电容检测电路、芯片及电子设备制造技术

本申请提供一种电容检测电路、芯片及电子设备，该电容检测电路应用于触摸显示装置，触摸显示装置包括检测电极，电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与每个检测通道一一对应的差分电路；检测通道连接检测电极，用于接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号放大，将放大后的电容检测信号输入至差分电路；参考通道用于与阴极ELVSS连接，并生成干扰参考信号，干扰参考信号用于去除放大后的电容检测信号中的干扰信号，参考通道将干扰参考信号输入至差分电路；差分电路用于对放大后的电容检测信号和干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号，从而避免了显示面板的干扰信号对电容触控产生影响，提高了触控性能。提高了触控性能。提高了触控性能。

【技术实现步骤摘要】
电容检测电路、芯片及电子设备


[0001]本申请涉及电子技术，尤其涉及一种电容检测电路、芯片及电子设备。

技术介绍

[0002]当前，智能终端的AMOLED屏幕的使用率越来越高，AMOLED屏幕又分为硬屏和软屏，随着市场的需求，软屏的使用越来越普及。
[0003]在软屏AMOLED屏幕中，屏幕叠层变薄，其中用于感应触摸信号的驱动电极和检测电极到显示面板中的阴极ELVSS层的距离也变的很小，这就导致阴极ELVSS层与驱动电极、检测电极的耦合电容变大，显示面板的阴极ELVSS信号的干扰信号容易耦合到触控面板上，由此给触控面板带来了极大的干扰，导致触控性能较差。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种电容检测电路、芯片及电子设备，避免了显示面板的干扰信号对电容触控产生影响，提高了触控性能。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种电容检测电路，
[0006]应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极，所述电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与所述检测通道一一对应的差分电路；
[0007]所述检测通道连接所述检测电极，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号放大，将放大后的所述电容检测信号输入至所述差分电路；
[0008]所述参考通道用于与所述触摸显示装置中的阴极ELVSS层连接，并生成干扰参考信号，所述干扰参考信号用于去除放大后的所述电容检测信号中的干扰信号，所述参考通道将所述干扰参考信号输入至所述差分电路；
[0009]所述差分电路用于对放大后的所述电容检测信号和所述干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号。
[0010]在一种实施方式中，所述参考通道包括参考电容和第一放大电路；
[0011]所述参考电容的第一端通过走线与所述阴极ELVSS层连接，所述参考电容的第二端与所述第一放大电路的第二输入端连接，所述第一放大电路的第一输入端接地，所述第一放大电路的输出端输出所述干扰参考信号。
[0012]在一种实施方式中，放大后的所述电容检测信号中的干扰信号为显示面板引入所述电容检测电路中的干扰信号，所述干扰参考信号与所述干扰信号的幅值相同。
[0013]在一种实施方式中，所述触摸显示装置包括驱动电极，所述检测电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cs，所述驱动电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cd，所述驱动电极和所述检测电极之间的检测电容为Cx，所述参考电容Cc的大小满足：Cc＝Cs+(Cd*Cx)/(Cd+Cx)。
[0014]在一种实施方式中，所述检测通道包括第二放大电路；
[0015]所述第二放大电路的第一输入端接地，所述第二放大电路的第二输入端连接所述
检测电极，所述第二放大电路用于接收所述检测电极输出的电容检测信号并将所述电容检测信号放大，所述第二放大电路的输出端输出放大后的所述电容检测信号。
[0016]在一种实施方式中，所述差分电路包括第一差分放大器；
[0017]所述第一差分放大器的第一输入端连接所述参考通道的输出端，用于接收所述参考通道输出的所述干扰参考信号，所述第一差分放大器的第二连接所述检测通道的输出端，用于接收所述检测通道输出的放大后的所述电容检测信号，所述第一差分放大器的输出端输出所述去除干扰后的电容检测信号。
[0018]在一种实施方式中，还包括：第一控制电路；
[0019]所述第一控制电路用于根据所述去除干扰后的电容检测信号确定触摸位置。
[0020]在一种实施方式中，所述差分电路包括第二差分放大器；
[0021]所述第二差分放大器的第一输入端连接所述参考通道的输出端，用于接收所述参考通道输出的所述干扰参考信号，所述第二差分放大器的第二输入端连接所述检测通道的输出端，用于接收所述检测通道输出的放大后的所述电容检测信号，所述第二差分放大器的第一输出端输出所述去除干扰后的电容检测信号，所述第二差分放大器的第二输出端输出反相的所述去除干扰后的电容检测信号。
[0022]在一种实施方式中，还包括：第二控制电路；
[0023]所述第二控制电路用于根据所述去除干扰后的电容检测信号和反相的所述去除干扰后的电容检测信号的差分确定触摸位置。
[0024]第二方面，本申请提供一种芯片，包括如第一方面所述的电容检测电路。
[0025]第三方面，本申请提供一种电子设备，包括如第二方面所述的芯片。
[0026]本申请提供一种电容检测电路、芯片及电子设备，该电容检测电路应用于触摸显示装置，触摸显示装置包括检测电极，电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与每个检测通道一一对应的差分电路；检测通道连接检测电极，用于接收检测电极输出的电容检测信号，并将电容检测信号放大，将放大后的电容检测信号输入至差分电路；参考通道用于与阴极ELVSS层连接，并生成干扰参考信号，干扰参考信号用于去除放大后的电容检测信号中的干扰信号，参考通道将干扰参考信号输入至差分电路；差分电路用于对放大后的电容检测信号和干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号。通过参考通道生成干扰参考信号，再利用差分电路对放大后的电容检测信号和干扰参考信号进行差分，从而剔除放大后的电容检测信号中的干扰，避免显示面板的干扰信号影响电容触控的检测通道，提高触控检测的灵敏度和稳定性，提高了触控性能。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为本申请实施例提供的一种电容检测电路的结构示意图；
[0029]图2为本申请实施例提供的一种检测电极和阴极ELVSS层的叠层示意图；
[0030]图3为本申请实施例提供的一种电容检测电路的电路示意图；
[0031]图4为本申请实施例提供的另一种电容检测电路的电路示意图。
[0032]附图标记：
[0033]101：参考通道；
[0034]102：检测通道；
[0035]103：差分电路；
[0036]200：阴极ELVSS层；
[0037]201：纵向电极；
[0038]202：横向电极；
[0039]203：芯片；
[0040]204：引线；
[0041]301：第一放大电路；
[0042]302：第二放大电路；
[0043]303：第一差分放大器；
[0044]304：第一控制电路；
[0045]305：检测电极；
[0046]306：驱动电极；
[0047]401：第二差分放大器；
[0048]402：第二控制电路。
具体实施方式
[0本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容检测电路，其特征在于，应用于触摸显示装置，所述触摸显示装置包括检测电极，所述电容检测电路包括：参考通道、至少两个检测通道以及与所述检测通道一一对应的差分电路；所述检测通道连接所述检测电极，用于接收所述检测电极输出的电容检测信号，并将所述电容检测信号放大，将放大后的所述电容检测信号输入至所述差分电路；所述参考通道用于与所述触摸显示装置中的阴极ELVSS层连接，并生成干扰参考信号，所述干扰参考信号用于去除放大后的所述电容检测信号中的干扰信号，所述参考通道将所述干扰参考信号输入至所述差分电路；所述差分电路用于对放大后的所述电容检测信号和所述干扰参考信号进行差分，以输出去除干扰后的电容检测信号。2.根据权利要求1所述的电容检测电路，其特征在于，所述参考通道包括参考电容和第一放大电路；所述参考电容的第一端通过走线与所述阴极ELVSS层连接，所述参考电容的第二端与所述第一放大电路的第二输入端连接，所述第一放大电路的第一输入端接地，所述第一放大电路的输出端输出所述干扰参考信号。3.根据权利要求2所述的电容检测电路，其特征在于，放大后的所述电容检测信号中的干扰信号为显示面板引入所述电容检测电路中的干扰信号，所述干扰参考信号与所述干扰信号的幅值相同。4.根据权利要求3所述的电容检测电路，其特征在于，所述触摸显示装置包括驱动电极，所述检测电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cs，所述驱动电极和所述阴极ELVSS层之间的耦合电容为Cd，所述驱动电极和所述检测电极之间的检测电容为Cx，所述参考电容Cc的大小满足：Cc＝Cs+(Cd*Cx)/(Cd+Cx)。5.根据权利要求1
‑
3任一项所述的电容检测电路，其特征在于，所述检测通道包括第二放大电路；所述第二放大电路的第一输入端接地，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋宏，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：