接口复用的芯片和芯片的调试系统技术方案

一种接口复用的芯片和芯片的调试系统，芯片包括控制器、复位信号产生单元、指令接收单元、接口复用单元、调试模块、功能模块和通用接口，通用接口用于与调试器连接，指令接收单元与通用接口连接；复位信号产生单元用于生成有效的第一复位信号和第二复位信号，第一复位信号的释放时间早于第二复位信号的释放时间；指令接收单元用于在第一复位信号释放之后且第二复位信号释放之前检测是否收到调试器发出的指令；指令接收单元在接收到指令时控制接口复用单元将通用接口与调试模块选通；指令接收单元未收到指令时，控制器控制接口复用单元将通用接口与功能模块选通。通过本发明专利技术方案无需额外的复用控制引脚，且实现调试接口与功能接口的灵活复用。口的灵活复用。口的灵活复用。

【技术实现步骤摘要】
接口复用的芯片和芯片的调试系统


[0001]本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及一种接口复用的芯片和芯片的调试系统。

技术介绍

[0002]调试是保证芯片内程序正确运行必不可少的步骤，调试器可通过调试接口下载程序，并对芯片内程序进行测试、修改。常用的调试接口有联合测试工作组(Joint Test Action Group，简称JTAG)接口，C2接口等。通常，芯片可以留有专门的引脚用于编程和调试，例如JTAG接口需要四个引脚调试，C2接口需要两个引脚调试，对于引脚总数较少的芯片来说，调试引脚的设计会造成引脚资源的浪费。另外，很多量产的电路板未保留调试接口，在调试芯片程序时，需要通过重新引线将调试接口接出来。为了节省芯片的引脚资源并在电路板上保留调试接口，可以将调试接口与功能接口复用。在将调试接口与功能接口复用时，可以通过多路选择器选择使用调试接口或者功能接口，然而在多路选择器选择功能接口后，外部调试器无法控制多路选择器来选择调试接口，会造成由于调试器无法连接调试接口而无法调试的问题。
[0003]为解决该问题，在现有技术中，一种方法是通过复用控制引脚的电平信号和复用控制寄存器是否收到调试模式的触发指令，来决定信号复用单元选择功能接口信号还是调试接口信号，以选择使用功能接口或者调试接口，其中，调试模式的触发指令由用户通过按键、拨动开关或菜单选择等方式发出。然而，该方法需要额外的复用控制引脚。
[0004]另一种方法是将串行接口与调试接口复用，在串行接口接收到特殊指令格式的仿真调试切换指令时，将串行通信信号识别成仿真调试信号，其中，串行接口可以是串行外设接口(Serial Peripheral Interface，简称SPI)或异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，简称UART)串行接口。然而该方法中的调试接口只能与特定的功能模块的接口进行复用，在应用上具有一定的局限性。
[0005]综上，现有技术中将调试接口与功能接口复用时，存在以下问题：(1)需要额外的复用控制引脚；(2)只能与特定的功能模块进行复用，应用上比较局限。

技术实现思路

[0006]本专利技术解决的技术问题是如何在不额外设置复用控制引脚的前提下将调试接口与功能接口灵活复用。
[0007]为解决上述问题，本专利技术实施例提供了一种接口复用的芯片，所述芯片包括控制器、复位信号产生单元、指令接收单元、接口复用单元、调试模块、功能模块和通用接口，所述通用接口用于与调试器连接，所述指令接收单元与所述通用接口连接，以接收所述调试器发送的指令；所述复位信号产生单元用于生成有效的第一复位信号和第二复位信号，并且所述第一复位信号的释放时间早于所述第二复位信号的释放时间，所述释放指的是信号从有效转为无效；所述指令接收单元用于检测所述第一复位信号和所述第二复位信号，并在所述第一复位信号释放之后且所述第二复位信号释放之前检测是否收到所述调试器发
出的指令；所述接口复用单元的控制端分别与所述指令接收单元和所述控制器连接，在所述指令接收单元或所述控制器的控制下，所述接口复用单元将所述通用接口与所述调试模块或所述功能模块选通；其中，所述指令接收单元在接收到所述指令时，所述指令接收单元控制所述接口复用单元将所述通用接口与所述调试模块选通；所述指令接收单元未收到所述指令时，所述控制器控制所述接口复用单元将所述通用接口与所述功能模块选通。
[0008]可选的，在控制所述接口复用单元时，所述指令接收单元的优先级高于所述控制器的优先级。
[0009]可选的，所述指令接收单元还用于检测是否收到有效的第一复位信号，所述指令接收单元在检测收到有效的第一复位信号时复位。
[0010]可选的，有效的第二复位信号用于复位所述芯片中除所述指令接收单元之外的其他电路单元中的至少一个。
[0011]可选的，所述第一复位信号和/或第二复位信号为低电平信号时表示所述第一复位信号和/或第二复位信号有效。
[0012]可选的，所述复位信号产生单元用于在所述芯片上电之后生成有效的第一复位信号和第二复位信号。
[0013]可选的，所述芯片上电后，所述接口复用单元将所述通用接口与所述调试模块选通。
[0014]可选的，所述指令接收单元还用于在检测收到所述指令之后向所述调试器返回应答信号。
[0015]可选的，所述调试模块接口包括JTAG接口和/或C2接口。
[0016]本专利技术实施例还提供一种芯片的调试系统，所述调试系统包括上述接口复用的芯片，以及调试器。
[0017]与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有以下有益效果：
[0018]本专利技术提出的接口复用的芯片通过指令接收单元在复位期间(也具体而言，在第一复位信号释放和第二复位信号释放之间的时间间隔)接收调试器发送的指令，若复位期间指令接收单元未接收到指令，控制器控制接口复用单元选择调试模块的接口或功能模块的接口；若复位期间指令接收单元接收到指令，则指令接收单元控制接口复用单元选择调试模块的接口。其中，调试器不发送指令或者发送的指令格式不正确，或者指令内容不匹配等都属于指令接收单元未接收到指令的情况，不会触发指令接收单元控制接口复用单元选择调试模块的接口。本专利技术对功能模块以及功能模块的接口不做任何限制，因为无论控制器控制接口复用单元选择哪个功能模块的接口后，都能通过复位期间调试器发送指令的方式，使得接口复用单元重新选择调试模块的接口，直到再次复位。也即，本专利技术将调试接口与功能接口复用时，调试模块可以与任何功能模块进行接口复用，打破传统接口复用中的限制。另外，上述指令在复位期间通过通用接口接收，无需额外的复用控制引脚，该通用接口可以是芯片任意可用的接口，达到节约引脚资源的目的。
附图说明
[0019]图1为本专利技术实施例的第一种接口复用的芯片的结构示意图；
[0020]图2为本专利技术实施例的一种复位信号的示意图；
[0021]图3为本专利技术实施例的一种调试器与指令接收单元之间的数据传输示意图；
[0022]图4为本专利技术实施例的一种芯片的调试系统的具体结构示意图；
[0023]图5为本专利技术实施例的另一种芯片的调试系统的具体结构示意图。
具体实施方式
[0024]本领域技术人员应当理解，JTAG接口采用四线串行通信协议。JTAG接口的四根信号线包含测试模式选择(Test Mode Selection，简称TMS)信号，测试时钟(Testing Clock，简称TCK)输入信号，测试数据输入(Test Data Input，简称TDI)信号以及测试数据输出(Test Data Output，简称TDO)信号。含有JTAG接口的芯片内部有一个测试访问口(Test Access Port，简称TAP)控制器。TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。数据保存到数据寄存器中，指令保存到指令寄存器中。
[0025]C2接口采用两本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接口复用的芯片，其特征在于，所述芯片包括控制器、复位信号产生单元、指令接收单元、接口复用单元、调试模块、功能模块和通用接口，所述通用接口用于与调试器连接，所述指令接收单元与所述通用接口连接，以接收所述调试器发送的指令；所述复位信号产生单元用于生成有效的第一复位信号和第二复位信号，并且所述第一复位信号的释放时间早于所述第二复位信号的释放时间，所述释放指的是信号从有效转为无效；所述指令接收单元用于检测所述第一复位信号和所述第二复位信号，并在所述第一复位信号释放之后且所述第二复位信号释放之前检测是否收到所述调试器发出的指令；所述接口复用单元的控制端分别与所述指令接收单元和所述控制器连接，在所述指令接收单元或所述控制器的控制下，所述接口复用单元将所述通用接口与所述调试模块或所述功能模块选通；其中，所述指令接收单元在接收到所述指令时，所述指令接收单元控制所述接口复用单元将所述通用接口与所述调试模块选通；所述指令接收单元未收到所述指令时，所述控制器控制所述接口复用单元将所述通用接口与所述功能模块选通。2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，在控制所述接口复用单元时，所述指令接收单元的优先级...

【专利技术属性】
技术研发人员：张志仓，孙永琪，仲雨，
申请(专利权)人：上海磐启微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：