一种按键检测电路及检测方法技术

技术编号:38235389 阅读:10 留言:0更新日期:2023-07-25 18:01
本发明专利技术涉及电路检测技术领域,具体涉及一种按键检测电路及检测方法;一种按键检测电路,包括,检测电路,设置于检测芯片的内部,用于检测自所述检测芯片的GPIO接口接收到的按键输入状态;输入电路,与所述芯片的GPIO接口电性连接,用于提供给用户进行按键操作;优点:在按键个数少于15个的情况下节省GPIO资源,解决了组合按键的冲突,且使用成本更低。且使用成本更低。且使用成本更低。

【技术实现步骤摘要】
一种按键检测电路及检测方法


[0001]本专利技术涉及电路检测
,具体涉及一种按键检测电路及检测方法。

技术介绍

[0002]单片机按键可应用于医疗设备、家用电器、工业控制、消费类电子等各种需要按键功能的场景;当前电子产品提供给客户的应用接口日趋复杂和丰富,其中GPIO(GeneralPurpose Input Output,通用输入输出)接口使用更为广泛;
[0003]现有技术在按键个数少于15个的情况下浪费GPIO资源,为不同按键方式实现需要消耗的GPIO资源。普通单键电路一个GPIO仅能检测识别一个按键状态,GPIO利用率低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于,提供一种按键检测电路及检测方法,解决以上技术问题;
[0005]本专利技术所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:
[0006]一种按键检测电路,包括,
[0007]检测电路,设置于检测芯片的内部,用于检测自所述检测芯片的GPIO接口接收到的按键输入状态;
[0008]输入电路,与所述芯片的GPIO接口电性连接,用于提供给用户进行按键操作。
[0009]优选地,所述检测电路包括:
[0010]第一开关,所述第一开关的一端连接系统电源,另一端通过上拉电阻连接至第一节点,所述第一节点还接入GPIO接口;
[0011]第二开关,所述第二开关的一端接地,另一端通过下拉电阻连接所述第一节点。
[0012]优选地,所述输入电路包括:
[0013]第一按键,所述第一按键的一端连接至第二节点,另一端通过第一电阻连接至系统电源,所述第二节点电性连接GPIO接口;
[0014]第二按键,所述第二按键的一端连接所述第二节点,另一端通过第二电阻接地。
[0015]优选地,所述第一电阻和所述第二电阻的阻值满足:
[0016][0017]其中,
[0018]V
IH
用于表示GPIO输入高电平的临界值;
[0019]VCC用于表示系统电源的输入电压;
[0020]R1用于表示所述第一电阻的阻值;
[0021]R2用于表示所述第二电阻的阻值。
[0022]优选地,所述输入电路还包括:
[0023]第三电阻,所述第三电阻连接在系统电源和所述第二节点之间,并和所述第一电阻和所述第一按键并联。
[0024]优选地,所述输入电路还包括:
[0025]第四电阻,所述第四电阻连接在所述第二节点和接地端之间,并和所述第二电阻和所述第二按键并联。
[0026]优选地,所述输入电路还包括:
[0027]第三电阻,所述第三电阻连接在系统电源和所述第二节点之间,并和所述第一电阻和所述第一按键并联;
[0028]所述第三电阻和所述第四电阻的阻值满足:
[0029]R4>>R3>>R1>>R
up
=R
down
>>R2[0030]R1用于表示所述第一电阻的阻值;
[0031]R2用于表示所述第二电阻的阻值;
[0032]R3用于表示所述第三电阻的阻值;
[0033]R4用于表示所述第四电阻的阻值;
[0034]R
up
用于表示所述上拉电阻的阻值;
[0035]R
down
用于表示所述下拉电阻的阻值。
[0036]优选地,所述第一电阻和所述第二电阻的阻值满足:
[0037][0038]其中,
[0039]V
IL
用于表示GPIO输入低电平的临界值;
[0040]VCC用于表示系统电源的输入电压;
[0041]R1用于表示所述第一电阻的阻值;
[0042]R2用于表示所述第二电阻的阻值。
[0043]优选地,所述输入电路还包括:
[0044]第三电阻,所述第三电阻连接在系统电源和所述第二节点之间,并和所述第一电阻和所述第一按键并联;
[0045]所述第三电阻和所述第四电阻的阻值满足:
[0046]R3>>R4>>R2>>R
up
=R
down
>>R1[0047]R1用于表示所述第一电阻的阻值;
[0048]R2用于表示所述第二电阻的阻值;
[0049]R3用于表示所述第三电阻的阻值;
[0050]R4用于表示所述第四电阻的阻值;
[0051]R
up
用于表示所述上拉电阻的阻值;
[0052]R
down
用于表示所述下拉电阻的阻值。
[0053]一种按键检测方法,应用于所述的按键检测电路;
[0054]所述按键检测方法包括:
[0055]步骤A1,断开所述检测芯片内部的第一开关和第二开关,所述检测芯片检测外部的按键输入状态:若外部的按键输入状态为低电平,则转向步骤A2;
[0056]若外部的按键输入状态为高电平,则转向步骤A3;
[0057]步骤A2,闭合所述检测芯片内部的第一开关,所述检测芯片检测外部的按键输入
状态:
[0058]若外部的按键输入状态为低电平,则所述检测芯片输出第二按键被按下的检测结果;
[0059]若外部的按键输入状态为高电平,则所述检测芯片输出没有按键被按下的检测结果;
[0060]步骤A3,断开所述检测芯片内部的第一开关,闭合所述检测芯片内部的第二开关,所述检测芯片检测外部的按键输入状态:
[0061]若外部的按键输入状态为低电平,则所述检测芯片输出第一按键和第二按键被同时按下的检测结果;
[0062]若外部的按键输入状态为高电平,则所述检测芯片输出第一按键被按下的检测结果。
[0063]另一种按键检测方法,应用于以上任意一项所述的按键检测电路;
[0064]所述按键检测方法包括:
[0065]步骤B1,断开所述检测芯片内部的第一开关和第二开关,所述检测芯片检测外部的按键输入状态:若外部的按键输入状态为低电平,则转向步骤B2;
[0066]若外部的按键输入状态为高电平,则转向步骤B3;
[0067]步骤B2,闭合所述检测芯片内部的第一开关,所述检测芯片检测外部的按键输入状态:
[0068]若外部的按键输入状态为低电平,则所述检测芯片输出第二按键被按下的检测结果;
[0069]若外部的按键输入状态为高电平,则所述检测芯片输出第一按键和第二按键被同时按下的检测结果;
[0070]步骤B3,断开所述检测芯片内部的第一开关,闭合所述检测芯片内部的第二开关,所述检测芯片检测外部的按键输入状态:
[0071]若外部的按键输入状态为低电平,则所述检测芯片输出没有按键被按下的检测结果;
[0072]若外部的按键输入状态为高电平,则所述检测芯片输出第一按键被按下的检测结果。
[0073]有益效果:由于采用以上技本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种按键检测电路,其特征在于,包括,检测电路,设置于检测芯片的内部,用于检测自所述检测芯片的GPIO接口接收到的按键输入状态;输入电路,与所述GPIO接口电性连接,用于提供给用户进行按键操作。2.根据权利要求1所述的按键检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:第一开关,所述第一开关的一端连接系统电源,另一端通过上拉电阻连接至第一节点,所述第一节点还接入所述GPIO接口;第二开关,所述第二开关的一端接地,另一端通过下拉电阻连接所述第一节点。3.根据权利要求2所述的按键检测电路,其特征在于,所述输入电路包括:第一按键,所述第一按键的一端连接至第二节点,另一端通过第一电阻连接至所述系统电源,所述第二节点电性连接所述GPIO接口;第二按键,所述第二按键的一端连接所述第二节点,另一端通过第二电阻接地。4.根据权利要求3所述的按键检测电路,其特征在于,所述第一电阻和所述第二电阻的阻值满足:其中,V
IH
用于表示GPIO输入高电平的临界值;VCC用于表示系统电源的输入电压;R1用于表示所述第一电阻的阻值;R2用于表示所述第二电阻的阻值。5.根据权利要求3所述的按键检测电路,其特征在于,所述输入电路还包括:第三电阻,所述第三电阻连接在系统电源和所述第二节点之间,并和所述第一电阻和所述第一按键并联。6.根据权利要求3或5所述的按键检测电路,其特征在于,所述输入电路还包括:第四电阻,所述第四电阻连接在所述第二节点和接地端之间,并和所述第二电阻和所述第二按键并联。7.根据权利要求6所述的按键检测电路,其特征在于,所述输入电路还包括:第三电阻,所述第三电阻连接在所述系统电源和所述第二节点之间,并和所述第一电阻和所述第一按键并联;所述第三电阻和所述第四电阻的阻值满足:R4>>R3>>R1>>R
up
=R
down
>>R2R1用于表示所述第一电阻的阻值;R2用于表示所述第二电阻的阻值;R3用于表示所述第三电阻的阻值;R4用于表示所述第四电阻的阻值;R
up
用于表示所述上拉电阻的阻值;R
down
用于表示所述下拉电阻的阻值。8.根据权利要求3所述的按键检测电路,其特征在于,所述第一电阻和所述第二电阻的
阻值满足:其中,V
IL
用于表示所述GPIO接口的输入低电平的临界值;VCC用于表示系统电源的输入电压;R1用于表示所述第一电阻的阻值;R2用于表示所述第二电阻的阻值。9.根据权利要求6所述的按键检测电路,其特征在于,所述输入电路还包括:第三电阻,所述第三电阻连接在系统...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐望成林建安李泽民
申请(专利权)人:上海磐启微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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