本申请涉及一种SSD坏块筛选方法、装置和电子装置，其中，该SSD坏块筛选方法包括：向待测SSD的所有存储单元写入第一数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第一数据进行比对，确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址；向待测SSD的所有存储单元写入第二数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第二数据进行比对，确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址；基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址。通过本申请，解决了相关技术中SSD坏块筛选的准确率不高的技术问题，避免了待测SSD中坏块漏检的情形，提高了SSD坏块筛选的准确率。提高了SSD坏块筛选的准确率。提高了SSD坏块筛选的准确率。
【技术实现步骤摘要】
SSD坏块筛选方法、装置和电子装置
[0001]本申请涉及数据存储领域，特别是涉及一种SSD坏块筛选方法、装置和电子装置。
技术介绍
[0002]随着信息技术的高速发展，数据信息的存储要求也在不断提高，快速且不会丢失数据的存储介质的需求越来越多。当前大部分存储介质都是以电荷的形式存储数据，可以进行擦除放电和编译充电动作。电荷可以长时间维持，以用于长期保存数据。
[0003]但是，由于存储介质中电荷偶尔会发生电荷偏移，导致产生坏块，从而在读取数据时发生错误。为了对坏块进行筛选，相关技术中对SSD的页内的位翻转总数是否超过阈值进行判断，进而确定当前块是否为坏块。但是，由于某些位中的存储值固定为0或者1，并不会随着写入的测试数据的改变而改变。例如位中的存储值固定为1时，若几次测试过程中均以1作为测试数据，则最终测试结果为该块正常。而在实际使用中，当写入数据0时，该位的存储值仍为1。因此，相关技术中对SSD坏块进行筛选的方法存在漏检的情形，导致SSD坏块筛选的准确度不高。
[0004]针对相关技术中SSD坏块筛选的准确度不高的技术问题，目前还没有提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]在本实施例中提供了一种SSD坏块筛选方法、装置和电子装置，以解决相关技术中SSD坏块筛选的准确度不高的技术问题。
[0006]第一个方面，在本实施例中提供了一种SSD坏块筛选方法，包括：
[0007]向待测SSD的所有存储单元写入第一数据；
[0008]将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第一数据进行比对，确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址；
[0009]向待测SSD的所有存储单元写入第二数据；
[0010]将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第二数据进行比对，确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址；
[0011]基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址。
[0012]在其中的一些实施例中，所述第一数据包括全零数据，所述确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址包括：
[0013]确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第一非零地址。
[0014]在其中的一些实施例中，所述确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第一非零地址之后还包括：
[0015]对所述待测SSD进行数据擦除；
[0016]向所述待测SSD的所有所述存储单元写入全零数据；
[0017]确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第二非零地址；
[0018]基于所述第一非零地址以及所述第二非零地址，确定所述第一地址。
[0019]在其中的一些实施例中，所述基于所述第一非零地址以及所述第二非零地址，确定所述第一地址包括：
[0020]依次将每个所述第一非零地址与每个所述第二非零地址进行比较，若相同，则将相同的地址确定为所述第一地址。
[0021]在其中的一些实施例中，所述第二数据包括全壹数据，所述确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址包括：
[0022]确定覆盖非壹位的所有所述存储单元的第一非壹地址。
[0023]在其中的一些实施例中，所述确定覆盖非壹位的所有所述存储单元的第一非壹地址之后还包括：
[0024]对所述待测SSD进行数据擦除；
[0025]向所述待测SSD的所有所述存储单元写入全壹数据；
[0026]确定覆盖非壹位的所有所述存储单元的第二非壹地址；
[0027]基于所述第一非壹地址以及所述第二非壹地址，确定所述第二地址。
[0028]在其中的一些实施例中，所述基于所述第一非壹地址以及所述第二非壹地址，确定所述第二地址包括：
[0029]依次将每个所述第一非壹地址与每个所述第二非壹地址进行比较，若相同，则将相同的地址确定为所述第二地址。
[0030]在其中的一些实施例中，所述基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址包括：
[0031]将所述第一地址以及所述第二地址所覆盖的所有块确定为坏块，并确定所述坏块地址。
[0032]第二个方面，在本实施例中提供了一种SSD坏块筛选装置，包括：
[0033]第一数据写入模块，用于向待测SSD的所有存储单元写入第一数据；
[0034]第一地址确定模块，用于将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第一数据进行比对，确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址；
[0035]第二数据写入模块，用于向待测SSD的所有存储单元写入第二数据；
[0036]第二地址确定模块，用于将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第二数据进行比对，确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址；
[0037]坏块地址确定模块，用于基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址。
[0038]第三个方面，在本实施例中提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行第一个方面中任一项所述的SSD坏块筛选方法。
[0039]与相关技术相比，本专利技术提供了一种SSD坏块筛选方法、装置和电子装置，其中，SSD坏块筛选方法包括：向待测SSD的所有存储单元写入第一数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第一数据进行比对，确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址；向待测SSD的所有存储单元写入第二数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第二数据进行比对，确定当前数据与所述第二数据不一致的所述
存储单元的第二地址；基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址。通过不同的第一数据以及第二数据对待测SSD进行二次坏块筛选，并获取写入后的当前数据与第一数据或者第二数据不同的存储单元地址，以避免仅通过单个测试数据对待测SSD进行检测时，坏块中的当前数据与测试数据相同，从而导致坏块漏检的情形，解决了相关技术中SSD坏块筛选的准确率不高的技术问题，避免了待测SSD中坏块漏检的情形，提高了SSD坏块筛选的准确率。
[0040]本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
附图说明
[0041]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0042]图1是本专利技术一实施例的SSD坏块筛选方法的终端硬件结构图；
[0043]图2是本专利技术一实施例的SSD坏块筛选方法的流程示意图；
[0044]图3是本专利技术另一实施例的SSD坏块筛选方法的流程示意图；
[0045]图4是本专利技术另一实施例的SSD坏块筛选方法的流程示意图；...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种SSD坏块筛选方法，其特征在于，包括：向待测SSD的所有存储单元写入第一数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第一数据进行比对，确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址；向待测SSD的所有存储单元写入第二数据；将所述待测SSD的每个存储单元的当前数据与所述第二数据进行比对，确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址；基于所述第一地址以及所述第二地址，确定所述待测SSD的坏块地址。2.根据权利要求1所述的SSD坏块筛选方法，其特征在于，所述第一数据包括全零数据，所述确定当前数据与所述第一数据不一致的所述存储单元的第一地址包括：确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第一非零地址。3.根据权利要求2所述的SSD坏块筛选方法，其特征在于，所述确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第一非零地址之后还包括：对所述待测SSD进行数据擦除；向所述待测SSD的所有所述存储单元写入全零数据；确定覆盖非零位的所有所述存储单元的第二非零地址；基于所述第一非零地址以及所述第二非零地址，确定所述第一地址。4.根据权利要求3所述的SSD坏块筛选方法，其特征在于，所述基于所述第一非零地址以及所述第二非零地址，确定所述第一地址包括：依次将每个所述第一非零地址与每个所述第二非零地址进行比较，若相同，则将相同的地址确定为所述第一地址。5.根据权利要求1所述的SSD坏块筛选方法，其特征在于，所述第二数据包括全壹数据，所述确定当前数据与所述第二数据不一致的所述存储单元的第二地址包括：确定覆盖非壹位的所有所述存储单元的第一非壹地址。6.根据权利要求5所述的SSD坏块筛选方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘新，
申请(专利权)人：浙江大华存储科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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