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本发明公开了一种基于uIP的芯片测试系统和测试方法，属于芯片测试技术领域。本发明通过在可编程器件中定制可满足DUT被测芯片中的不同接口模块对接口信号类型及时序要求的uIP模块，通过uIP与对应接口模块的简单配置、uIP模块加载数据源并发送数...
该专利属于杭州至千哩科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州至千哩科技有限公司授权不得商用。

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