一种检测偏振复合片的方法及设备技术

本发明专利技术公开了一种检测偏振复合片的方法，包括如下步骤：通过光谱仪测量光源发出的光线的初始光强I

【技术实现步骤摘要】
一种检测偏振复合片的方法及设备


[0001]本专利技术涉及一种偏振复合片的检测方法，同时涉及用于实现上述检测方法的设备。

技术介绍

[0002]成像显示光路中常需要使用到偏振复合膜片，如典型的虚拟现实近眼显示系统Pancake光路(超短焦光学折叠光路)和增强现实近眼显示系统birdbath光路，若显示器出光面出射为非圆偏光，则要使用两种偏振复合片，分别如图1(a)和图1(b)所示，若显示器出光面出射为圆偏振光，则仅需要使用图1(a)所示的偏振复合片。
[0003]如图1(a)所示的第一种偏振复合片从左至右依次是线性偏振片(Polarizer,POL)、偏振分光片(Polarizing Beam Spliter,PBS)、四分之一波片(Quarter
‑
Wave Plate,QWP)和增透膜(Anti
‑
Reflector,AR)；如图1(b)所示的第二种偏振复合片从左至右依次是增透膜(Anti
‑
Reflector,AR)、四分之一波片(Quarter
‑
Wave 本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测偏振复合片的方法，其特征在于，包括如下步骤：S100，通过光谱仪测量样品台上未放置偏振复合片时光源发出的光线的初始光强I
in
；S102，通过样品台展平并固定待测量的偏振复合片；所述偏振复合片包括第一膜片和第二膜片，所述第一膜片比所述第二膜片更靠近所述光谱仪，所述第一膜片包括四分之一波片，所述第二膜片包括线性偏振片，或者，所述第二膜片包括线性偏振片和偏振分光片的组合；S104，调整偏振光检测片和偏振复合片的相对角度，不断采集透过偏振复合片的透过光强I
out
；S106，利用偏振光检测片、第一膜片和第二膜片的琼斯矩阵，建立透过光强I
out
和初始光强I
in
之间的关系式：I
out
＝I
in
τ2τf(δ,μ,β,α,γ)；其中，τ2和τ分别为偏振光检测片和偏振复合片的透过率，δ是四分之一波片的相位延迟量，α是线性偏振片的透光方向与世界坐标系中OX轴的夹角，β是第一膜片和第二膜片的透光方向之间的角度，μ是偏振光检测片和第二膜片的透光方向之间的夹角，γ是第二膜片中线性偏振片和偏振分光片的透光方向的夹角；S108，从透过光强I
out
中任意选取两个正交光强I
μ
和I
μ+π/2
，计算正交光强之和I
sum
＝I
μ
+I
μ+π/2
；S110，通过I
sum
、I
out
的关系式，计算所述四分之一波片的相位延迟量δ、所述偏振复合片的透过率τ、以及所述第一膜片和所述第二膜片的透光方向之间的角度β中的至少一者。2.如权利要求1所述的检测偏振复合片的方法，其特征在于：在步骤S106中，当第二膜片包括偏振分光片和线性偏振片的组合，且所述偏振分光片设置在所述四分之一波片和所述线性偏振片之间时，建立关系式：设置在所述四分之一波片和所述线性偏振片之间时，建立关系式：其中，τ0、τ1、τ
q
分别为所述线性偏振片、所述偏振分光片和所述四分之一波片膜片的透过率。3.如权利要求1所述的检测偏振复合片的方法，其特征在于：在步骤S106中，当第二膜片中仅含有所述线性偏振片时，建立关系式：其中，τ0、τ1、τ
q
分别为所述线性偏振片、所述偏振分光片和所述四分之一波片膜片的透过率；令γ＝0
°
、τ1＝1，简化透过光强I
out
和初始光强I
in
之间的关系式。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：程德文，侯起超，李阳，黄逸伦，王涌天，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：