【技术实现步骤摘要】
内部存储器的故障修复方法及设备
[0001]本公开实施例涉及半导体
,尤其涉及一种内部存储器的故障修复方法及设备。
技术介绍
[0002]内部存储器是各种计算设备的核心部件,内部存储器可以划分为多种:DRAM(dynamic random access memory,动态随机存储器)、Nand闪存等。内部存储器可以包括主阵列和冗余阵列,主阵列和冗余阵列均包括多个存储单元,主阵列的存储单元比冗余阵列的存储单元多。在主阵列的存储单元存在故障时,可以通过冗余阵列的存储单元对其进行修复。从而,主阵列的存储单元可以称为主单元,冗余阵列的存储单元可以称为冗余单元。
[0003]现有技术中,在内部存储器的生产过程中,需要对内部存储器进行性能测试,以检测出内部存储器的主单元是否故障,并通过冗余单元对所有故障单元进行修复,以使内部存储器的良率达到预期,保证内部存储器的存储性能正常。
[0004]然而,上述方式导致内部存储器的故障率较高,良率较低。
技术实现思路
[0005]本公开实施例提供一种内部存储器的故障修复方法及设备,以降低内部存储器的故障率,提高良率。
[0006]第一方面,本公开实施例提供一种内部存储器的故障修复方法,所述方法包括:
[0007]确定第一内部存储器中主阵列的第一故障单元;
[0008]确定所述第一故障单元的风险优先级;
[0009]将所述风险优先级高于或等于预先训练得到的优先级阈值的所述第一故障单元,作为第二故障单元;
[0010] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种内部存储器的故障修复方法,其特征在于,所述方法包括:确定第一内部存储器中主阵列的第一故障单元;确定所述第一故障单元的风险优先级;将所述风险优先级高于或等于预先训练得到的优先级阈值的所述第一故障单元,作为第二故障单元;对所述第二故障单元进行修复。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第二故障单元进行修复之前,还包括:将目标测试项目对应的所述第一故障单元添加到所述第二故障单元中。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第二故障单元进行修复之前,还包括:对于至少一个纠错码块,从每个所述纠错码块包括的所述第一故障单元中,选取部分第一故障单元添加到所述第二故障单元中。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定第一内部存储器中主阵列的第一故障单元,包括:在纠错功能关闭的情况下,对所述第一内部存储器中主阵列进行故障测试得到第一故障单元。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述优先级阈值的训练过程包括:初始化当前优先级阈值;根据所述当前优先级阈值确定修复第二内部存储器所需要的冗余单元数量;若所述冗余单元数量与最大冗余数量之间的绝对误差小于或等于第一预设误差,则在纠错功能打开的情况下,确定所述第二内部存储器修复后的良率;若所述良率与预设良率之间的绝对误差小于或等于第二预设误差,则将所述当前优先级阈值确定为训练得到的优先级阈值。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前优先级阈值确定修复第二内部存储器所需要的冗余单元数量,包括:确定所述第二内部存储器的主阵列中的第三故障单元,以及所述第三故障单元的风险优先级;将所述风险优先级高于或等于所述当前优先级阈值的第三故障单元,确定为第四故障单元;根据所述第四故障单元的数量确定冗余单元数量。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述第二内部存储器的主阵列中的第三故障单元,包括:在纠错功能关闭的情况下,对所述第二内部存储器的主阵列进行故障测试,得到第三故障单元。8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述第四故障单元的数量确定冗余单元数量之前,还包括:将目标测试项目对应的所述第三故障单元添加到所述第四故障单元中。9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述第四故障单元的数量确定冗
余单元数量之前,还包括:对于至少一个纠错码块,从每个所述纠错码块包括的所述第三故障单元中,选取部分第三故障单元添加到所述第四故障单元中。10.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:若所述冗余单元数量与最大冗余数量之间的绝对误差大于所述第一预设误差,则对所述当前优先级阈值进行第一调整。11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述对所述当前优先级阈值...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊世英,汪锡,吴耆贤,许家齐,曹堪宇,
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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