本实用新型专利技术属于测试技术领域，尤其是一种电子元器件测试装置，针对现有的需要手动拿取电子元件靠近测试，容易松动偏移的问题，现提出如下方案，其包括底框和底框顶部右侧栓接的测试架，所述底框内部的中端转动连接有大齿盘，所述大齿盘表面的滑槽中滑动连接有滚轮，所述滚轮表面的轴心处铰接有滑杆，所述滑杆表面右端的孔洞铰接有滑套，所述滑套的内部滑动连接有传动杆，通过结构传动可以带动电子元件上移，利用测试架的正负电极可以对电子元件进行测试，无需使用者手动拿取靠近，而且通过活塞和气筒的配合可以在气筒和固定座的空腔中产生负压，负压通过固定座的吸孔可以对顶部的电子元件进行吸附。电子元件进行吸附。电子元件进行吸附。
【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件测试装置
[0001]本技术涉及测试
，尤其涉及一种电子元器件测试装置。
技术介绍
[0002]电子元器件在生产和维修过程中都需要进行检测，检测主要是通过带有正负电极的触点与电子元器件的电路点接触，然后通过各种检测仪器进行测试，但是目前的测试装置需要使用者手动带动电子元件或正负测试电极相互靠近进行测试，需要使用者注意力高度集中，否则容易出现错位等现象，而且电子元件容易在移动过程中松动，导致电子元件偏移，让电子元件的测试触点与仪器的触点无法接触，从而无法对电子元件进行测试，因此，本技术提出一种电子元器件测试装置，用于解决上述问题。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在需要手动拿取电子元件靠近测试，容易松动偏移的缺点，而提出的一种电子元器件测试装置。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种电子元器件测试装置，包括底框和底框顶部右侧栓接的测试架，所述底框内部的中端转动连接有大齿盘，所述大齿盘表面的滑槽中滑动连接有滚轮，所述滚轮表面的轴心处铰接有滑杆，所述滑杆表面右端的孔洞铰接有滑套，所述滑套的内部滑动连接有传动杆，所述大齿盘左侧的齿牙啮合有气筒，所述气筒的左侧与底框的内部滑动连接，所述气筒的顶端贯穿底框顶部的孔洞并栓接有固定座，所述底框内部的底端并位于气筒的底部栓接有连杆，所述连杆的顶端延伸到气筒的内部并栓接有活塞，所述活塞的表面与气筒的内部滑动连接，所述传动杆的顶端栓接有调节机构，通过结构传动可以带动电子元件上移，利用测试架的正负电极可以对电子元件进行测试，无需使用者手动拿取靠近，而且通过活塞和气筒的配合可以在气筒和固定座的空腔中产生负压，负压通过固定座的吸孔可以对顶部的电子元件进行吸附。
[0006]优选的，所述调节机构包括蜗杆、蜗轮、凸型轮、齿条和小齿轮，所述蜗杆的表面与底框的内部转动套接，所述蜗杆表面的右端与蜗轮的底部啮合，所述蜗轮的后侧与凸型轮的表面栓接，所述凸型轮的轴心处与底框的内部转动连接，所述凸型轮顶部的滑槽与齿条的底部滑动连接，所述齿条右侧顶端的齿牙与小齿轮的左侧啮合，所述小齿轮的轴心处与底框的内部转动连接，所述小齿轮的表面与传动杆的顶端栓接。
[0007]进一步地，转动蜗杆，蜗杆可以带动蜗轮顺时针转动，蜗轮可以带动凸型轮顺时针转动，凸型轮利用自身结构向上顶起齿条，齿条可以带动小齿轮顺时针转动，小齿轮可以带动传动杆向左顺时针转动。
[0008]优选的，所述滑杆的后侧滑动连接有限位框，所述限位框的后侧与底框的内部栓接。
[0009]进一步的，限位框可以对滑杆进行滑动设置，让滑杆利用滑动可以平稳的左右移
动，避免滑杆被滑套带动偏移，保障结构传动的顺畅。
[0010]优选的，所述气筒与固定座连通，所述固定座顶部的中端为吸孔结构。
[0011]进一步的，固定座的内部为空腔结构，让气筒可以与固定座连通，在气筒的内部产生负压时可以同时在固定座的空腔中产生负压，负压经过吸孔结构的传导可以在固定座的顶部产生吸力，将电子元件吸附在固定座上。
[0012]优选的，所述连杆表面的底端与气筒底端的孔洞滑动连接，所述底框内部的左侧栓接有稳定板，所述稳定板与气筒滑动连接。
[0013]进一步的，连杆与气筒滑动设置，让连杆可以在气筒的内部滑动设置，方便连杆对活塞进行固定，让气筒在活塞的表面滑动，稳定板通过滑轨可以与气筒进行滑动设置，让气筒可以平稳的上下移动，保障结构传动的顺畅。
[0014]优选的，所述齿条位于滑杆的后侧，所述齿条的后侧与底框的内部滑动连接，所述蜗杆位于气筒的后侧，所述蜗杆的左端延伸到底框的左侧。
[0015]进一步的，齿条与滑杆的位置可以避免齿条与滑杆发生碰撞干扰，保障结构传动的顺畅，齿条通过滑轨与底框滑动设置，让齿条可以平稳的上下移动，避免齿条被凸型轮带动偏移，让齿条可以带动小齿轮转动，蜗杆与气筒的结构可以避免气筒干扰到蜗杆，蜗杆的左端设置手轮，方便使用者通过手轮带动蜗杆转动。
[0016]有益效果：
[0017]1、调节机构通过传动杆可以带动滑套移动，滑套通过滑杆可以带动滚轮移动，滑轮通过大齿盘可以带动气筒移动，气筒通过固定座可以向上带动电子元件进行测试；
[0018]2、气筒在滑杆和活塞的表面滑动，从而利用活塞在气筒的内部产生吸力，并通过固定座的吸孔对电子元件进行固定；
[0019]本技术中：通过结构传动可以带动电子元件上移，利用测试架的正负电极可以对电子元件进行测试，无需使用者手动拿取靠近，而且通过活塞和气筒的配合可以在气筒和固定座的空腔中产生负压，负压通过固定座的吸孔可以对顶部的电子元件进行吸附，避免电子元件在固定座的顶部移动。
附图说明
[0020]图1为本技术提出的一种电子元器件测试装置的正视结构示意图；
[0021]图2为本技术提出的一种电子元器件测试装置的齿条后视结构示意图；
[0022]图3为本技术提出的一种电子元器件测试装置的蜗轮左视结构示意图；
[0023]图4为本技术提出的一种电子元器件测试装置的大齿盘立体示意图。
[0024]图中：1、底框；2、调节机构；21、蜗杆；22、蜗轮；23、凸型轮；24、齿条；25、小齿轮；3、测试架；4、大齿盘；5、滚轮；6、滑杆；7、滑套；8、传动杆；9、气筒；10、固定座；11、连杆；12、活塞。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0026]实施例一
[0027]参照图1
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4，一种电子元器件测试装置，包括底框1和底框1顶部右侧栓接的测试架3，底框1内部的中端转动连接有大齿盘4，大齿盘4表面的滑槽中滑动连接有滚轮5，滚轮5表面的轴心处铰接有滑杆6，滑杆6表面右端的孔洞铰接有滑套7，滑套7的内部滑动连接有传动杆8，大齿盘4左侧的齿牙啮合有气筒9，气筒9的左侧与底框1的内部滑动连接，气筒9的顶端贯穿底框1顶部的孔洞并栓接有固定座10，底框1内部的底端并位于气筒9的底部栓接有连杆11，连杆11的顶端延伸到气筒9的内部并栓接有活塞12，活塞12的表面与气筒9的内部滑动连接，传动杆8的顶端栓接有调节机构2，调节机构2与底框1转动套接，调节机构2可以带动传动杆8转动，传动杆8在滑套7的内部滑动并带动滑套7移动，滑套7可以带动滑杆6移动，滑杆6可以带动滚轮5移动，滚轮5在大齿盘4的滑槽中滑动并带动大齿盘4转动，大齿盘4可以带动气筒9移动，气筒9可以带动固定座10移动，固定座10可以带动顶部的电子元件移动，连杆11对活塞12进行固定，让活塞12在气筒9的内部移动，从而在气筒9的内部产生负压，气筒9将负压传导到固定座10的内部，固定座10通过吸孔吸住电子元件，避免电子元件偏移，通过结构传动本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试装置，包括底框(1)和底框(1)顶部右侧栓接的测试架(3)，其特征在于，所述底框(1)内部的中端转动连接有大齿盘(4)，所述大齿盘(4)表面的滑槽中滑动连接有滚轮(5)，所述滚轮(5)表面的轴心处铰接有滑杆(6)，所述滑杆(6)表面右端的孔洞铰接有滑套(7)，所述滑套(7)的内部滑动连接有传动杆(8)，所述大齿盘(4)左侧的齿牙啮合有气筒(9)，所述气筒(9)的左侧与底框(1)的内部滑动连接，所述气筒(9)的顶端贯穿底框(1)顶部的孔洞并栓接有固定座(10)，所述底框(1)内部的底端并位于气筒(9)的底部栓接有连杆(11)，所述连杆(11)的顶端延伸到气筒(9)的内部并栓接有活塞(12)，所述活塞(12)的表面与气筒(9)的内部滑动连接，所述传动杆(8)的顶端栓接有调节机构(2)。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试装置，其特征在于，所述调节机构(2)包括蜗杆(21)、蜗轮(22)、凸型轮(23)、齿条(24)和小齿轮(25)，所述蜗杆(21)的表面与底框(1)的内部转动套接，所述蜗杆(21)表面的右端与蜗轮(22)的底部啮合，所述蜗轮(22)的后侧与凸型轮...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘帮哲，刘静，谭吉涛，谭丽娟，
申请(专利权)人：永康市兴深源电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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