放射线成像设备、其控制方法以及放射线成像系统技术方案

技术编号:3584211 阅读:147 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供了一种在不增加负荷和成本的情况下能够遵循任意数据获取周期(帧率)改变指令的设备,和用于控制这种设备的方法和系统。为了实现它们,在本发明专利技术中,包括一种用于逐线地读出累积在排列成矩阵的多个像素中的电信号的区域传感器,和用于控制该区域传感器的控制单元。该区域传感器交替地按以下两种操作进行操作:用于通过在放射线的照射下进行读取来得到放射线图像数据的第一操作,和用于通过在不进行放射线照射下进行读取来得到放射线图像数据的第二操作。该控制单元在从第一操作的读取结束直到第二操作的读取结束的时段期间对用于得到放射线图像数据的周期进行切换。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及放射线成像设备、这种放射线成像设备的控制方法以 及放射线成像系统。
技术介绍
近年来,随着半导体技术的发展,使用二维排列的传感器(其中线成像设备被付诸实践并普及。在美国登记专利第6453008号中,描述了一种包括具有偏移数据 的多个偏移存储器的放射线检测器,该偏移数据是预先与多种模式(顺 序读出、像素添加、修整、高帧率以及高照射)相对应地获取的,并 用于根据对应的模式选择性地使用偏移存储器。此外,在日本专利申请特开第2004-194702号中,描述了一种适 合于收集其中预先执行了扫描模式(荧光透视法、照相法)的改变的 偏移数据的数字放射线成像设备。在荧光透视法(运动画面射线照相法)中,由于下述3个原因, 对帧率(即,用于照射X射线以获取放射线图像数据的一系列操作之 间的间隔)进行切换。作为第一个原因,提及了减少暴露于放射线的剂量。近年来,在 对X射线啄光很感兴趣、并且需要一种可以执行暴露于放射线的剂量i;用了 一种;;脉冲荧光i视法并设i荧;透:视帧率来尽^r能降低 暴露于放射线的剂量的方法。脉沖荧光透视法是一种对应于设定的帧率以脉冲形式照射x射线的荧光透视射线照相方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线成像设备,包括:用于逐线地读出累积在排列成矩阵的多个像素中的电信号的区域传感器,其中该区域传感器交替地按以下两种操作进行操作:用于通过在放射线的照射下进行读取来得到放射线图像数据的第一操作,和用于通过在不进行放射线照射下进行读取来得到放射线图像数据的第二操作;和用于控制所述区域传感器的控制单元,其中所述控制单元在从所述第一操作的读取结束直到所述第二操作的读取结束的时段期间对用于得到所述放射线图像数据的周期进行切换。

【技术特征摘要】
JP 2007-2-1 2007-023385;JP 2008-1-23 2008-0129501、一种放射线成像设备,包括用于逐线地读出累积在排列成矩阵的多个像素中的电信号的区域传感器,其中该区域传感器交替地按以下两种操作进行操作用于通过在放射线的照射下进行读取来得到放射线图像数据的第一操作,和用于通过在不进行放射线照射下进行读取来得到放射线图像数据的第二操作;和用于控制所述区域传感器的控制单元,其中所述控制单元在从所述第一操作的读取结束直到所述第二操作的读取结束的时段期间对用于得到所述放射线图像数据的周期进行切换。2、 根据权利要求1所述的放射线成像设备,该放射线成像设备 还包括用于校正所述放射线图像数据的校正单元,其中所述控制单元对 该校正单元进行控制,使得该校正单元不基于通过在从所述第一操作 的读取结束直到所述第二操作的读取结束的时段期间操作的第二操作 所得到的偏移数据来校正所述放射线图像数据。3、 根据权利要求2所述的放射线成像设备,其中, 所述控制单元对所述校正单元进行控制,使得所述校正单元对于紧接在切换所述周期之前得到的第 一放射线图像数据,基于在得到 所述第 一放射线图像数据之前所得到的第 一偏移数据来进行校正,而 对于紧接在切换所述周期之后得到的第二放射线图像数据,基于在得 到所述第二放射线图像数据之后所得到的第二偏移数据来进行校正。4、 根据权利要求3所述的放射线成像设备,其中, 所述控制单元对所述校正单元进行控制,使得所述校正单元基于所述第二偏移数据仅对所述第二放射线图像数据进行校正,而基于在 得到包括所述第 一放射线图像数据在内的其他放射线图像数据之前所 得到的偏移数据对所述其他放射线图像数据进行校正。5、 根据权利要求3所述的放射线成像设备,其中, 所述校正单元基于所述第 一偏移数据仅对所述第 一放射线图像数据进行校正,而基于在得到包括所述第二放射线图像数据在内的其进行校正。 、口 、, 、,,6、 一种放射线成像设备,包括用于逐线地读出累积在排列成矩阵的多个像素中的电信号以得 到二维数据的区域传感器,其中该区域传感器交替地按以下两种操作 进行操作用于通过在放射线的照射下进行读取来得到放射线图#^数 据的第一操作,和用于通过在不进行放射线照射下进行读取来得到放 射线图像数据的第二操作;和用于控制所述区域传感器的控制单元,其中所述控制单元在所述第二操作的时段期间将用于得到所述二维数据的周期从所述第一操作的第一周期切换到与所述第一周期不 同的第二周期。7、 根据权利要求6所述的放射线成像设备,该放射线成像^L备 还包括用于校正所述放射线图像数据的校正单元,其中所述控制单元对 该校正单元进行控制,使得该校正单元不基于通过在所述控制单元对 用于得到所述二维数据的周期进行切换的时段中进行操作的所述第二 操作所得到的偏移数据来校正所述放射线图像数据。8、 根据权利要求7所述的放射线成像设备,其中, 所述控制单元对所述校正单元进行控制,使得所述校正单元对于紧接在切换所述周期之前得到的第 一放射线图像数据,基于在得到 所述第 一放射线图像数据之前所得到的第 一偏移数据来进行校正,而 对于紧接在切换所述周期之后得到的第二放射线图像数据,基于在得 到所述第二放射线图像数据之后所得到的第二偏移数据来进行校正。9、 根据权利要求8所述的放射线成像设备,其中, 所述控制单元对所述校正单元进行控制,使得所述校正单元基于所述第二偏移数据仅对所述第二放射线图像数据进行校正,而基于在 得到包括所述第 一放射线图像数据在内的其他放射线图像数据之前所 得到的偏移数据对所述其他放射线图像数据进行校正。10、 根...

【专利技术属性】
技术研发人员:八木朋之井上仁司盐泽秀门
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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