一种散射校正方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种散射校正方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取采用光子计数探测器得到的初始投影图像；其中，所述初始投影图像对应至少两个目标成像参数数据；基于预设映射数据，确定与各所述目标成像参数数据分别对应的目标散射核函数；其中，所述预设映射数据表征至少两个预设成像参数数据与预设散射核函数之间的映射关系；基于所述初始投影图像以及各所述目标散射核函数，确定散射校正图像；基于所述散射校正图像对所述初始投影图像执行校正操作，得到目标投影图像。本发明专利技术实施例解决了传统的散射校正方法不适用于光子计数探测器的问题，降低了探测器的升级难度，提高了目标投影图像的图像质量。高了目标投影图像的图像质量。高了目标投影图像的图像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种散射校正方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及医学成像
，尤其涉及一种散射校正方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]基于球管加探测器X射线成像系统被广泛应用于工业、医疗等领域，以实现无损内部探测和检查。目前一个重要的提高图像质量的方法是将传统探测器替换成光子计数探测器，光子计数探测器是一种直接探测极微弱光脉冲检测设备，利用光电倍增管的单光子检测技术，检测到多个离散的微弱光脉冲信号。
[0003]在成像系统的成像过程中，探测器接收到的X射线通常包含透射射线和散射射线，其中，透射射线构成投影图像，散射射线则构成投影图像中的噪声和图像伪影，因此，散射射线的存在会降低图像的对比度，进而降低图像质量。而传统的散射校正算法不再适用于光子计数探测器的散射校正，从而为探测器的升级增加了难度。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种散射校正方法、装置、设备及存储介质，以解决传统的散射校正方法不适用于光子计数探测器的问题，降低探测器的升级难度，提高目标投影图像的图像质量。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射校正方法，其特征在于，包括：获取采用光子计数探测器得到的初始投影图像；其中，所述初始投影图像对应至少两个目标成像参数数据；基于预设映射数据，确定与各所述目标成像参数数据分别对应的目标散射核函数；其中，所述预设映射数据表征至少两个预设成像参数数据与预设散射核函数之间的映射关系；基于所述初始投影图像以及各所述目标散射核函数，确定散射校正图像；基于所述散射校正图像对所述初始投影图像执行校正操作，得到目标投影图像。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标成像参数数据包括目标光子能量段，相应的，所述方法还包括：获取所述光子计数探测器对应的能谱分布图，并基于至少两个预设光子能量段对所述能谱分布图执行分段操作，得到至少两个能谱区间数据；确定与各所述能谱区间数据分别对应的预设散射核函数，并基于各所述预设光子能量段以及各所述预设散射核函数，生成预设映射数据；其中，所述预设映射数据表征各所述预设光子能量段与预设散射核函数之间的映射关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始投影图像和各所述目标散射核函数，确定散射校正图像，包括：基于各所述目标散射核函数，分别对所述初始投影图像执行卷积操作，得到卷积投影图像，并基于各所述卷积投影图像，确定初始校正图像；基于所述初始校正图像以及所述初始投影图像对应的目标曝光参数，确定散射校正图像。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标成像参数数据包括目标光子能量段和预设曝光参数，相应的，所述方法还包括：获取所述光子计数探测器对应的能谱分布图，并基于至少两个预设光子能量段对所述能谱分布图执行分段操作，得到至少两个能谱区间数据；基于至少一个预设曝光参数以及各所述能谱区间数据，生成预设映射数据；其中，所述预设映射数据中的预设成像参数数据包括预设曝光参数和预设光子能量段。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于至少一个预设曝光参数以及各所述能谱区间数据，生成预设映射数据，包括：针对每个预设曝光参数，基于所述预设曝光参数，搭建蒙特卡罗模拟系统；将各所述能谱区间数据分别输入到所述蒙特卡罗模拟系统中，得到输出的至少两个预设散射核函数；基于各所述预设曝光参数、各所述预设光子能量段以及各所...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐寅，朱天宝，白雪岷，万天敏，
申请(专利权)人：迈胜医疗设备有限公司，
类型：发明
国别省市：