一种半导体激光器可靠性测试系统技术方案

本发明专利技术属于半导体激光器技术领域，公开了一种半导体激光器可靠性测试系统，包括：传输设备，所述传输设备用于运输半导体激光器，完成流水式传动；测试设备，所述测试设备横架于传输设备上，用于测试半导体激光器在不同温度环境下的工作可靠性；固定架，所述固定架安装于传输设备上，用于安装固定半导体激光器。本发明专利技术，针对大批量的半导体激光器，能够形成自动化流水线式测试，替代了船体的抽样测试方式，确保了整批半导体传感器的出厂质量，保证工业级的半导体激光器在使用过程中的可靠性与安全性，提高了对半导体激光器的检测效率并降低了测试成本。降低了测试成本。降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器可靠性测试系统


[0001]本专利技术涉及半导体激光器
，更具体地说，涉及一种半导体激光器可靠性测试系统。

技术介绍

[0002]半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器。由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊。常用工作物质有砷化镓(GaAs)、硫化镉(CdS)、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等。激励方式有电注入、电子束激励和光泵浦三种形式。半导体激光器件，可分为同质结、单异质结、双异质结等几种。同质结激光器和单异质结激光器在室温时多为脉冲器件，而双异质结激光器室温时可实现连续工作。随着我国半导体激光器的发展，对半导体激光器的可靠性要求越来越高。因此在生产过程中对半导体激光器的可靠性测试就很有必要。
[0003]其中关于半导体激光器在高低温的环境中工作的光功率稳定性的测试方法，一直是采用芯片筛选法和客户终端的送样检测为主，这样的检测周期长和成本高，还会出现很多不确定的影响因素，使得生产过程不能进行有效的管控，抽样方式会导致对大批量的半导体激光器测试不全面，唯一方式就是增加抽样基数，不但会使得半导体激光器的测试时长过长，且仍然无法解决测试不全面的问题，故而提出了一种半导体激光器可靠性测试系统，用以克服上述缺陷。

技术实现思路

[0004]针对
技术介绍
中提到的问题，本专利技术的目的在于提供一种半导体激光器可靠性测试系统。
[0005]为解决上述问题，本专利技术采用如下的技术方案。
[0006]一种半导体激光器可靠性测试系统，包括：
[0007]传输设备，所述传输设备用于运输半导体激光器，完成流水式传动；
[0008]测试设备，所述测试设备横架于传输设备上，用于测试半导体激光器在不同温度环境下的工作可靠性；
[0009]固定架，所述固定架安装于传输设备上，用于安装固定半导体激光器；
[0010]供电装置，所述供电装置用于连接固定架上的半导体激光器的电源插口，为半导体激光器提供工作电流；
[0011]控制面板，所述控制面板用于接收测试设备的检测数据，并对检测数据进行整理计算，从而判断半导体激光器的可靠性；
[0012]提醒装置，受控制面板的控制，测试出现不合格半导体激光器时，工作提醒测试人员。
[0013]作为上述技术方案的进一步描述：
[0014]所述测试设备分为低温测试单元、常温测试单元与高温测试单元，所述低温测试
单元、常温测试单元与高温测试单元均包含有光功率测试仪与电流检测仪，所述光功率测试仪与电流检测仪均与控制面板电性连接。
[0015]作为上述技术方案的进一步描述：
[0016]所述测试设备包含有三个测试箱，所述低温测试单元、常温测试单元与高温测试单元分别位于测试箱的内侧，两侧的所述测试箱的内侧均固定安装有隔板，所述测试箱的内侧通过隔板分割为检测区与两个缓冲区，所述检测区位于两个缓冲区之间，所述隔板上固定安装有制冷片，左侧测试箱内的制冷片制冷面朝下延伸至检测区内，右侧测试箱内的制冷片制冷面朝上，发热面延伸至检测区内，所述光功率测试仪安装于检测区的内部。
[0017]作为上述技术方案的进一步描述：
[0018]所述检测区与左侧的缓冲区相连通，所述隔板的顶部固定安装有收集罩，所述收集罩通过导管与右侧缓冲区的内部相连通，所述检测区与右侧缓冲区之间安装有隔温板，所述收集罩的背面开设有进风口。
[0019]作为上述技术方案的进一步描述：
[0020]所述供电装置包含有测试电源、三个电动推杆与三个电源插头，三个所述电动推杆分别固定安装于三个测试箱上，所述电动推杆位于测试箱内部的一端与电源插头固定连接，所述电源插头与测试电源之间通过导线电性连接，所述电动推杆与控制面板电性连接。
[0021]作为上述技术方案的进一步描述：
[0022]所述测试箱的内部固定安装有压力传感器，所述固定架的正面一体成型有弧形凸起，弧形凸起与压力传感器的接触位置和半导体激光器的电源插口与电源插头的对接位置相匹配。
[0023]作为上述技术方案的进一步描述：
[0024]所述控制面板包含有数据处理模块、对比模块、存储模块、数据接收模块与控制模块；所述数据处理模块用于处理光功率测试仪与电流检测仪的测试数据，并进行计算，根据压力传感器的压力数据判定固定架上的半导体激光器移动到位，控制电动推杆推动电源插头与半导体激光器的电源插口对接，并控制制冷片的工作温度；所述对比模块对比数据处理模块计算的测试数据结果与合格数据判断半导体激光器是否合格可靠，并将判断结构上传数据处理模块；所述存储模块包含有缓存单元与测试数据存储单元，缓存单元用于缓存三个光功率测试仪与三个电流检测仪的测试数据，并将每个半导体激光器的测试数据分组，测试数据存储单元用于保存每组半导体激光器的测试数据；所述数据接收模块用于接收光功率测试仪、电流检测仪与压力传感器的测试数据，并上传数据处理模块；所述控制模块用于接收数据处理模块的控制指令并控制制冷片、电动推杆与传输设备的工作。
[0025]作为上述技术方案的进一步描述：
[0026]所述提醒装置包含有显示模块与声光报警器，所述显示模块用于显示数据处理模块所处理的各项数据，所述声光报警器用于提醒测试人员出现不合格的半导体激光器。
[0027]相比于现有技术，本专利技术的优点在于：
[0028]本方案，通过将各个半导体激光器安装在传输设备上的固定架进行固定，然后经过传输运动经过测试设备，并利用供电装置对半导体激光器进行工作，利用测试设备模拟不同温度环境下半导体激光器的工作数据，并将数据上传至控制面板进行计算，判断各个半导体激光器的工作可靠性，而当出现判定不可靠的半导体激光器时，控制面板控制提醒
装置进行报警提醒，以便于测试人员及时筛选出不合格的半导体激光器，针对大批量的半导体激光器，能够形成流水线式测试，替代了船体的抽样测试方式，确保了整批半导体传感器的出厂质量，保证工业级的半导体激光器在使用过程中的可靠性与安全性，提高了对半导体激光器的检测效率并降低了测试成本。
[0029]本方案，通过检测区与左侧的缓冲区相连通能够让两个区间的温度接近，从而便于左侧缓冲区对半导体激光器进行与降温或预加热工作，利用制冷片的一面发热一面制冷的工作特性，在低温测试单元中，制冷片顶部发热所产生的热量经过收集罩进行收集，然后通过导管上抽风机将热风输送至右侧的缓冲区内部，当半导体激光器经过时，能够对半导体激光器进行加热升温，以便于进行下一步检测工作，反之同理，在高温测试单元中右侧的缓冲区能够对半导体激光器进行降温，便于对于测试完成的半导体激光器进行下料，充分的利用了低温测试单元与高温测试单元中的热量，相对于传统的检测方式更为节能环保，符合大批量测试的测试需求。
[0030]本方案，更为智能的接收各种检测数据，控制整个测试体统的运转，提高测试自动化程度，增加测试效率，并根据计算方式判断各个半导体激光器的使用可靠性，满足大批量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器可靠性测试系统，其特征在于，包括：传输设备(1)，所述传输设备(1)用于运输半导体激光器，完成流水式传动；测试设备(2)，所述测试设备(2)横架于传输设备(1)上，用于测试半导体激光器在不同温度环境下的工作可靠性；固定架(3)，所述固定架(3)安装于传输设备(1)上，用于安装固定半导体激光器；供电装置(4)，所述供电装置(4)用于连接固定架(3)上的半导体激光器的电源插口，为半导体激光器提供工作电流；控制面板(5)，所述控制面板(5)用于接收测试设备(2)的检测数据，并对检测数据进行整理计算，从而判断半导体激光器的可靠性；提醒装置(6)，受控制面板(5)的控制，测试出现不合格半导体激光器时，工作提醒测试人员。2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器可靠性测试系统，其特征在于：所述测试设备(2)分为低温测试单元(21)、常温测试单元(22)与高温测试单元(23)，所述低温测试单元(21)、常温测试单元(22)与高温测试单元(23)均包含有光功率测试仪(24)与电流检测仪(25)，所述光功率测试仪(24)与电流检测仪(25)均与控制面板(5)电性连接。3.根据权利要求2所述的一种半导体激光器可靠性测试系统，其特征在于：所述测试设备(2)包含有三个测试箱(201)，所述低温测试单元(21)、常温测试单元(22)与高温测试单元(23)分别位于测试箱(201)的内侧，两侧的所述测试箱(201)的内侧均固定安装有隔板(202)，所述测试箱(201)的内侧通过隔板(202)分割为检测区(203)与两个缓冲区(204)，所述检测区(203)位于两个缓冲区(204)之间，所述隔板(202)上固定安装有制冷片(205)，左侧测试箱(201)内的制冷片(205)制冷面朝下延伸至检测区(203)内，右侧测试箱(201)内的制冷片(205)制冷面朝上，发热面延伸至检测区(203)内，所述光功率测试仪(24)安装于检测区(203)的内部。4.根据权利要求3所述的一种半导体激光器可靠性测试系统，其特征在于：所述检测区(203)与左侧的缓冲区(204)相连通，所述隔板(202)的顶部固定安装有收集罩(206)，所述收集罩(206)通过导管与右侧缓冲区(204)的内部相连通，所述检测区(203)与右侧缓冲区(204)之间安装有隔温板(207)，所述收集罩(206)的背面开设有进风口。5.根据权利要求3所述的一种半导体激...

【专利技术属性】
技术研发人员：张萌，陈妍，
申请(专利权)人：武汉斯优光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：