基于uIP的芯片测试系统和测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于uIP的芯片测试系统和测试方法，属于芯片测试技术领域。本发明专利技术通过在可编程器件中定制可满足DUT被测芯片中的不同接口模块对接口信号类型及时序要求的uIP模块，通过uIP与对应接口模块的简单配置、uIP模块加载数据源并发送数据，回传接口模块的测试反馈数据的三步走方法，为DUT被测芯片中的每个接口模块匹配符合其要求的测试资源，大幅简化了芯片测试的流程，解决了ALPG生成Pattern测试向量需掌握复杂语法以及SQPG、SCPG因大量使用裸数据生成的Pattern文件庞大必须借助工具才能够进行波形信号的分析和调试，测试效率低下的技术问题。测试效率低下的技术问题。测试效率低下的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
基于uIP的芯片测试系统和测试方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体涉及一种基于uIP的芯片测试系统和测试方法。

技术介绍

[0002]要实现对芯片的测试一般需要实现DC测试能力以及Function功能测试能力。DC测试，即利用欧姆定律实现的直流特性的测试，如FVMV(恒压测压)测试、FVMI(恒压测流)测试、MVM(只测电压)测试)能力。Function功能测试，即测试芯片的各项功能，这是芯片测试领域的一个抽象概念。通常不同的芯片有不同的功能，也就会有不同的测试方法，如EEPROM存储芯片的Function测试包含读、写测试，FLASH存储芯片的Funcion功能测试包括读、写、擦测试。在芯片测试
，对于ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)测试机的能力要求通常如下表a所示：
[0003]能力一级能力二级ATE资源说明DC测试FVMVPE，DPS驱动电压测电压 FIMIPE，DPS驱动电流测电流 FIMVDPS驱动电流测电压 MVMPE，DPS仅测电压Function功能测试A本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于uIP的芯片测试系统，其特征在于，包括定制在可编程器件内的至少一个uIP模块，每个所述uIP模块用于在芯片测试中访问DUT被测芯片中具有对应接口类型的接口模块，以匹配所述DUT被测芯片所需的测试资源，进而满足所访问的所述接口模块在芯片测试中对接口信号类型及时序的要求。2.根据权利要求1所述的基于uIP的芯片测试系统，其特征在于，所述可编程器件为FPGA现场可编程门阵列。3.根据权利要求1所述的基于uIP的芯片测试系统，其特征在于，集成在所述DUT被测芯片中的所述接口模块的接口类型包括I2C、SPI、并行、SDHCI、ONFI、NAND FLASH接口中的任意一种或多种。4.根据权利要求1所述的基于uIP的芯片测试系统，其特征在于，所述uIP模块内部包括数据发送单元、数据接收单元和逻辑控制单元，对所述DUT被测芯片进行测试时，接收到控制器的数据发送指令后，所述数据发送单元加载数据源发送给对应连接的所述接口模块；测试完成后，所述数据接收单元用于接收所述接口模块的测试反馈数据并回传给所述控制器；所述逻辑控制单元用于执行所述控制器的芯片测试逻辑以对所述DUT被测芯片进行测试。5.根据权利要求1所述的基于uIP的芯片测试系统，其特征在于，还包括多路选择器，所述多路选择器用于将定制在同个所述可编程器件内的各所述uIP模块的IO引脚散出后再散入，以将所述可编程器件的uIP引脚资源与所述DUT被测芯片的引脚相匹配。6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩海亮，崔爱辉，袁栋，王丛，
申请(专利权)人：杭州至千哩科技有限公司，
类型：发明
国别省市：