本申请提供了一种尺寸链校核方法、校核装置和尺寸链校核系统，该方法包括：将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环；采用统计法计算所有的统计环的校核公差，得到第一校核公差；采用极值法计算所有的极值环的校核公差，得到第二校核公差；采用第三校核公差进行尺寸链校核，第三校核公差为第一校核公差和第二校核公差之和。该方法将部分组成环采用极限法计算校核公差，另一部分组成环采用统计法计算校核公差，两个校核公差之和作为校核公差进行尺寸链校核，使得零件的尺寸精度要求不高，且不要求零件的尺寸偏差严格符合正态分布，解决了现有技术中尺寸链校核方法无法满足实际生产的需求的问题。实际生产的需求的问题。实际生产的需求的问题。
【技术实现步骤摘要】
尺寸链校核方法、校核装置和尺寸链校核系统
[0001]本申请涉及尺寸链校核
，具体而言，涉及一种尺寸链校核方法、校核装置、计算机可读存储介质、处理器和尺寸链校核系统。
技术介绍
[0002]尺寸链计算是机械行业中基础的校核方法，在设计前期合理的尺寸链校核能够规避很多风险，传统的尺寸链校核方法主要为两种：极值法与统计法；两种计算方法都存在一定弊端，极值法计算结果过于保守，直接将每个公差相加，得到的目标结果过大，需要产品具备较高的精度，才能满足要求，成本较高；而统计法计算结果又过于理想，要求每个尺寸偏差均符合正态分布要求，实际生产零件尺寸偏差分布趋于正态分布，但不可能是完美的正态分布，故计算结果过小，实际生产达不到那么完美，常出现装配问题。
[0003]在
技术介绍
部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的
技术介绍
的理解，因此，
技术介绍
中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
技术实现思路
[0004]本申请的主要目的在于提供一种尺寸链校核方法、校核装置、计算机可读存储介质、处理器和尺寸链校核系统，以解决现有技术中尺寸链校核方法无法满足实际生产的需求的问题。
[0005]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种尺寸链校核方法，包括：将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环；采用统计法计算所有的所述统计环的校核公差，得到第一校核公差；采用极值法计算所有的所述极值环的校核公差，得到第二校核公差；采用第三校核公差进行尺寸链校核，所述第三校核公差为所述第一校核公差和所述第二校核公差之和。
[0006]可选地，将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环，包括：采用所述统计法计算所有的所述组成环的校核公差，得到第四校核公差；计算各所述组成环的贡献率，得到多个贡献率，所述贡献率为所述组成环的公差的平方与所述第四校核公差的平方的百分比，所述贡献率与所述组成环一一对应；将所述贡献率之和大于或者等于预定值的所述组成环确定为所述统计环，将除所述统计环以外的所述组成环确定为所述极值环，任意一个所述统计环的所述贡献率大于或者等于任意一个所述极值环的所述贡献率。
[0007]可选地，采用统计法计算所有的所述统计环的校核公差，得到第一校核公差，包括：计算各所述统计环的公差的平方和，得到第一公差平方和；计算所述第一公差平方和的平方根，得到所述第一校核公差。
[0008]可选地，将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环，包括：将尺寸偏差的分布形式为正态分布和均匀分布的所述组成环确定为所述统计环，所述正态分布为所述组成环的尺寸偏差符合正态分布，所述均匀分布为所述组成环的尺寸偏差在所述组成环
的公差允许的区间均匀分布；将公差的分布形式为极值分布的所述组成环确定为所述极值环，所述极值分布为所述组成环的尺寸偏差等于所述组成环的公差允许的区间的一个端点。
[0009]可选地，采用统计法计算所有的所述统计环的校核公差，得到第一校核公差，包括：计算各第一统计环的公差的平方和，得到第二公差平方和，所述第一统计环为所述尺寸偏差的分布形式为所述正态分布的所述组成环；计算各第二统计环的公差的平方和与修正系数的乘积，得到第三公差平方和，所述第二统计环为所述尺寸偏差的分布形式为所述均匀分布的所述组成环，所述修正系数为大于1的常数；计算所述第二公差平方和与所述第三公差平方和的和，得到第四公差平方和；计算所述第四公差平方和的平方根，得到所述第一校核公差。
[0010]可选地，采用极值法计算所有的所述极值环的校核公差，得到第二校核公差，包括：计算各所述极值环的公差之和，得到所述第二校核公差。
[0011]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种尺寸链校核装置，包括：分类单元，用于将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环；第一计算单元，用于采用统计法计算所述统计环的校核公差，得到第一校核公差；第二计算单元，用于采用极值法计算所述极值环的校核公差，得到第二校核公差；校核单元，用于采用第三校核公差进行尺寸链校核，所述第三校核公差为所述第一校核公差和所述第二校核公差之和。
[0012]根据本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的方法。
[0013]根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的方法。
[0014]根据本专利技术实施例的再一方面，还提供了一种尺寸链校核系统，包括：一个或多个处理器，存储器以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行任意一种所述的方法。
[0015]在本专利技术实施例中，上述尺寸链校核方法中，由于现有技术采用极值法或者统计法进行尺寸链校核方法，其中，极值法将所有的公差之和作为校核公差，为了满足校核要求，导致各公差要较小，要求尺寸精度较高，实际生产难以达到或者成本较高，统计法将所有的公差的平方之和的平方根作为校核公差，计算的校核公差相比极值法的校核公差小很多，尺寸精度要求不高，但是无法保证各组成环的零件的尺寸偏差严格符合正态分布，一旦有所偏差可能会导致校核通过的零件无法正常装配，本申请将部分组成环采用极限法计算校核公差，另一部分组成环采用统计法计算校核公差，两个校核公差之和作为校核公差进行尺寸链校核，使得零件的尺寸精度要求不高，且不要求零件的尺寸偏差严格符合正态分布，解决了现有技术中尺寸链校核方法无法满足实际生产的需求的问题。
附图说明
[0016]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0017]图1示出了根据本申请的一种实施例的尺寸链校核方法的流程图；
[0018]图2示出了根据本申请的一种实施例的尺寸链校核装置的示意图。
具体实施方式
[0019]应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本申请提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0020]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0021]应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。
[00本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种尺寸链校核方法，其特征在于，包括：将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环；采用统计法计算所有的所述统计环的校核公差，得到第一校核公差；采用极值法计算所有的所述极值环的校核公差，得到第二校核公差；采用第三校核公差进行尺寸链校核，所述第三校核公差为所述第一校核公差和所述第二校核公差之和。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环，包括：采用所述统计法计算所有的所述组成环的校核公差，得到第四校核公差；计算各所述组成环的贡献率，得到多个贡献率，所述贡献率为所述组成环的公差的平方与所述第四校核公差的平方的百分比，所述贡献率与所述组成环一一对应；将所述贡献率之和大于或者等于预定值的所述组成环确定为所述统计环，将除所述统计环以外的所述组成环确定为所述极值环，任意一个所述统计环的所述贡献率大于或者等于任意一个所述极值环的所述贡献率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，采用统计法计算所有的所述统计环的校核公差，得到第一校核公差，包括：计算各所述统计环的公差的平方和，得到第一公差平方和；计算所述第一公差平方和的平方根，得到所述第一校核公差。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将尺寸链中的组成环分为多个统计环和至少一个极值环，包括：将尺寸偏差的分布形式为正态分布和均匀分布的所述组成环确定为所述统计环，所述正态分布为所述组成环的尺寸偏差符合正态分布，所述均匀分布为所述组成环的尺寸偏差在所述组成环的公差允许的区间均匀分布；将公差的分布形式为极值分布的所述组成环确定为所述极值环，所述极值分布为所述组成环的尺寸偏差等于所述组成环的公差允许的区间的一个端点。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，采用统计法计算所...
【专利技术属性】
技术研发人员：万家明，孙永刚，闵忠国，王玉，宋亮亮，曹斌，
申请(专利权)人：东软睿驰汽车技术沈阳有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。