用于光谱测试的多轴调节治具制造技术

本实用新型专利技术涉及摄像头部件测试的技术领域，具体为一种用于光谱测试的多轴调节治具，包括底座，底座上转动连接有产品放置台，产品放置台的侧壁开设有定位槽，定位槽的槽底开设有贯通的通光孔；底座与产品放置台之间设有多个叠放的滑动块，底座与远离产品放置台的滑动块滑动连接，产品放置台与远离底座的滑动块转动连接，相邻滑动块滑动连接。采用本方案，以解决现有技术中无法在测试时对IR的角度进行调节的技术问题，在测试时，对IR进行角度调节以及水平面上的位置调节。及水平面上的位置调节。及水平面上的位置调节。

【技术实现步骤摘要】
用于光谱测试的多轴调节治具


[0001]本技术涉及摄像头部件测试的
，具体为一种用于光谱测试的多轴调节治具。

技术介绍

[0002]摄像头模组包括镜头、音圈马达、IR、支架、图像传感器、线路板、连接器等部件组成，其中IR是指红外截止滤光片。红外截止滤光片是利用高精密光学真空镀膜机的光学镀膜原理在光学基板上交替镀上高低折射率材料且具有一定光学特性的薄膜，实现可见光高透，近红外截止的光学滤光片，用于消除红外光线对图像成像的影响。因此为保证图像成像效果，需对IR的透过率进行测试，现有技术中通常通过专用设备进行IR透过率测试，测试时通过胶带垂直贴于设备放置台上，由于通过胶带固定，IR对位放置困难，容易出现对位不准的情况，需反复粘贴IR进行调节。同时，受限于现有设备和IR的对位固定方式，现有技术中无法在测试时对IR的角度进行调节。

技术实现思路

[0003]本技术意在提供一种用于光谱测试的多轴调节治具，以解决现有技术中无法在测试时对IR的角度进行调节的技术问题。
[0004]本技术提供如下基础方案：
[0005]用于光谱测试的多轴调节治具，包括底座，底座上转动连接有产品放置台，产品放置台的侧壁开设有定位槽，定位槽的槽底开设有贯通的通光孔。
[0006]基础方案的有益效果：定位槽的设置，便于放置待测试的IR，通过定位槽对IR进行限位，便于后续对IR进行对位。通光孔的设置，便于测试光线通过，从而实现IR透过率测试。产品放置台与底座转动连接，通过转动产品放置台对IR的角度进行调节，在IR位置不变的情况下，对IR的角度进行调节，从而对IR各个角度的透过率进行测试。
[0007]进一步，定位槽的槽向水平设置，定位槽的两端分别与产品放置台的侧壁连通。
[0008]有益效果：定位槽的两端连通产品放置台的侧壁，使得定位槽为一贯通的水平槽，测试时可夹持IR的两侧进行快速取放，实现IR的快速对位。
[0009]进一步，底座与产品放置台之间设有多个叠放的滑动块，底座与远离产品放置台的滑动块滑动连接，产品放置台与远离底座的滑动块转动连接，相邻滑动块滑动连接。
[0010]有益效果：滑动块滑动连接的设置，通过滑动块的滑动，使得产品放置台可进行多个方向的位置调节，以此实现IR片的对位对准。
[0011]进一步，滑动块的滑动方向均不同。
[0012]有益效果：滑动块的滑动方向不同，通过滑动方向的限定，在保证产品放置台位置调节范围的同时，减少滑动块的数量，降低治具成本。
[0013]进一步，滑动块的数量为两个，滑动块的滑动方向互相垂直。
[0014]有益效果：测试IR透过率时，高度通常固定，两个滑动块的滑动方向呈十字，实现
二维水平面上的位置调节，以此在保证产品放置台位置调节范围的同时，采用最少量的滑动块。
[0015]进一步，滑动块之间设有驱动部件，驱动部件包括固定块、丝杠、丝杠副，固定块和丝杠副分别设于相邻滑动块的同侧，丝杠的一端穿过丝杠副与固定块转动连接。
[0016]有益效果：驱动部件的设置，用于驱动滑动块，使得滑动块发生移动，从而调节产品放置台的位置。丝杠和丝杠副的配合使用，将丝杠的转动转化为丝杠副的直线运动，从而带动设有丝杠副的滑动块移动，以此实现滑动块的驱动。
[0017]进一步，相邻滑动块之间设有配合使用的限位块和限位槽。
[0018]有益效果：限位块和限位槽的设置，对滑动块进行限位，避免滑动过程中，滑动块之间的分离。
[0019]进一步，配合使用的限位块和限位槽之间设有导向结构。
[0020]有益效果：导向结构的设置，进一步对滑动块的滑动进行导向和限位。
[0021]进一步，导向结构包括第一导向部和第二导向部，第一导向部上开设有导向凹槽，第二导向部上设有与导向凹槽形状匹配的导向凸起，第一导向部和第二导向部分别设于限位块和限位槽。
[0022]有益效果：导向凸起和导向凹槽的设置，通过配合使用实现滑动块滑动的导向和限位，进一步提高导向和限位效果。
[0023]进一步，底座上开设有多个贯通的安装通孔。
[0024]有益效果：安装通孔的设置，使用时，将底座安装在机台上，实现治具整体的固定。
附图说明
[0025]图1为本技术用于光谱测试的多轴调节治具实施例的结构示意图；
[0026]图2为本技术用于光谱测试的多轴调节治具贴图1中A处放大示意图。
具体实施方式
[0027]下面通过具体实施方式进一步详细说明：
[0028]说明书附图中的附图标记包括：底座1、产品放置台2、定位槽3、第一滑动块4、第二滑动块5、旋转台6、限位块7、限位槽8、导向凹槽9、导向凸起10、固定块11、丝杠12、丝杠副13。
[0029]实施例
[0030]用于光谱测试的多轴调节治具，如附图1所示，包括依次设置的底座1、滑动块和产品放置台2，产品放置台2的侧壁开设有定位槽3，定位槽3的槽向水平设置，定位槽3的两端分别与产品放置台2相对的两侧壁连通。定位槽3的槽底开设有贯通的通光孔。
[0031]滑动块的数量为多个，滑动块依次叠放，多个叠放的滑动块设于产品放置台2与底座1之间，产品放置台2与远离底座1的滑动块转动连接，具体的，远离底座1的滑动块的顶部设有固定柱，固定柱的自由端通过轴承与产品放置台2的底部转动连接，在本实施例中，固定柱的自由端与轴承的内壁焊接，产品放置台2的底部与轴承的外壁焊接。
[0032]固定柱上还设有旋转台6，固定柱穿过旋转台6与旋转台6固定连接，在本实施例中，固定柱与旋转台6一体成型。在其他实施例中，旋转台6的上表面边缘开设有周向均匀分
布的刻度线，通过刻度线可得知产品放置台2的旋转角度，便于测试和记录。
[0033]相邻滑动块滑动连接，滑动块的滑动方向均不同，远离产品放置台2的滑动块与底座1滑动连接。在本实施例中，滑动块的数量为两个，滑动块的滑动方向互相垂直。
[0034]相邻滑动块之间以及远离产品放置台2的滑动块与底座1之间，设有配合使用的限位块7和限位槽8，相邻滑动块之间限位槽8的槽向垂直于滑动块与底座1之间限位槽8的槽向。
[0035]配合使用的限位块7和限位槽8之间设有导向结构。如附图2所示，导向结构包括第一导向部和第二导向部，第一导向部上开设有导向凹槽9，第二导向部上设有与导向凹槽9形状匹配的导向凸起10，第一导向部和第二导向部分别设于限位块7和限位槽8，导向凹槽9与限位槽8的槽向相同。在本实施例中，导向结构的数量为四，两导向结构设于相邻滑动块之间，两导向结构设于远离产品放置台2的滑动块与底座1之间，相邻滑动块之间导向凹槽9的槽向垂直于滑动块与底座1之间导向凹槽9的槽向。
[0036]为便于说明，将位于上方的滑动块定义为第一滑动块4，将下方的滑动块定义为第二滑动块5。第一滑动块4和第二滑动块5的底部均一体成型有限位块7，第二滑动块5和底座1的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于光谱测试的多轴调节治具，包括底座，其特征在于：底座上转动连接有产品放置台，产品放置台的侧壁开设有定位槽，定位槽的槽底开设有贯通的通光孔；定位槽的槽向水平设置，定位槽的两端分别与产品放置台的侧壁连通。2.根据权利要求1所述的用于光谱测试的多轴调节治具，其特征在于：底座与产品放置台之间设有多个叠放的滑动块，底座与远离产品放置台的滑动块滑动连接，产品放置台与远离底座的滑动块转动连接，相邻滑动块滑动连接。3.根据权利要求2所述的用于光谱测试的多轴调节治具，其特征在于：滑动块的滑动方向均不同。4.根据权利要求2所述的用于光谱测试的多轴调节治具，其特征在于：滑动块的数量为两个，滑动块的滑动方向互相垂直。5.根据权利要求2所述的用于光谱测试的多轴调节治具，其特征在于：滑动...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄宇飞，
申请(专利权)人：盛泰光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：