射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及微波测量技术领域，具体公开了一种射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统，包括信号端和测量机构，测量机构包括耦合单元、处理单元、连接器和矢量网络分析仪，耦合器与信号端导线连接，连接器与耦合器远离信号端的一端导线连接，处理单元与耦合器导线连接，矢量网络分析仪分别与处理单元导线连接。以上系统的设置，能够快速且准确的对射频同轴连接器的插入损耗进行测量，在不同需求的情况下通过不同的方式对射频同轴连接器的插入损耗进行测量，同时也可进行双项测量，并对测量结构进行对比，以此使得测量的数据更具权威性。以此使得测量的数据更具权威性。以此使得测量的数据更具权威性。

【技术实现步骤摘要】
射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统


[0001]本专利技术涉及微波测量
，尤其涉及一种射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，射频同轴连接器插入损耗是指在射频同轴连接器插入时而发生的负载功率的损耗，其插入的损耗值为其它元器件插入前负载上所收到的功率与插入后同一负载上所接收到的功率的比值。
[0003]现有技术中，采用矢量网络分析仪测S参数，以此来测量射频同轴连接器的插入损耗。
[0004]但现有技术中，通过使用矢量网络分析仪不能快速准确的测量获得所有端口开路的元器件的插损，并且检测方式单一，使得测量结果不具权威性。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统，旨在解决现有技术中的使用矢量网络分析仪不能快速准确的测量获得所有端口开路的元器件的插损，并且检测方式单一，使得测量结果不具权威性的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术采用的一种射频同轴连接器插入损耗测量系统，包括信号端和测量机构，所述测量机构包括耦合单元、处理单元、连接器和矢量网络分析仪，所述耦合器与所述信号端导线连接，所述连接器与所述耦合器远离所述信号端的一端导线连接，所述处理单元与所述耦合器导线连接，所述矢量网络分析仪分别与所述处理单元导线连接。
[0007]其中，所述处理单元包括第一接收组件、第二接收组件和处理器，所述第一接收组件与所述耦合单元导线连接，所述第二接收组件与所述耦合单元导线连接，所述第一接收组件和所述第二接收组件分别与所述处理器导线连接。
[0008]其中，所述耦合单元包括第一单向耦合器和第二单向耦合器，所述第一单向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端和所述连接器之间，所述第二单向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端和所述连接器之间，所述第一接收组件与所述第一单向耦合器导线连接，所述第二接收组件与所述第二单向耦合器导线连接。
[0009]其中，所述耦合器单元包括双向耦合器，所述双向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端与所述连接器之间，所述第一接收组件和所述第二接收组件分别与所述双向耦合器导线连接。
[0010]其中，所述第一接收组件包括第一信号采集器和第一模数转换器，所述第一信号采集器与所述耦合单元导线连接，所述第一模数转换器与所述第一信号采集器导线连接，所述第一模数转换器的另一端与所述处理器导线连接；
[0011]所述第二接收组件包括第二信号采集器和第二模数转换器，所述第二信号采集器与所述耦合单元导线连接，所述第二模数转换器与所述第二信号采集器导线连接，所述第二模数转换器的另一端与所述处理器导线连接；
[0012]所述矢量网络分析仪的两个输出端分别与对应的所述第一模数转换器和所述第二模数转换器导线连接。
[0013]其中，所述处理单元还包括校准线，所述校准线的两端分别与所述第一模数转换器和所述第二模数转换器导线连接，并位于所述第一模数转换器和所述第二模数转换器之间。
[0014]其中，所述射频同轴连接器插入损耗测量系统还包括存储器和通信模块，所述存储器与所述处理器导线连接，所述通信模块与所述处理器导线连接。
[0015]其中，所述通信模块采用无线收发模块、WiFi模块、GPRS无线模块、4G模块和5G模块中的任一种。
[0016]本专利技术还提供一种射频同轴连接器插入损耗测量方法，应用于如上述所述的射频同轴连接器插入损耗测量系统，包括如下步骤：
[0017]将射频同轴连接器与所述连接器导线连接；
[0018]通过所述信号端产生和发射射频信号至射频同轴连接器；
[0019]所述第一信号采集器接收射频信号，并通过所述第一模数转换器将其转换为第一信号；
[0020]通过所述第二信号采集器接收射频信号经射频同轴连接器反射的反射信号，通过所述第二模数转换器将其转换为第二信号；
[0021]将所述处理器对第一信号和第二信号进行采集；
[0022]以此根据第一信号与第二信号之间的信号差即可快速且准确地测量出射频同轴连接器的插入损耗。
[0023]本专利技术的一种射频同轴连接器插入损耗测量方法及系统，通过采用所述信号端与所述处理单元的信号差进行测量，同时在系统中外接所述矢量网络分析仪，可以通过两种方式对射频同轴连接器的插入损耗进行测量，其中采用所述耦合单元、所述处理单元以及所述连接器的测量方式，能够快速且准确的对射频同轴连接器的插入损耗进行测量，在不同需求的情况下通过不同的方式对射频同轴连接器的插入损耗进行测量，同时也可进行双项测量，并对测量结构进行对比，以此使得测量的数据更具权威性。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1是本专利技术的射频同轴连接器插入损耗测量系统的第一实施例的结构示意图。
[0026]图2是本专利技术的射频同轴连接器插入损耗测量系统的第二实施例的结构示意图。
[0027]图3是本专利技术的射频同轴连接器插入损耗测量方法的步骤流程图。
[0028]图4是本专利技术的第二种射频同轴连接器插入损耗测量方法的步骤流程图。
[0029]101
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信号端、102
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连接器、103
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矢量网络分析仪、104
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第一单向耦合器、105
‑
第二单向耦合器、106
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第一信号采集器、107
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第一模数转换器、108
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第二信号采集器、109
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第二模数转换器、110
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校准线、111
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存储器、112
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通信模块、113
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处理器、201
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双向耦合器。
具体实施方式
[0030]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0031]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，在本专利技术的描述中，“多个”的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频同轴连接器插入损耗测量系统，包括信号端，其特征在于，还包括测量机构；所述测量机构包括耦合单元、处理单元、连接器和矢量网络分析仪，所述耦合器与所述信号端导线连接，所述连接器与所述耦合器远离所述信号端的一端导线连接，所述处理单元与所述耦合器导线连接，所述矢量网络分析仪分别与所述处理单元导线连接。2.如权利要求1所述的射频同轴连接器插入损耗测量系统，其特征在于，所述处理单元包括第一接收组件、第二接收组件和处理器，所述第一接收组件与所述耦合单元导线连接，所述第二接收组件与所述耦合单元导线连接，所述第一接收组件和所述第二接收组件分别与所述处理器导线连接。3.如权利要求2所述的射频同轴连接器插入损耗测量系统，其特征在于，所述耦合单元包括第一单向耦合器和第二单向耦合器，所述第一单向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端和所述连接器之间，所述第二单向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端和所述连接器之间，所述第一接收组件与所述第一单向耦合器导线连接，所述第二接收组件与所述第二单向耦合器导线连接。4.如权利要求2所述的射频同轴连接器插入损耗测量系统，其特征在于，所述耦合器单元包括双向耦合器，所述双向耦合器的两端分别与所述信号端和所述连接器导线连接，并位于所述信号端与所述连接器之间，所述第一接收组件和所述第二接收组件分别与所述双向耦合器导线连接。5.如权利要求3或4中任一项所述的射频同轴连接器插入损耗测量系统，其特征在于，所述第一接收组件包括第一信号采集器和第一模数转换器，所述第一信号采集器与所述耦合单元导线连接，所述第一模数转换器与所述第一信号采集器导线连...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋逸伦，
申请(专利权)人：常州市武进凤市连接器有限公司，
类型：发明
国别省市：