一种热释光探测器剂量现场核查方法技术

本发明专利技术提供了一种热释光探测器剂量现场核查方法，具体包括核查标准用热释光探测器的筛选，信号衰减特性测试，热释光探测器定值。本发明专利技术公开的热释光探测器剂量现场核查方法，通过使用基于热释光探测器的现场核查标准，有效控制热释光剂量测量装置的辐射性能变化趋势，保障现场测得的量值准确、可靠，可直接在现场进行测量，解决了定期送检中费时费力、时间漫长、受检定机构控制的问题。受检定机构控制的问题。受检定机构控制的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种热释光探测器剂量现场核查方法


[0001]本专利技术涉及核查标准
，尤其涉及一种热释光探测器剂量现场核查方法。

技术介绍

[0002]热释光探测器(TLD)的作用介绍：热释光探测器是利用热致发光原理记录累积辐射剂量的一种器件，由一种或多个热释光探测器与外部结构一同制成热释光剂量计，具有能量响应好、灵敏度高、受环境影响小，测读较为方便，价格低廉等优点。主要用于辐射剂量监测、航空航天、考古、科研等领域。
[0003]核查标准
技术介绍
在于热释光探测器(TLD)受到一定剂量辐照之后，会储存这部分能量，在热释光读出器测量过程中对探测器进行加热，TLD以光的形式释放这部分能量，受热时激发出的发光量与受照剂量值在一定范围内成线性关系。
[0004]目前尚无针对热释光剂量测量系统的核查标准，无法对热释光剂量测量系统进行现场核查，判断该装置的准确性等仪器性能。日常送检需将客户的热释光剂量计通过邮寄、搬运等方式送检至法定计量检定机构，对剂量计进行辐照后返回测读，将测读数据与约定值进行比较，以实现热释光剂量测量系统的辐射性能评估。
[0005]热释光剂量测量系统的送检过程复杂，且读出器一般体积庞大，不适于送检。该类设备的计量保障对专业技能要求较高，投入周期较长，日常维护需要较为专业的人员，而且不能在现场条件下保障数据的准确性和可靠性。
[0006]因此，本领域的技术人员致力于开发一种热释光探测器剂量现场核查方法，以解决上述现有技术的不足。

技术实现思路

[0007]有鉴于现有技术的上述缺陷，本专利技术所要解决的技术问题是目前现有的核查标准，无法对热释光剂量测量系统进行现场核查，热释光剂量测量系统的送检过程复杂，不能在现场条件下保障数据的准确性和可靠性问题。
[0008]为实现上述目的，本专利技术提供了一种热释光探测器剂量现场核查方法，具体包括以下步骤：
[0009]步骤1、核查标准用热释光探测器的筛选；
[0010]步骤2、信号衰减特性测试；
[0011]步骤3、热释光探测器定值；
[0012]进一步地，所述步骤1中，所述核查标准用热释光探测器的筛选，具体包括以下步骤：
[0013]步骤1
‑
1、对购置的热释光探测器外观进行检测，检测无缺损的热释光探测器予以保留；
[0014]步骤1
‑
2、热释光探测器退火，然后快速冷却，静置24h；
[0015]步骤1
‑
3、在参考辐射场中对热释光探测器辐照一定剂量值，静置24h；
[0016]步骤1
‑
4、数据读取，将得到的结果进行一致性分析，用拉伊达准则剔除异常值，将分散值<3％的热释光探测器保留；
[0017]步骤1
‑
5、重复步骤1
‑
2～1
‑
4操作多次，确认最终的核查标准用热释光探测器；
[0018]进一步地，所述步骤2中，所述信号衰减特性测试，具体包括以下步骤：
[0019]步骤2
‑
1、将筛选后的热释光探测器分组若干，在参考辐射场中对热释光探测器辐照一定剂量值；
[0020]步骤2
‑
2、辐照后放至屏蔽箱中，在辐照后的不同时间取出，进行测读；
[0021]步骤2
‑
3、通过计算公式，得到不同时间下相对于24h的剂量响应值R
x
；
[0022]步骤2
‑
4、响应值R
x
在0.98～1.02之间的探测器符合核查要求的探测器；
[0023]进一步地，所述步骤3中，所述热释光探测器定值，具体包括以下步骤：
[0024]步骤3
‑
1、将核查标准用热释光探测器按实际需求分组；
[0025]步骤3
‑
2、将每组的热释光探测器分别在相应辐射种类、能量的参考辐射场中辐照相应的剂量；
[0026]步骤3
‑
3、使用国家计量标准确定辐射场某一点处的剂量率值，
[0027][0028]式中：N
k
为经过溯源至国家基准的标准电离室的校准因子；P为测量过程中的环境气压；T为测量过程中的环境温度；P0为参考标准条件的环境气压；T0为参考标准条件的环境温度；R
k
为电离室剂量计的读数；h
p,k
(d)为空气比释动能至个人剂量当量的转换因子；
[0029]步骤3
‑
4、根据实际所需剂量，计算核查标准所应经过的辐照时间
[0030]步骤3
‑
5、在相应辐射种类及能量下对照核查标准辐照相应剂量，获得具有已知剂量值和能量的核查标准；
[0031]进一步地，所述步骤1
‑
2中，所述热释光探测器退火为常规退火；
[0032]进一步地，所述常规退火为240℃、10min；
[0033]进一步地，所述步骤1
‑
3中，所述参考辐射场包括X射线、γ射线、β射线、质子、电子；
[0034]进一步地，所述步骤1
‑
3中，所述剂量值为大于等于1mGy/1mSv；
[0035]进一步地，所述步骤2
‑
1中，所述参考辐射场包括X射线、γ射线、β射线、质子、电子；
[0036]进一步地，所述步骤2
‑
1中，所述剂量值为大于等于1mGy/1mSv；
[0037]进一步地，所述步骤2
‑
2中，所述不同时间为12h、24h、3d、7d、14d、30d、45d、60d、90d；
[0038]进一步地，所述步骤2
‑
3中，所述计算公式为
[0039]进一步地，所述步骤3
‑
1中，所述实际需求分组按照不同剂量值与不同能量进行分组，并至少保留一组本底，每组热释光探测器数量n＝10；
[0040]进一步地，所述不同剂量值为0.1mSv～10Sv；
[0041]进一步地，所述不同能量为40keV～1.25MeV；
[0042]进一步地，所述步骤3
‑
3中，所述国家计量标准包括γ射线空气比释动能(防护水
平)标准装置、中能X射线空气比释动能(防护水平)标准装置；
[0043]在本专利技术具体实施方式中，所述步骤1
‑
3中，所述参考辐射场使用γ射线；
[0044]在本专利技术另一具体的实施方式中，所述步骤1
‑
3中，所述参考辐射场使用X射线；
[0045]在本专利技术具体实施方式中，所述步骤1
‑
3中，所述剂量值为1mGy/1mSv；
[0046]在本专利技术另一具体的实施方式中，所述步骤1
‑
3中，所述剂量值为3mGy/3mSv；
[0047]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热释光探测器剂量现场核查方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤1、核查标准用热释光探测器的筛选；步骤2、信号衰减特性测试；步骤3、热释光探测器定值。2.如权利要求1所述一种热释光探测器剂量现场核查方法，其特征在于，所述步骤1中，具体包括以下步骤：步骤1
‑
1、对购置的热释光探测器外观进行检测，检测无缺损的热释光探测器予以保留；步骤1
‑
2、热释光探测器退火，然后快速冷却，静置24h；步骤1
‑
3、在参考辐射场中对热释光探测器辐照一定剂量值，静置24h；步骤1
‑
4、数据读取，将得到的结果进行一致性分析，用拉伊达准则剔除异常值，将分散值<3％的热释光探测器保留；步骤1
‑
5、重复步骤1
‑
2～1
‑
4操作多次，确认最终的核查标准用热释光探测器。3.如权利要求1所述一种热释光探测器剂量现场核查方法，其特征在于，所述步骤2中，具体包括以下步骤：步骤2
‑
1、将筛选后的热释光探测器分组若干，在参考辐射场中对热释光探测器辐照一定剂量值；步骤2
‑
2、辐照后放至屏蔽箱中，在辐照后的不同时间取出，进行测读；步骤2
‑
3、通过计算公式，得到不同时间下相对于24h的剂量响应值R
x
；步骤2
‑
4、响应值R
x
在0.98～1.02之间的探测器符合核查要求的探测器。4.如权利要求1所述一种热释光探测器剂量现场核查方法，其特征在于，所述步骤3中，具体包括以下步骤：步骤3
‑
1、将核查标准用热释光探测器按实际需求分组...

【专利技术属性】
技术研发人员：李德红，张璇，黄建微，张健，成建波，刘川凤，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：