一种分光机专用高压测试系统技术方案

本实用新型专利技术实施例公开了一种分光机专用高压测试系统，包括：变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块；所述变压模块，用于提供LED所需的电压；所述电压超导感应模块，用于对所述变压模块提供的电压的感应和引导；所述自动变压控制模块，用于根据所述电压超导感应模块输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；所述微处理器模块，用于根据所述调控信号控制变压模块所输出的电压；所述输出模块，用于将所述变压模块提供的电压输出至LED；所述变压模块内设有放大型超级磁环。本实用新型专利技术实施例实现可满足大功率高压测试，稳定性和抗干扰性强，供压稳定，不会出现分光机筛选LED性能参数错误的现象。的现象。的现象。

【技术实现步骤摘要】
一种分光机专用高压测试系统


[0001]本技术涉及LED分光机
，尤其涉及一种分光机专用高压测试系统。

技术介绍

[0002]LED产品生产加工及封装过程中，根据不同的使用场合而生产出性能不同的LED产品，并依据LED的颜色和性能，为LED产品划分出不同包装区间，来区别LED的光色、亮度和性能等，LED分光机就是通过对LED发出光的波长、光强、电流电压大小进行分类筛选的机器，随着国内LED市场的不断扩张和深入发展，用于LED分选的分光机市场也悄然崛起，而供电测试系统作为分光机的核心，提高的稳定性和抗干扰性具有现实意义。
[0003]早期的分光机测试系统供电压强不高，常见的有20V、60V的供压，在精益求精的分光机市场中，逐渐满足不了现代市场的需求。随着各分光机厂家的需求提出，大功率高压测试系统就应运而生了。然而，目前的大功率高压测试系统稳定性和抗干扰性不足，供压不稳定，这些导致分光机筛选LED性能参数错误的现象。
[0004]因此，有必要设计一种新的系统，实现可满足大功率高压测试，稳定性和抗干扰性强，供压稳定，不会出现分光机筛选LED性能参数错误的现象。

技术实现思路

[0005]本技术要解决的技术问题是提供一种分光机专用高压测试系统。
[0006]为解决上述技术问题，本技术的目的是通过以下技术方案实现的：提供一种分光机专用高压测试系统，包括：变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块；所述变压模块，用于提供LED所需的电压；所述电压超导感应模块，用于对所述变压模块提供的电压的感应和引导；所述自动变压控制模块，用于根据所述电压超导感应模块输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；所述微处理器模块，用于根据所述调控信号控制所述变压模块所输出的电压；所述输出模块，用于将所述变压模块提供的电压输出至LED；所述变压模块内设有放大型超级磁环。
[0007]其进一步技术方案为：所述放大型超级磁环包括拉曼磁头和自转环体，所述自转环体与所述拉曼磁头连接。
[0008]其进一步技术方案为：还包括电源模块；
[0009]所述电源模块，用于对所述变压模块以及所述微处理器模块提供电源。
[0010]其进一步技术方案为：还包括通讯模块，所述微处理器模块通过所述通讯模块与测试设备连接。
[0011]其进一步技术方案为：所述变压模块包括光耦继电器aK2、运算放大器aU3 以及变压器aK1，其中，所述光耦继电器aK2以及所述光耦继电器aK2分别与所述微处理器模块连接；所述变压器aK1与所述电源模块连接。
[0012]其进一步技术方案为：所述变压模块还包括运算放大器aU1。
[0013]其进一步技术方案为：所述微处理器模块包括控制芯片IC3，所述控制芯片 IC3的
型号为STM32F407ZET6。
[0014]其进一步技术方案为：所述输出模块包括光耦继电器aK1以及运算放大器 vU2，所述光耦继电器aK1与所述微处理器模块连接，所述光耦继电器aK1与所述运算放大器vU2连接，所述运算放大器vU2与所述LED连接。
[0015]其进一步技术方案为：所述通讯模块包括通讯芯片U4，所述通讯芯片U4 的型号为MAX3232。
[0016]其进一步技术方案为：所述通讯芯片U4的输出端连接有接口J4。
[0017]本技术与现有技术相比的有益效果是：本技术通过设置变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块，其中，变压模块内设有放大型超级磁环，以进行无差别化的持续增压和稳压工作，有效减弱干扰带给测试系统的影响，电压超导感应模块和自动变压控制模块可对实时电压的感应和引导，自动变压控制模块能根据电压超导感应模块的信号进行恒压控制，保证电压的稳定性，实现可满足大功率高压测试，稳定性和抗干扰性强，供压稳定，不会出现分光机筛选LED性能参数错误的现象。
[0018]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步描述。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术实施例提供的一种分光机专用高压测试系统的示意性框图；
[0021]图2为本技术实施例提供的电源模块的具体电路示意图；
[0022]图3为本技术实施例提供的变压模块的具体电路示意图；
[0023]图4为本技术实施例提供的输出模块的具体电路示意图；
[0024]图5为本技术实施例提供的微处理器模块的具体电路示意图；
[0025]图6为本技术实施例提供的通讯模块的具体电路示意图；
[0026]图中标识说明：
[0027]10、输出模块；20、变压模块；30、微处理器模块；40、通讯模块；50、电压超导感应模块；60、自动变压控制模块；70、电源模块；80、测试设备。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0030]还应当理解，在此本技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例
的目的而并不意在限制本技术。如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0031]还应当进一步理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0032]请参阅图1，图1为本技术实施例提供的一种分光机专用高压测试系统的示意性框图；可用于最高150V的高压供电、高稳定性和抗干扰性的分光机高压测试场景中。
[0033]请参阅图1，上述的一种分光机专用高压测试系统，包括：变压模块20、微处理器模块30、电压超导感应模块50、自动变压控制模块60以及输出模块 10；变压模块20，用于提供LED所需的电压；电压超导感应模块50，用于对变压模块20提供的电压的感应和引导；自动变压控制模块60，用于根据电压超导感应模块50输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；微处理器模块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，包括：变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块；所述变压模块，用于提供LED所需的电压；所述电压超导感应模块，用于对所述变压模块提供的电压的感应和引导；所述自动变压控制模块，用于根据所述电压超导感应模块输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；所述微处理器模块，用于根据所述调控信号控制所述变压模块所输出的电压；所述输出模块，用于将所述变压模块提供的电压输出至LED；所述变压模块内设有放大型超级磁环。2.根据权利要求1所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述放大型超级磁环包括拉曼磁头和自转环体，所述自转环体与所述拉曼磁头连接。3.根据权利要求2所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，还包括电源模块；所述电源模块，用于对所述变压模块以及所述微处理器模块提供电源。4.根据权利要求3所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，还包括通讯模块，所述微处理器模块通过所述通讯模块与测试设备连接。5.根据权利要求4所述的一种分光机专用高压测试系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：项国平，项国斐，
申请(专利权)人：杭州晶飞科技有限公司，
类型：新型
国别省市：