一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于蓝宝石晶块外观检测技术领域，具体涉及一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置；包括底座、数显百分表、和限位块，底座上具有一个基准平面，数显百分表通过支架安装在底座上，数显百分表的指针的轴线距离底座的基准平面的垂直高度H=34.3mm，限位块安装在底座上且相对基准平面凸起，限位块上具有一个背向数显百分表且与数显百分表的指针垂直的立面，该立面作为蓝宝石晶块定位面，数显百分表的读数归零时的指针的触点与蓝宝石晶块定位面对齐；将角度测量转变为距离测量，数显百分表显示直观、读数高效，能够有效提高蓝宝石晶块垂直度的测量效率。底座够稳固承托大尺寸蓝宝石晶块，取代手持测量，避免人员疲劳。避免人员疲劳。避免人员疲劳。

【技术实现步骤摘要】
一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置


[0001]本技术属于蓝宝石晶块外观检测
，具体涉及一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置。

技术介绍

[0002]蓝宝石的组成为氧化铝(Al2O3)，是由三个氧原子和两个铝原子以共价键结合而成，其晶体结构为六方晶格结构。它常被应用的切面有A
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Plane，C
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Plane及R
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Plane。由于蓝宝石的光学穿透带很宽，从近紫外光到中红外线都具有很好的透光性，因此被大量用在光学元件、红外装置、高强度镭射镜片材料及光罩材料上，它具有耐高温、抗腐蚀、高硬度、高透光性等特点，因此常被用来作为光电元件的材料，同时也成为工业中一种重要的基础材料。
[0003]随着蓝宝石产品市场的持续发展和对蓝宝石产品需求量的增加，消费类电子领域尤其是手机制造行业对蓝宝石手机盖板产品的质量与数量要求不断提高。蓝宝石手机盖板是由大尺寸蓝宝石晶块经过切割、研磨与抛光等工序加工而成。大尺寸蓝宝石晶块（棒）是通过特定的结晶工艺制备而成，其结构包括平底面和周侧面，在大尺寸蓝宝石晶块加工过程中，周侧面和平底面之间的垂直度是一项重要检测指标。在后续切割加工中，需要将若干晶棒的平底边固定住，然后进行水平切割加工，因此其垂直度结构直接影响晶向和后续加工出成品的品质。
[0004]但目前行业中测量蓝宝石晶块垂直度所使用的工具主要为角度尺，测量过程中检测人员需要手持蓝宝石晶块，使其与视线水平，同时调节角度尺进行测量与读数，由于制造手机盖板的蓝宝石晶块尺寸和重量较大，检测人员手持测量稳定性差，同时存在人员疲劳问题和产品磕碰风险，且每一块蓝宝石晶块需测量多个不同位置的垂直度，角度尺测量与读取数值的效率较低，影响产品的检测质量和检测效率，因此，需要一种能够对大尺寸蓝宝石晶块垂直度进行高效测量的装置。
[0005]现有技术中，公告号为CN206177219U的技术公开了一种快速检测垂直度的装置，包括基座，基座包括底座和立柱，立柱固定设置于底座上；支撑结构，支撑结构包括支撑环、支撑架、支撑杆以及弹簧夹，支撑结构突出设置于基座的立柱上，且支撑结构突出方向横向垂直于立柱的长度方向；百分表，百分表套接在弹簧夹中，且百分表的设置方向与支撑结构的设置方向一致。该垂直度检测装置使用时还需一个基准平面，基准平面本身的误差、被测工件在基准平面上的安装误差最终叠加在百分表的测量结果上；并且在检测蓝宝石晶块的垂直度时通过百分表的读数无法直接得出蓝宝石晶块垂直度的偏差角度。因为百分表只能得出具体的距离数据，它只能测出相对数值，不能测出绝对值，主要用于检测工件的形状和位置误差，比如，0.01mm，0.02mm等相对变动数据。对于一个边的倾斜角度还需要进行三角函数的计算，比如测量出被检测物体的垂直高度，再根据百分表上下两次的数值，计算出水平距离，再通过三角函数计算出垂直度。对于具有固定结构的蓝宝石晶棒，晶块等产品，需要快速得到垂直度的数值，使用起来就很不方便。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是提供一种测量快速高效、示数直观易读的蓝宝石晶块的垂直度测量装置。
[0007]本技术提供了如下技术方案：一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置，包括底座、数显百分表、和限位块，底座上具有一个基准平面，数显百分表通过支架安装在底座上，数显百分表的指针的轴线距离底座的基准平面的垂直高度H=34.3mm，限位块安装在底座上且相对基准平面凸起，限位块上具有一个背向数显百分表且与数显百分表的指针垂直的立面，该立面作为蓝宝石晶块定位面，数显百分表的读数归零时的指针的触点与蓝宝石晶块定位面对齐。
[0008]进一步地，支架包括立杆和百分表平台，百分表平台悬挑安装在立杆上，立杆固定在底座上。
[0009]进一步地，立杆与底座的基准平面垂直。
[0010]进一步地，底座是长方体块状，立杆、百分表平台、限位块、数显百分表以底座的宽度方向中线为轴对称设置。
[0011]与现有技术相比，本技术的优势在于：
[0012]本技术提供的一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置，将角度测量转变为距离测量，数显百分表显示直观、读数高效，能够有效提高蓝宝石晶块垂直度的测量效率。底座够稳固承托大尺寸蓝宝石晶块，取代手持测量，避免人员疲劳。相比于公告号为CN206177219U的一种快速检测垂直度的装置结构更为简化，蓝宝石晶块的定位结构（底座和限位块）和蓝宝石晶块的测量结构（立杆、数显百分表、百分表平台）集成为整体，减少了各构件之间的配合误差对蓝宝石晶块垂直度测量结果的影响，实现了快速精确测量，直接读数，快速得出晶棒倾斜度的目的。
附图说明
[0013]图1为本技术的结构示意图。
[0014]图2为数显百分表测量蓝宝石晶块垂直度原理图解。
[0015]图中：1
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底座；2
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数显百分表；3
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限位块；4
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立杆；5
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百分表平台。
具体实施方式
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]如图1所示；一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置，包括底座1、数显百分表2、和限位块3，底座1上具有一个基准平面，数显百分表2通过支架安装在底座1上，数显百分表2的指针的轴线距离底座的基准平面的垂直高度H=34.3mm，限位块3安装在底座1上且相对基准平面凸起，限位块3上具有一个背向数显百分表2且与数显百分表2的指针垂直的立面，该立面作为蓝宝石晶块定位面，数显百分表2的读数归零时的指针的触点与蓝宝石晶块定位面对齐。
[0018]支架包括立杆4和百分表平台5，百分表平台5悬挑安装在立杆4上，立杆4固定在底座1上。立杆4与底座1的基准平面垂直。
[0019]底座1是长方体块状，立杆4、百分表平台5、限位块3、数显百分表2以底座1的宽度方向中线为轴对称设置。
[0020]采用上述结构后，本技术能够将大尺寸蓝宝石晶块垂直度的角度测量转变为距离测量，测量方法简单高效。将待测量蓝宝石晶块放置于底座1的基准平面上，使晶块底部一侧边缘与限位块3的蓝宝石晶块定位面贴紧，晶块侧面与数显百分表的指针触点接触，若所测量晶块侧面与底面为标准直角，则数显百分表测量示数为“0.00”；若晶块垂直度存在偏差，晶块侧面与标准垂直面呈现夹角，数显百分表指针的位移量与标准垂直面和晶块实际侧面构成了直角三角形。如图2所示，数显百分表指针高度为H，数显百分表指针位移量为L，二者单位均为“毫米”；晶块实际侧面与标准垂直面夹角为θ，单位为“度”，则有tanθ=L/H。本技术中数显百分表指针高度为34.3mm，即H=本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大尺寸蓝宝石晶块的垂直度测量装置，其特征在于：包括底座（1）、数显百分表（2）、限位块（3），底座（1）上具有一个基准平面，数显百分表（2）通过支架安装在底座（1）上，数显百分表（2）的指针的轴线距离底座的基准平面的垂直高度H=34.3mm，限位块（3）安装在底座（1）上且相对基准平面凸起，限位块（3）上具有一个背向数显百分表（2）且与数显百分表（2）的指针垂直的立面，该立面作为蓝宝石晶块定位面，数显百分表（2）的读数归零时的指针的触点与蓝宝石晶块定位面对齐。2.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：单光宇，杨立明，
申请(专利权)人：太原源瀚科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：