一种工业产品的质量追溯与分析方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种工业产品的质量追溯与分析方法、装置及存储介质，其中，工业产品的质量追溯与分析方法包括：获取工业产品的用于质量追溯的相关数据；根据数据，构建关于工业产品的质量图谱；根据质量图谱，进行关于工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果；根据追溯结果，进行工业产品的质量隐患排查、质量技改与服务跟进以及质量优化方向确定中的至少一个。本发明专利技术通过构建质量图谱，并基于质量图谱的关联分析、路径分析等方法进行质量追溯，以打破数据孤岛问题，提升了质量问题定位与原因追溯的效率与准确性；通过质量隐患排查、质量技改与服务跟进及质量优化方向确定，实现了工业产品的隐患预警及生产制造和售后服务上进一步的降本增效。服务上进一步的降本增效。服务上进一步的降本增效。

【技术实现步骤摘要】
一种工业产品的质量追溯与分析方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及工业产品质量追溯
，具体而言，涉及一种工业产品的质量追溯与分析方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]在工业领域，工业产品的质量问题分析与溯源排查往往是一个非常费时费力的工作。
[0003]在现有技术中，工业产品的质量追溯方法一般为成立专家组，根据企业既定质量追溯流程进行逐级排查。但这种方式对专家经验的依赖较高，缺乏智能化分析手段与方法，且由于工业制造领域内各系统数据与资源互通困难，会导致工业产品的质量追溯流程较长、追溯成本高昂。

技术实现思路

[0004]本专利技术解决的问题是：如何提升工业产品质量追溯的效率，并降低质量追溯的成本。
[0005]为解决上述问题，本专利技术提供一种工业产品的质量追溯与分析方法，包括：
[0006]获取工业产品的用于质量追溯的相关数据；
[0007]根据所述数据，构建关于所述工业产品的质量图谱；
[0008]根据所述质量图谱，进行关于所述工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果；
[0009]根据所述追溯结果，进行所述工业产品的质量隐患排查、质量技改与服务跟进以及质量优化方向确定中的至少一个。
[0010]可选地，所述数据包括所述工业产品的生产数据和售后数据。
[0011]可选地，所述根据所述数据，构建关于所述工业产品的质量图谱包括：
[0012]根据所述数据，设计质量图谱本体；
[0013]根据所述质量图谱本体，构建所述质量图谱。
[0014]可选地，所述根据所述质量图谱，进行关于所述工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果包括：
[0015]根据所述质量图谱，构建质量分析追溯模型；
[0016]向所述质量分析追溯模型输入所述质量事件，输出得到所述追溯结果。
[0017]可选地，所述向所述质量分析追溯模型输入所述质量事件，输出得到所述追溯结果包括：
[0018]对输入所述质量分析追溯模型的所述质量事件进行信息抽取；
[0019]将信息抽取得到的相应信息映射到所述质量图谱中，通过所述质量分析追溯模型进行分析追溯，得到所述追溯结果；所述追溯结果包括质量事件产生的节点与原因信息。
[0020]可选地，所述追溯结果还包括所述质量事件产生的节点与原因信息的关联信息；
所述将信息抽取得到的相应信息映射到所述质量图谱中，通过所述质量分析追溯模型进行分析追溯，得到所述追溯结果包括：
[0021]将信息抽取得到的相应信息映射到所述质量图谱中，通过所述质量分析追溯模型进行分析追溯，得到所述质量事件产生的节点与原因信息；
[0022]根据所述质量事件产生的节点与原因信息进行关联分析，得到所述关联信息。
[0023]可选地，所述质量隐患排查包括：
[0024]确定存在隐患的所述工业产品，基于存在隐患的所述工业产品进行隐患排查；
[0025]所述质量技改与服务跟进包括：
[0026]进行技术改进，并对技术改进后生产的所述工业产品采取服务跟进；
[0027]所述质量优化方向确定包括：
[0028]从所述工业产品的生产资料方面确定所述工业产品的质量优化方向。
[0029]为解决上述问题，本专利技术还提供一种工业产品的质量追溯与分析装置，包括：
[0030]数据获取单元，用于获取工业产品的用于质量追溯的相关数据；
[0031]图谱构建单元，用于根据所述数据，构建关于所述工业产品的质量图谱；
[0032]分析追溯单元，用于根据所述质量图谱，进行关于所述工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果；
[0033]分析应用单元，用于根据所述追溯结果，进行所述工业产品的质量隐患排查、质量技改与服务跟进以及质量优化方向确定中的至少一个。
[0034]为解决上述问题，本专利技术还提供一种工业产品的质量追溯与分析装置，包括存储有计算机程序的计算机可读存储介质和处理器，所述计算机程序被所述处理器读取并运行时，实现如上所述的工业产品的质量追溯与分析方法。
[0035]为解决上述问题，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器读取并运行时，实现如上所述的工业产品的质量追溯与分析方法。
[0036]本专利技术与现有技术相比，具有以下有益效果：本方法用于实现工业产品质量事件的快速智能溯源与分析。通过构建关于工业产品的质量图谱，以将相关联的工业产品的众多数据关联起来，打破了工业产品众多数据间的数据孤岛问题，便于实现工业产品从生产到销售整个链路的全流程分析、追溯，以及降低质量追溯的成本、提升质量追溯的效率；通过根据质量图谱进行质量事件的质量追溯，以采用基于质量图谱的关联分析、路径分析等方法进行质量追溯，进一步提升了质量问题定位与原因追溯的效率与准确性，并保证了追溯结果的全面性；通过进行质量隐患排查、质量技改与服务跟进以及质量优化方向确定，实现了工业产品的隐患预警以及生产制造和售后服务上进一步的降本增效。
附图说明
[0037]图1为本专利技术实施例中工业产品的质量追溯与分析方法的流程图；
[0038]图2为本专利技术实施例中步骤200的子流程图；
[0039]图3为本专利技术实施例中步骤300的子流程图；
[0040]图4为本专利技术实施例中步骤320的子流程图；
[0041]图5为本专利技术实施例中步骤322的子流程图；
[0042]图6为本专利技术实施例中工业产品的质量追溯与分析装置的结构框图。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。
[0044]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
[0045]结合图1所示，本专利技术实施例提供一种工业产品的质量追溯与分析方法，包括以下步骤：
[0046]步骤100、获取工业产品的用于质量追溯的相关数据。
[0047]具体地，本方法先通过步骤100，获取用于工业产品(工业制造产品)进行质量追溯的相关数据，如相应的生产数据、售后数据等，以便于本方法后续基于相关数据构建的质量图谱能够完整地包含工业产品的生产与售后等信息，从而为本方法后续的质量追溯提供数据支撑。
[0048]步骤200、根据数据，构建关于工业产品的质量图谱。
[0049]具体地，步骤200根据步骤100所获得的工业产品的用于质量追溯的相关数据，进行工业产品的质量图谱(即关于质量的知识图谱)的构建，为本方法后续步骤中相应的数据挖掘、分析等提供了支撑及便利。而且，通过构建质量图谱，实现了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，包括：获取工业产品的用于质量追溯的相关数据；根据所述数据，构建关于所述工业产品的质量图谱；根据所述质量图谱，进行关于所述工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果；根据所述追溯结果，进行所述工业产品的质量隐患排查、质量技改与服务跟进以及质量优化方向确定中的至少一个。2.如权利要求1所述的工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，所述数据包括所述工业产品的生产数据和售后数据。3.如权利要求1所述的工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，所述根据所述数据，构建关于所述工业产品的质量图谱包括：根据所述数据，设计质量图谱本体；根据所述质量图谱本体，构建所述质量图谱。4.如权利要求1所述的工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，所述根据所述质量图谱，进行关于所述工业产品的质量事件的质量追溯，得到追溯结果包括：根据所述质量图谱，构建质量分析追溯模型；向所述质量分析追溯模型输入所述质量事件，输出得到所述追溯结果。5.如权利要求4所述的工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，所述向所述质量分析追溯模型输入所述质量事件，输出得到所述追溯结果包括：对输入所述质量分析追溯模型的所述质量事件进行信息抽取；将信息抽取得到的相应信息映射到所述质量图谱中，通过所述质量分析追溯模型进行分析追溯，得到所述追溯结果；所述追溯结果包括质量事件产生的节点与原因信息。6.如权利要求5所述的工业产品的质量追溯与分析方法，其特征在于，所述追溯结果还包括所述质量事件产生的节点与原因信息的关联信息；所述将信息抽取得到的相应信息映射到所述质量图谱中，通过所述质量分析追溯模型进行分析追溯，得到所述追溯...

【专利技术属性】
技术研发人员：王健健，蒋华晨，韩博文，
申请(专利权)人：三一集团有限公司，
类型：发明
国别省市：