一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置制造方法及图纸

技术编号:35547659 阅读:10 留言:0更新日期:2022-11-12 15:26
一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,属于激光测试技术领域,包括机座,机座的上方设有机身,且机座的上端面设有升降组件,升降组件的升降端与机身的下端面连接;机座的上端面可拆卸式设有模组支架,模组支架的上方设有检测件,机身的下端面固设有用于驱动检测件沿着X轴以及Y轴运动的调节组件;其中,工作时,检测件的检测端触接于VCSEL激光模组的正负极;本实用新型专利技术的结构简单,设计布局合理,降低对操作人员的素质要求,其次,相较于传统的测试装置,在对VCSEL激光模组进行测试时,为了便于检测,需要对VCSEL激光模组的表面进行探测凸点的焊接,从而导致对VCSEL激光模组的表面的损伤,而本实用新型专利技术中通过检测件直接压测于VCSEL激光模组的表面,避免该问题。避免该问题。避免该问题。

【技术实现步骤摘要】
一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置


[0001]本技术属于激光测试
,特别涉及一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置。

技术介绍

[0002]激光雷达、3D TOF传感相机都需要高峰值功率、窄脉冲(纳秒级)的激光光源模组,而VCSEL(垂直腔面发射激光器)激光模组由于无腔面损伤、可靠性高、面阵出光、峰值功率高的特点得到了广泛应用。同时,由于VCSEL激光模组功率高,输出光脉宽窄,现有的连续(CW)、准连续(QCW)激光模组测试系统无法满足测试要求,或者即使能对模组进行测试,但是却需要模组进行焊接的有损伤操作,不仅操作麻烦效率低,而且测试损耗的成本也比较高。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置和测试方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0005]一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,包括机座,所述机座的上方设有机身,且所述机座的上端面设有升降组件,所述升降组件的升降端与所述机身的下端面连接;所述机座的上端面可拆卸式设有模组支架,所述模组支架的上方设有检测件,所述机身的下端面固设有用于驱动检测件沿着X轴以及Y轴运动的调节组件;其中,工作时,所述检测件的检测端触接于VCSEL激光模组的正负极。
[0006]相较于现有技术,本技术具备如下效果:
[0007]本技术的结构简单,设计布局合理,降低对操作人员的素质要求,其次,相较于传统的测试装置,在对VCSEL激光模组进行测试时,为了便于检测,需要对VCSEL激光模组的表面进行探测凸点的焊接,从而导致对VCSEL激光模组的表面的损伤,而本技术中通过检测件直接压测于VCSEL激光模组的表面,避免该问题。
[0008]作为优选,所述检测件包括检测板,所述检测板上分设有与VCSEL激光模组的正负极对应的探针。
[0009]作为优选,所述探针包括检测段,所述检测段的尾端连接有插装段,所述插装段与所述检测板的连接处设有插装槽,所述插装段插装于所述插装槽内。
[0010]作为优选,所述检测段包括探针本体,所述探针本体的检测端设有若干个沟槽,且所述探针本体的尾端和所述插装段连接。
[0011]作为优选,所述模组支架包括支架本体,所述支架本体上设有出光窗口,所述出光窗口上下贯穿所述支架本体,且所述支架本体上还设有温度控制器。
[0012]作为优选,所述调节组件包括沿X轴移动的第一滑行机构以及沿Y轴移动的第二滑行机构,所述第一滑行机构和所述第二滑行机构的结构相同,且所述第二滑行机构的安装
端固设于所述第一滑行机构的滑行端。
[0013]作为优选,所述第一滑行机构/第二滑行机构包括滑轨,所述滑轨上滑动设有滑动块。
[0014]作为优选,所述升降组件包括驱动件,所述驱动件的驱动端动力连接有升降件,所述升降件的升降端连接于所述机座或所述机身二者之一。
[0015]作为优选,所述驱动件为液压泵、气缸或者电机中的一种。
[0016]作为优选,所述升降件为升降轴。
附图说明
[0017]图1是本技术整体结构示意图;
[0018]图2是图1中“A”处局部放大结构示意图;
[0019]图3是本技术中部分结构示意图;
[0020]图4是本技术中探针组件安装时的结构示意图。
[0021]图中:1

机座;2

机身;3

升降组件;4

模组支架;40

支架本体;41

出光窗口;42

温度控制器;5

调节组件;6

检测件;60

检测板;61

探针;610

检测段;6100

探针本体;6101

沟槽;611

插装段;612

插装槽。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚,完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部实施例。
[0023]实施例:
[0024]如图1所示的一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,包括机座1,所述机座1的上方设有机身2,且所述机座1的上端面设有升降组件3,所述升降组件3的升降端与所述机身2的下端面连接;所述机座1的上端面可拆卸式设有模组支架4,所述模组支架4的上方设有检测件6,所述机身2的下端面固设有用于驱动检测件6沿着X轴以及Y轴运动的调节组件5;其中,工作时,所述检测件6的检测端触接于VCSEL激光模组的正负极;本技术的结构简单,设计布局合理,降低对操作人员的素质要求,其次,相较于传统的测试装置,在对VCSEL激光模组进行测试时,为了便于检测,需要对VCSEL激光模组的表面进行探测凸点的焊接,从而导致对VCSEL激光模组的表面的损伤,而本技术中通过检测件6直接压测于VCSEL激光模组的表面,避免该问题。
[0025]在本实施例中,所述调节组件5包括沿X轴移动的第一滑行机构以及沿Y轴移动的第二滑行机构,所述第一滑行机构和所述第二滑行机构的结构相同,且所述第二滑行机构的安装端固设于所述第一滑行机构的滑行端;其中,所述第一滑行机构/第二滑行机构包括滑轨,所述滑轨上滑动设有滑动块。
[0026]为了进一步的阐述,结合图4可知,所述检测件6包括检测板60,所述检测板60上分设有与VCSEL激光模组的正负极对应的探针61;其中,所述探针61包括检测段610,所述检测段610的尾端连接有插装段611,所述插装段611与所述检测板60的连接处设有插装槽612,所述插装段611插装于所述插装槽612内;另外,所述检测段610包括探针本体6100,所述探
针本体6100的检测端设有若干个沟槽6101,且所述探针本体6100的尾端和所述插装段611连接;在本实施例中,通过焊接、激光覆厚铜、直接键合铜或者化学电镀铜等方式,制作出与激光模组正、负极相对应的探针61,以此达到测试回路更短的目的,此外,相对于现有主体结构是弹簧针的测试探针而言,降低寄生电感,在实现直流测试的同时,兼顾窄脉冲的测试,。
[0027]参考图2和图3可知,所述模组支架4包括支架本体40,所述支架本体40上设有出光窗口41,所述出光窗口41上下贯穿所述支架本体40,且所述支架本体40上还设有温度控制器42;在本实施例中,为了增强VCSEL激光模组放置于所述支架本体40上的稳定性,所述支架本体40的上端面开设有放置槽,所述放置槽和所述出光窗口41相连通。
[0028]另外,所述升降组件3包括驱动件,所述驱动件的驱动端动力连接有升降件,所述升降件的升降端本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,包括机座(1),所述机座(1)的上方设有机身(2),且所述机座(1)的上端面设有升降组件(3),所述升降组件(3)的升降端与所述机身(2)的下端面连接;其特征在于:所述机座(1)的上端面可拆卸式设有模组支架(4),所述模组支架(4)的上方设有检测件(6),所述机身(2)的下端面固设有用于驱动检测件(6)沿着X轴以及Y轴运动的调节组件(5);其中,工作时,所述检测件(6)的检测端触接于VCSEL激光模组的正负极。2.如权利要求1所述的一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,其特征在于:所述检测件(6)包括检测板(60),所述检测板(60)上分设有与VCSEL激光模组的正负极对应的探针(61)。3.如权利要求2所述的一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,其特征在于:所述探针(61)包括检测段(610),所述检测段(610)的尾端连接有插装段(611),所述插装段(611)与所述检测板(60)的连接处设有插装槽(612),所述插装段(611)插装于所述插装槽(612)内。4.如权利要求3所述的一种高功率纳秒级VCSEL激光模组测试装置,其特征在于:所述检测段(610)包括探针本体(6100),所述探针本体(6100)的检测端设有若干个沟槽(6101),且所述探针本体(6100)的尾端和所述插装...

【专利技术属性】
技术研发人员:丛海兵陶良泽巩少斌林宇山
申请(专利权)人:杭州晟创激光科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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