探测器寿命预测方法、系统和终端技术方案

本发明专利技术涉及探测器寿命预测方法、系统和终端，包括以下步骤：采集各个探测器的原始脉冲数据；对各个探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个探测器的脉冲面积平均值；获得各个探测器的年龄数据；根据各个探测器的年龄数据及与各个探测器对应的脉冲面积平均值进行数据拟合，获得寿命预测关系；基于寿命预测关系预测待测探测器的寿命。本发明专利技术基于原始脉冲的平均面积进行分析，可以全面分析探测器脉冲群各个维度的变化趋势，从而使得探测器的寿命评估更加直观和准确。更加直观和准确。更加直观和准确。

【技术实现步骤摘要】
探测器寿命预测方法、系统和终端


[0001]本专利技术涉及探测器寿命评估的
，更具体地说，涉及一种探测器寿命预测方法、系统和终端。

技术介绍

[0002]现有核电站的核仪表测量系统(RPN)均选用中子探测器进行堆外中子能量测量。在探测器出厂前会对备件进行性能测试，并给出质量报告。
[0003]根据目前探测器的使用情况，探测器出现了快速降级老化问题，其中以源量程探测器尤为突出。源量程探测器现有的老化评估技术手段是绘制探测器的甄别阈曲线和高压坪曲线，通过曲线形状的变化进行老化评估。甄别阈曲线本质上反映的是探测器脉冲谱中高能脉冲占比的变化趋势，曲线斜率增大表征高能脉冲减少，探测器放大性能下降。该标准是目前源量程探测器老化判断的唯一标准。
[0004]甄别阈曲线中的计数率是标准脉冲计数除以时间计算而来的，标准脉冲是中子脉冲放大整形的波形，脉宽和幅值均相同，相较于原始中子脉冲丢失了幅值和面积的信息。
[0005]根据源量程探测器的工作原理，其性能将通过所产生波形的幅度与面积来表现。因此，传统的甄别阈曲线评价法只利用标准脉冲谱的变化趋势这一单一变量进行性能评估，而未对脉冲幅值和面积的变化趋势进行分析和总结，未能全面分析中子脉冲群各个维度的变化趋势，存在一定的局限性。

技术实现思路

[0006]本专利技术要解决的技术问题在于传统根据甄别阈曲线评价探测器寿命的方法存在一定局限性，导致无法精准预测寿命的问题，针对现有技术的缺陷，提供一种探测器寿命预测方法、系统和终端。
[0007]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种探测器寿命预测方法，包括以下步骤：
[0008]采集各个探测器的原始脉冲数据；
[0009]对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值；
[0010]获取各个所述探测器的年龄数据；
[0011]根据各个所述探测器的年龄数据及与各个所述探测器对应的脉冲面积平均值进行数据拟合，获得寿命预测关系；
[0012]基于所述寿命预测关系预测待测探测器的寿命。
[0013]在本专利技术所述的探测器寿命预测方法中，所述对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值包括：
[0014]对每一个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得每一个所述探测器的各个脉冲面积；
[0015]对每一个所述探测器的各个脉冲面积进行均值处理，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值。
[0016]在本专利技术所述的探测器寿命预测方法中，所述寿命预测关系为：探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系。
[0017]在本专利技术所述的探测器寿命预测方法中，所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系满足公式：
[0018]S＝a*Y+b；
[0019]其中，S为探测器的脉冲面积平均值，Y为探测器年龄，a为线性系数，b为常数。
[0020]在本专利技术所述的探测器寿命预测方法中，所述基于所述寿命预测关系对待测探测器的寿命进行预测包括：
[0021]获取所述待测探测器的脉冲群；
[0022]对所述脉冲群进行面积计算，获得所述脉冲群的面积平均值；
[0023]根据所述脉冲群的面积平均值，结合所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系，获得所述待测探测器的寿命。
[0024]本专利技术还提供一种探测器寿命预测系统，包括：
[0025]采集单元，用于采集各个探测器的原始脉冲数据；
[0026]计算单元，用于对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值；
[0027]获取单元，用于获取各个所述探测器的年龄数据；
[0028]数据拟合单元，用于根据各个所述探测器的年龄数据及与各个所述探测器对应的脉冲面积平均值进行数据拟合，获得寿命预测关系；
[0029]预测单元，用于基于所述寿命预测关系预测待测探测器的寿命。
[0030]在本专利技术所述的探测器寿命预测系统中，所述计算单元具体用于：
[0031]对每一个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得每一个所述探测器的各个脉冲面积；
[0032]对每一个所述探测器的各个脉冲面积进行均值处理，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值。
[0033]在本专利技术所述的探测器寿命预测系统中，所述寿命预测关系为：探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系。
[0034]在本专利技术所述的探测器寿命预测系统中，所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系满足公式：
[0035]S＝a*Y+b；
[0036]其中，S为探测器的脉冲面积平均值，Y为探测器年龄，a为线性系数，b为常数。
[0037]在本专利技术所述的探测器寿命预测系统中，所述预测单元具体用于：
[0038]获取所述待测探测器的脉冲群；
[0039]对所述脉冲群进行面积计算，获得所述脉冲群的面积平均值；
[0040]根据所述脉冲群的面积平均值，结合所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系，获得所述待测探测器的寿命。
[0041]本专利技术还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器
执行时实现如上所述方法的步骤。
[0042]本专利技术还提供一种终端，包括至少一个处理器；以及，与至少一个所述处理器通信连接的存储器；
[0043]其中，所述存储器存储有可被至少一个所述处理器执行的指令，所述指令被设置为用于执行上述的方法。
[0044]实施本专利技术的探测器寿命预测方法、系统和终端，具有以下有益效果：包括以下步骤：采集各个探测器的原始脉冲数据；对各个探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个探测器的脉冲面积平均值；获得各个探测器的年龄数据；根据各个探测器的年龄数据及与各个探测器对应的脉冲面积平均值进行数据拟合，获得寿命预测关系；基于寿命预测关系预测待测探测器的寿命。本专利技术基于原始脉冲的平均面积进行分析，可以全面分析探测器脉冲群各个维度的变化趋势，从而使得探测器的寿命评估更加直观和准确。
附图说明
[0045]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0046]图1是本专利技术提供的探测器寿命预测方法一实施例的流程示意图；
[0047]图2是本专利技术提供的寿命预测关系的曲线图；
[0048]图3是本专利技术提供的探测器寿命预测方法一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0049]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0050]为了解决原有根据源量程坪曲线的变化趋势判断探测器老化趋势时，存在一定局限性，无法精准预测寿命的问题，本专利技术提出了基于探测器原始脉冲幅值分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探测器寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：采集各个探测器的原始脉冲数据；对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值；获取各个所述探测器的年龄数据；根据各个所述探测器的年龄数据及与各个所述探测器对应的脉冲面积平均值进行数据拟合，获得寿命预测关系；基于所述寿命预测关系预测待测探测器的寿命。2.根据权利要求1所述的探测器寿命预测方法，其特征在于，所述对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值包括：对每一个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得每一个所述探测器的各个脉冲面积；对每一个所述探测器的各个脉冲面积进行均值处理，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值。3.根据权利要求1所述的探测器寿命预测方法，其特征在于，所述寿命预测关系为：探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系。4.根据权利要求3所述的探测器寿命预测方法，其特征在于，所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系满足公式：S＝a*Y+b；其中，S为探测器的脉冲面积平均值，Y为探测器年龄，a为线性系数，b为常数。5.根据权利要求3所述的探测器寿命预测方法，其特征在于，所述基于所述寿命预测关系对待测探测器的寿命进行预测包括：获取所述待测探测器的脉冲群；对所述脉冲群进行面积计算，获得所述脉冲群的面积平均值；根据所述脉冲群的面积平均值，结合所述探测器年龄与脉冲面积平均值的线性关系，获得所述待测探测器的寿命。6.一种探测器寿命预测系统，其特征在于，包括：采集单元，用于采集各个探测器的原始脉冲数据；计算单元，用于对各个所述探测器的原始脉冲数据进行计算，获得各个所述探测器的脉冲面积平均值；获取单元，用于获...

【专利技术属性】
技术研发人员：常宝富，季涛，蔡叶发，
申请(专利权)人：中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：