方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构，包括：显示模组本体，所述显示模组本体包括组装在一起的背光模组、液晶模组和盖板，所述背光模组包括铁框，所述铁框的左侧面、和右侧面和上侧面均形成有镭刻丝印线，所述镭刻丝印线距离所述盖板的底面的距离为0.6毫米至0.8毫米。本实用新型专利技术的有益效果在于：可以直观通过观察胶堆与镭刻丝印线的位置，判断点胶是否不良，方便把控点胶效果，有助于提升生产效率和良品率。有助于提升生产效率和良品率。有助于提升生产效率和良品率。

【技术实现步骤摘要】
方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构


[0001]本技术涉及显示模组
，尤其涉及一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构。

技术介绍

[0002]在一些液晶显示模组产品中，产品的左侧面、右侧面、上侧面处需要点胶以实现防水、防漏光等功能，点胶位置是在盖板与背光模组之间，由于点胶宽度窄且胶具有流动性等，点胶的宽度不好把控也不容易检验点胶效果，因此容易产生溢胶等不良，需要返工，影响生产效率和良品率。
[0003]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度。
[0005]本技术的技术方案如下：本技术提供一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构，包括：显示模组本体，所述显示模组本体包括组装在一起的背光模组、液晶模组和盖板，所述背光模组包括铁框，所述铁框的左侧面、和右侧面和上侧面均形成有镭刻丝印线，所述镭刻丝印线距离所述盖板的底面的距离为0.6毫米至0.8毫米。
[0006]进一步地，所述镭刻丝印线的宽度为0.1毫米至0.15毫米。
[0007]进一步地，所述镭刻丝印线的深度为0.03毫米至0.05毫米。
[0008]进一步地，所述镭刻丝印线为虚线。
[0009]采用上述方案，本技术的有益效果在于：可以直观通过观察胶堆与镭刻丝印线的位置，判断点胶是否不良，方便把控点胶效果，有助于提升生产效率和良品率。
附图说明
[0010]图1为本技术一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0011]以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。
[0012]请结合参阅图1，图1是本技术一实施例的显示模组的右视图，本技术提供一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构，包括：显示模组本体，所述显示模组本体包括组装在一起的背光模组、液晶模组和盖板1，所述盖板、液晶模组和背光模组依次从上至下层叠设置，所述背光模组包括铁框2，所述铁框2的左侧面、和右侧面和上侧面均形成有镭刻丝印线21，所述镭刻丝印线21距离所述盖板的底面的距离D为0.6毫米至0.8毫米。在本方案中，无需增加其他设备和材料，可以通过所述镭刻丝印线21进行对位点胶和检验，观察盖板1与铁框2之间点胶形成的胶堆是否超过所述镭刻丝印线21，从而可以
快速判断点胶效果是否合格，有助于把控点胶精度和提升检验效率。
[0013]进一步地，所述镭刻丝印线21的宽度为0.1毫米至0.15毫米。
[0014]进一步地，所述镭刻丝印线21的深度为0.03毫米至0.05毫米。
[0015]进一步地，所述镭刻丝印线21为虚线，既不影响点胶的检验，也方便提升加工效率和减少加工成本。
[0016]综上所述，本技术的有益效果在于：可以直观通过观察胶堆与镭刻丝印线21的位置，判断点胶是否不良，方便把控点胶效果，有助于提升生产效率和良品率。
[0017]以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用于限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方便检验以及可以提高侧面点胶精度的显示模组结构，其特征在于，包括：显示模组本体，所述显示模组本体包括组装在一起的背光模组、液晶模组和盖板，所述背光模组包括铁框，所述铁框的左侧面、和右侧面和上侧面均形成有镭刻丝印线，所述镭刻丝印线距离所述盖板的底面的距离为0.6毫米至0.8毫米。2.根据权利要求1所述的方便检验以及可以提高侧面点胶精...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓琴，骆志锋，罗俊，萧逸，尹智杰，
申请(专利权)人：深圳同兴达科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：