量子芯片测试装置、方法以及量子计算机制造方法及图纸

本申请公开了一种量子芯片测试装置、方法以及量子计算机，包括：界面终端，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片的评估结果；测试模块，用于接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；转接模块，用于将接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片、以及将所述测试结果转发至所述测试模块。本申请能够通过界面触发量子芯片的测试指令且测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。提高操作效率和用户体验。提高操作效率和用户体验。

【技术实现步骤摘要】
量子芯片测试装置、方法以及量子计算机


[0001]本申请属于量子计算领域，特别是一种量子芯片测试装置、方法以及量子计算机。

技术介绍

[0002]在现有技术中，量子芯片制备完成后，需要对量子芯片的参数进行测试，通常是由测试人员手动配置测试设备的测试参数后进行测试的。具体的，测试人员需要手动频繁设置量子测控设备的各类测试参数后人工进行测量，并频繁收集每个实验流程的测量数据后，分析测试结果，此种方式不仅费时费力，影响测试效率。

技术实现思路

[0003]本申请的目的是提供一种量子芯片测试装置、系统以及量子计算机，以解决现有技术中的不足，它能够通过界面触发芯片测试指令且测试结果通过界面可视化、提高操作效率和用户体验。
[0004]本申请技术方案如下：
[0005]本申请一方面提供一种量子芯片测试装置，包括：界面终端，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片的评估结果；测试模块，用于接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；转接模块，用于将接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片、以及将所述测试结果转发至所述测试模块。
[0006]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述测试指令包括第一测试指令或第二测试指令；其中，所述第一测试指令用于触发所述量子芯片的所有性能参数对应的所有实验流程；所述第二测试指令用于触发所述量子芯片的部分性能参数对应的实验流程。<br/>[0007]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述界面终端包括实验流程选择单元和各实验流程的实验参数配置单元；其中，所述实验流程选择单元，用于选择对所述部分性能参数进行测试的实验流程；所述实验参数配置单元，用于对所述部分性能参数对应的实验流程的实验参数进行配置。
[0008]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述界面终端还包括显示单元，所述显示单元用于显示所述评估结果。
[0009]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述测试模块包括解析单元，所述解析单元用于对所述测试指令进行解析，获得待执行的实验流程的顺序以及各所述实验流程中的所述实验参数。
[0010]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述测试模块还包括信号生成单元和信号处理单元，其中：所述信号生成单元，用于生成与所述实验参数对应的所述测试信号并输出所述测试信号至所述转接模块；所述信号处理单元，用于接收并处理所述测试结果以获得所述评估结果，以及将所述评估结果发送至所述界面终端。
[0011]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述转接模块包括多个第一信号端口，所述第一信号端口的一端电连接所述测试模块，所述第一信号端口的另一端电连接所述量子芯片。
[0012]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述第一信号端口与所述量子芯片上的第二信号端口键合连接。
[0013]如上所述的量子芯片测试装置，进一步的，所述转接模块还用于支撑和固定所述量子芯片。
[0014]本申请另一方面提供一种量子芯片测试方法，包括：接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令以及获得量子芯片的评估结果；接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片，以及将所述量子芯片反馈的基于所述测试信号的所述测试结果转发至测试模块。
[0015]本申请另一方面提供一种量子计算机，包括上述的量子芯片测试装置或使用上述的量子芯片测试方法对量子芯片进行测试。
[0016]与现有技术相比，本申请包括界面终端，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片的评估结果；测试模块，用于接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；转接模块，用于将接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片、以及将所述测试结果转发至所述测试模块。用户通过界面终端触发量子芯片的测试指令，由测试模块输出测试信号和转接模块将测试信号转发至量子芯片，共同实现对量子芯片的测试，避免了反复设置测试仪器的参数，操作简单、工作量小；并且可以在界面终端将与测试结果对应的量子芯片的评估结果直接显示，有利于用户直观的获取量子芯片的评估结果，提高测试效率。
附图说明
[0017]图1为本申请实施例提供的一种量子芯片测试装置的结构示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的一种界面终端的测试指令示意图；
[0019]图3为本申请实施例提供的一种界面终端的实验流程选择单元示意图；
[0020]图4为本申请实施例提供的一种界面终端的实验参数配置单元示意图；
[0021]图5为本申请实施例提供的一种界面终端的显示单元示意图；
[0022]图6为本申请实施例提供的一种测试模块的结构组成示意图；
[0023]图7为本申请实施例提供的一种转接模块与量子芯片的电连接示意图；
[0024]图8为本申请实施例提供的一种转接模块的结构示意图；
[0025]图9为本申请实施例提供的一种量子芯片测试方法的流程示意图。
[0026]附图标记说明：1
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界面终端，2
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测试模块，21
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解析单元，22
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信号生成单元，23
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信号处理单元，3
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转接模块，31
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第一信号端口，32
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芯片安装区，4
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量子芯片，41
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第二信号端口，5
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金属线。
具体实施方式
[0027]下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
[0028]在量子计算机领域，量子芯片是量子计算机的核心部件，就像CPU在传统计算机中的地位。随着量子计算相关技术的不断研究推进，量子芯片上的量子比特位数也在逐年增加，可以预见的是，后续会出现更大规模的量子芯片。量子芯片的性能参数非常多，每个性能参数在测试时需要通过一个或者多个实验流程，每个实验流程中都包含非常多的实验参数。
[0029]本申请专利技术人在研究初期也是根据量子芯片的不同性能参数测试需求，人工设置量子测控设备的性能参数，逐个的对量子芯片上的各个量子比特的参数进行测试和表征，工作量非常庞大，一个6比特的量子芯片，测试工作需要3
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5天。通过本申请专利技术人的不断测试总结、改进，提出了一种量子芯片的新的测试装置。
[0030]如图1所示，本申请的实施例提供了一种量子芯片测试装置，包括：界面终端1，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片4本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子芯片测试装置，其特征在于，包括：界面终端，用于接收量子芯片测试任务并发送对应的测试指令、以及用于获得量子芯片的评估结果；测试模块，用于接收所述测试指令，输出与所述测试指令对应的测试信号、以及发送所述评估结果，其中，所述评估结果通过处理所述量子芯片反馈的与所述测试信号对应的测试结果确定；转接模块，用于将接收到的所述测试信号转发至所述量子芯片、以及将所述测试结果转发至所述测试模块。2.根据权利要求1所述的量子芯片测试装置，其特征在于，所述测试指令包括第一测试指令或第二测试指令；其中，所述第一测试指令用于触发所述量子芯片的所有性能参数对应的所有实验流程；所述第二测试指令用于触发所述量子芯片的部分性能参数对应的实验流程。3.根据权利要求2所述的量子芯片测试装置，其特征在于，所述界面终端包括实验流程选择单元和各实验流程的实验参数配置单元；其中，所述实验流程选择单元，用于选择对所述部分性能参数进行测试的实验流程；所述实验参数配置单元，用于对所述部分性能参数对应的实验流程的实验参数进行配置。4.根据权利要求1所述的量子芯片测试装置，其特征在于，所述界面终端还包括显示单元，所述显示单元用于显示所述评估结果。5.根据权利要求1所述的量子芯片测试装置，其特征在于，所述测试模块包括解析单元，所述解析单元用于对所述测试指令进行解析，获得待执行的实验流程的顺序以及各所述实验流程中的所述实验参数。6.根据权利要求5所述的量...

【专利技术属性】
技术研发人员：石汉卿，张昂，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：