； 利用该光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像信息，使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态并使得每一个相素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号； 分别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值； 将该光感测信号差值与一临限值进行比较； 当该光感测信号差值大于该临限值时，定义该相对应的像素为无损坏；以及 当该光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为一损坏像素。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于 一 种全像光学储存系统(Hologram Optical Storage System), 且特另廿是有 关于全像光学储存系统中侦测与补偿损坏像素的方 法。
技术介绍
请参照附图说明图1 ，其所绘示为全像光学储存系统示意 图。 一 般来说，全像光学储存系统1 0 0是由信号光 束(Signal Beam) 1 2 、 资料平面(Data Plane) 1 4、 参考光束 (Reference Beam) 1 6、 储存媒介 (Storage Medium) 1 8 、 资料光束 (Data Beam) 2 2、 以及光侦领U装置(Detecting Apparatus) 2 O所 组成。利用 一 光源，例如激光光源，经分光器(未绘示)分成二道光束。其中一道光束照射于一资料平面l 4 后即成为 一 信号光束12 ，也就是说信号光束12中包有资料平面上1 4所呈现的 一 幅(Frame )影像信息。 而另一道光束即为参考光束l 6。当信号光束l 2以 及参考光束l 6同时聚焦于储存媒介1 8时，信号光 束l 2与参考光束1 6所产生的干涉条纹会形成于一 焦点2 4上，而干涉条纹可视为 一 光栅(Grating )。 之后，当储存媒介1 8仅由参考光束1 6照射时，在 原信号光束1 2的延伸方向(亦即，信号光束的出射 角)会输出一资料光束2 2。而在资料光束2 2前进 的方向上放置光侦测装置2 0 ，即可以获得原资料平 面1 4上的该幅影像信息。 一 般来说，储存媒介1 8 是为光聚合物(Photopolymer ) o也就是说，利用全像光学储存系统10 0将资料写入储存媒介1 8时，控制电路(未绘示)会先将原始资料进行编码并且加入资料校正码CorrectionCode之后转换为 一 幅影像信息并显示于资料平面14上，当光束照射于资料平面1 4后即成为 一 信号光束12。之后，同时将信号光束1 2以及参考光束16照射所形成具有干涉条纹的焦点24记录于储存媒介18中，即完成资料的写入。而利用上述的方式，全像光学储存系统1 0 Q的控制电路可以将大量的原始资料转换成多数幅影像信息并依序记录在储存媒介18的不同区域，因此可大幅提升储存媒介1 8的记 录容量。而利用全像光学储存系统100读取资料时，仅需利用参考光束1 6'聚焦于储存媒介18的焦点24，即可在原信号光束12的延伸方向会产生资料光束22，并利用光侦测装置20即可使得原资料平面14上的该幅影像信息投影至光侦测装置20上，当光侦测装置还原此幅影像信自后，即可经由控制电路进行译码并还原成原始资料而全像光学储存系统100的控制电路还可以依序读取记录在储存媒介18不同区域的多数幅影像信串并经过译码校正的过程后回复该大的原始资料由上述可知，写入式(Recording)的全像光学储存系统至少需員备激光光源、资料平面14、以及储存媒介18反之，n读式Read 0nly)的全像光学储存系统至少需具备激光光源、储存媒介18、以及光侦测装置20。而读写式的全像光学储存系统则需員备激光光源、资料平面14、储存媒介18、以及光侦观U装置20般来说资料平面14即所谓的空间光调变器(Spatial Light Modulator,简称SLM)， 其可为数字微型反身寸镜数组(Digital Micro —mirror Device,简 称DMD)或液晶面板(Liquid Crystal Display, 简称 LCD )。不论是数字微型反射镜数组或者是液晶面板皆 是由多个显示单元排列成数组(Array )的形式，并根 据所有的显示单元的亮暗影像组合中后，呈现出 一 幅 影像信息， 一 般而言，每个显示单元皆可称的为像素 (Pixel )。而光侦测装置2 0是为电荷耦合组件 (Charge-Coupled Device, 简称 CCD)或者互补金氧 化 物 半 导 体 ( Complementary Metal Oxide Semiconductor,简称CM0S)。同理，不论是电荷親合 组件或者是互补金氧化物半导体皆是由多个光感测单 元排列成数组的形式，用以接收资料平面1 4上显示 单元所呈现出的该幅影像信息，而每个光感测单元也 可称中为像素(Pixel)。再者，当资料光束2 2上的影像信息投射至光侦 测装置2 2时，光侦测装置2 2上的每个像素会根据 接收的光强度(Intensity)转换为光感测信号并且输 出，而后续的控制电路(未绘示)会根据光感测信号 的大小来决定每个像素所接收的光强度代表亮或 者暗。当控制电路确定光侦测装置2 2每个像素的亮或者暗(也就是影像信息的重建)后，控制 电路即会将此幅影像信息进行译码与资料校正的动作 并且还原为原资料。众所周知，资料平面1 4上以及光侦泖J装置20上的像素有可能会损坏。当资料平面14或者光侦测装置20上的像素损坏时，皆会使得光侦测装置20输出的光感测信号无法进行辨识，使得全像光学储存系统的资料读写错误率提咼，因此，如何侦测全像光学储存系统中的损坏像素并且补偿损坏像素将是本专利技术的重点。
技术实现思路
本专利技术的百的是提出一种全像光学系统中侦测损坏像素的方法，包括下列步骤提供多数幅影像信/S、依序显示于一资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显不壳以及暗的一种状态依序将该显示平面上的该些幅影像信息记录于—储存媒介中利用光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像信使得该光侦测装置中的每—个像素皆可接收到该壳以及该暗的种状态并使得每个相素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号分别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得光感测摔号差值将该光感测信号差值与临限值进行比当该光感；测信.号差值大于该临P艮值时，定义该相对应的像素为无损坏；以及，当该光感测信 号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为 一 损 坏像素。再者，本专利技术的另巨的是提出-种全像光学系统中补偿像素的方法，运用于资料平面的一区域中己知的一亮状态会出现—第数巨与—暗状态会出现一第数百，包括下列步骤计算光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素产生的亮状态数巨/G、合计算该光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素所产生—暗状态数百合当该第—数巨与该壳状态数百总合相等且该第数目与该暗状态数巨总合不相等时，定义损坏像素输出该暗状态以及，当该第一数巨与该壳状态数百合不相等且该第—数巨与该暗状态数巨总合相等时，定义该损坏像素输出该壳状态。再者，本专利技术的另百的是提出—种全像光学系统中侦测损坏像素与补偿像素的方法的方法， 运用于一资料平面的区域中已知的—壳状态会出现一第数巨，包括下列步骤:提供多数幅影像信息依序显不于该资料平面上使得该资料平面中的每个像素皆会显不该壳以及该暗的种状态依序将该显示平面上的该些幅影信皁记录于一储存媒介中利用一光侦 亮以及该暗的二种状态并使得每 一 个相素皆可以相对 应的产生大小不同的光感测信号；分别将每个像素所依序 感测产生该些幅影皆可接收素皆可以将每个像减并获逾大小不同的光感测信号进行；差值；当该光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为— 损坏像素;当该损坏素于相对应于该资料本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种全像光学系统中侦测损坏像素的方法，其特征在于，包括下列步骤提供多数幅影像信息依序显示于一资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显示一亮以及一暗的二种状态；依序将该显示平面上的该些幅影像信息记录于一储存媒介中；提供一激光束直接照射于一光侦测装置；利用该光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像信息，使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态并使得每一个相素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号；分别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值；将该光感测信号差值与一临限值进行比较；当该光感测信号差值大于该临限值时，定义该相对应的像素为无损坏；以及当该光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为一损坏像素。2.如权利要求1所述的全像光学系统中侦测损 坏像素的方法，其特征在于，其中还包括下列步骤提供-.全亮的激光束与 一 全暗的激光束昭射于该光侦装置用；当该像素可输出相对应的大振幅光感测信号时与相对应的小振幅光感测信号时，定义为该资料平面上的像素损坏以及当该像素无法输出该相对应的大振幅光感测信号时与该相对应的小振幅光感测信号时，定义为该光感装置上的像素损坏3.如权利要求i所述的全像光学系统中侦测损坏像素的方法，特征在于，其中该资料平面是为一六间光调变驱 奋。4. 如权利要求i所述的全像光学系统中侦测损坏德素的方法，特征在于，其中该储存媒介是为光聚合5. 如权利要求i所述的全像光学系统中侦测损坏像素的方法，特征在于，其中该光侦测装置是为电荷親合组件或者互补金氧化物半导体-6.种全像光学系统中补偿像素的方法，运用于资料平面的区域中已知的亮状态会出现第一数目与一暗状态会出现一第二数目，其特征在于， 包括下列步骤计算 一 光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素产生的 一 亮状态数目总合；计算该光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素所产生 一 暗状态数目总合；当该第 一 数目与该亮状态数目总合相等且该第二数百与该暗状态百总合不相等时，定义-■损坏像素输出该暗状态以及当该第数巨与...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑新平，张佳彦，
申请(专利权)人：建兴电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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