老炼温度控制的加热功率确定方法、温度控制方法及程序技术

本发明专利技术适用于电子元器件老炼技术领域，提供了一种老炼温度控制的加热功率确定方法、温度控制方法及程序，通过前期工作确定开门时所需要进行补偿的加热功率，在开门的同时对老炼试验箱进行温度补偿，能够有效地将老炼试验箱内的温度维持在老炼试验所需的温度范围内。在设定老炼温度T

【技术实现步骤摘要】
老炼温度控制的加热功率确定方法、温度控制方法及程序


[0001]本专利技术涉及电子元器件老炼
，尤其是涉及一种老炼温度控制的加热功率确定方法、温度控制方法及程序。

技术介绍

[0002]高可靠电子元器件在筛选、鉴定、质量一致性检验等试验中，高温老炼或高温寿命试验通常是必做试验。高温老炼或高温寿命试验需要使用高温试验箱给被试元器件施加温度应力。被试元器件通常安装在PCB(印制电路板)试验电路板并放入高温箱，在高温的同时对被试器件施加电压、电流、频率等电应力，必要时对元器件的电参数进行监测。被试元器件在高温下工作，加速元器件的老化，起到缩短试验时间的作用。为扩大高温试验箱的使用容量，一次能够对更多的样品进行试验，通常寿命试验用高温试验箱可容纳3块至10多块PCB试验电路板，同时可对数百只元器件进行试验。
[0003]在实验过程中，当发现某一电子元器件的性能指标超过设定阈值时（例如漏电流超过设定阈值），往往需要将该电子元器件断电并从高温试验箱中取出。这是由于当电子元器件在高温试验箱中的性能指标超过设定阈值时，往往说明该电子元器件已经损坏，或即将损坏，如果不将其取出，可能会出现危险或者对PCB板上的其他电子元器件的测试产生影响。当需要将某些电子元器件从高温试验箱中取出时，必然需要打开高温试验箱门，此时由于箱门的打开，箱内的热空气向外传热导致箱内的温度降低。
[0004]而用于电子元器件试验的现有的高温试验箱的主要技术指标为试验箱工作区各点温度随时间的变化在
±
2℃以内(时间波动)，也就是说，当试验箱内的温度的波动超过设定值的
±
2℃，则不满足老炼的条件。
[0005]为此，现有技术集中在对老炼试验箱进行改进以使得其能够更好地实现箱内温度的恒定和均匀。
[0006]如专利CN201510925634.2公开了一种高可靠电子元器件用温度试验箱，针对现有元器件高温老炼与寿命试验用高温试验箱的缺点，能够解决空气流场混乱带来的温度空间不均匀性大和样品易受周边样品影响的问题，减缓试验箱外部环境温度波动对试验箱内部温度的影响。
[0007]专利KR1020190154079公开了一种老化测试装置，在配置于所述老化室内的老化板之间设置有流通部，以使流入所述老化体内的热风适当地分配。本专利技术涉及一种减小老化测试装置的温度的装置，从而引起老化测试的温度偏差。
[0008]以上技术均集中在对老炼试验箱本身的加热系统硬件进行改进，很少见对控制方法进行研究，专利CN202010713927.5公开了一种控制老炼温度的方法、用于老炼测试的夹具、设备和系统，在老炼测试过程中针对单个待测器件的老炼温度进行精确控制，该方法包括：获取待测器件的温度测量值和设定值；基于温度测量值和设定值调节加热待测器件的控制参数。该控制老炼温度的方法可以通过本专利技术实施例提供的用于老炼测试的夹具、设备以及系统来实现。相较于现有技术，采用本专利技术实施例提供的技术方案，可实现老炼测试
过程中单个待测器件的老炼温度的精确控制。但是该专利公开的是对单独的电子元件的温度进行控制。
[0009]由此可见，现有技术大多是对老炼试验箱本身进行改进，实现对加热系统的硬件改进来实现试验箱内的温度恒定和均匀。但根据申请人多年的经验，对于温度控制来说，大多通过检测试验箱内的温度，当温度低于设定值时开启加热系统为试验箱补偿加热，但是往往当温度低于一个需要补偿的值时，试验箱内的温度就已经不在试验所需的温度范围内，因而无法使得老炼试验箱内的温度在整个试验过程中，温度均满足试验要求。

技术实现思路

[0010]为了解决现有技术的不足，本专利技术的提供一种老炼温度控制的加热功率确定方法，温度控制方法及程序，通过前期工作确定开门时所需要进行补偿的加热功率，在开门的同时对老炼试验箱进行温度补偿，能够有效地将老炼试验箱内的温度维持在老炼试验所需的温度范围内。本专利技术是这样实现的：一种老炼温度控制的加热功率确定方法，包括以下步骤：S10. 在设定老炼温度T
aim
，每次打开老炼试验箱箱门的开度都相同的条件下，通过试验测定不同开门时间t对应的老炼试验箱内的温度场的温度变化值；，t
max
为设定的最大开门时间；S20. 将步骤S10获得的温度变化值和不同开门时间t进行线性拟合，得到线性相关值k；S30. 根据下式确定开门时的温度补偿功率P：其中，c是比热容，m是试验箱内的空气质量。
[0011]进一步地，S10中还包括：令，实验在多个温度下，不同开门时间t对应的老炼试验箱内的温度场的温度变化值；分别为设定的最高温度和最低温度值，且；S20中还包括：将步骤S10获得的多个温度下，温度变化值和不同开门时间t进行线性拟合，得到线性相关值，即得到老炼试验箱温度T对应的线性相关值；S30中还包括：当开门时，先获取老炼试验箱内的当前温度根据步骤S20获得的老炼试验箱温度T对应的线性相关值获得当前温度对应的线性相关值，确定开门时的温度补偿功率P：时的温度补偿功率P：
其中，c是比热容，m是试验箱内的空气质量，是设定老炼温度T
aim
与当前温度的温度差，是取样时的平均开门时间。
[0012]进一步地，采用插值计算法根据步骤S20获得的老炼试验箱温度T对应的线性相关值获得当前温度对应的线性相关值。
[0013]本专利技术还提供一种老炼温度控制方法，包括以下步骤：C10. 收到开门指令，采用如前所述的一种老炼温度控制的加热功率确定方法计算温度补偿功率P；C20.发出允许开门的信号，并且在检测到开门时，打开加热系统，按照步骤C10所计算的温度补偿功率P进行温度补偿；C30.检测到老炼试验箱的箱门关闭时，关闭加热系统。
[0014]进一步地，步骤C10还包括，获取老炼试验箱内的当前温度，并采用如前所述的根据当前温度值计算温度补偿功率P。
[0015]进一步地，步骤C30之后还包括步骤C40：获取老炼试验箱内的当前温度，当时，打开加热系统加热；当时，关闭加热系统；为设定老炼温度的最低值。
[0016]进一步地，当检测到设定时间段内的开门次数超过设定次数，则将计算的温度补偿功率再乘以一个补偿系数作为开门时加热系统加热的功率值，。
[0017]进一步地，当检测到开门时间超过设定开门时间，则将计算的温度补偿功率再乘以一个补偿系数，，调整设定开门时间之后时间的加热功率。
[0018]进一步地，当检测到开门时间超过设定开门时间，重新获取老炼试验箱内的当前温度，并重新计算温度补偿功率P，调整设定开门时间之后时间的加热功率。
[0019]本专利技术还提供一种计算机程序，用于执行如前所述的一种老练温度控制方法。
[0020]采用本专利技术所述的一种老炼温度控制的加热功率确定方法，温度控制方法及程序，相对于现有技术，至少具有以下有益效果：（1）本专利技术通过合理的假设，经过试验和理论推演，推算在特定条件下开门所需要进行温度补偿的加热功率，根据该功率进行温度补偿，可以补偿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种老炼温度控制的加热功率确定方法，其特征在于，包括以下步骤：S10. 在设定老炼温度T
aim
，每次打开老炼试验箱箱门的开度都相同的条件下，通过试验测定不同开门时间t对应的老炼试验箱内的温度场的温度变化值；，t
max
为设定的最大开门时间；S20. 将步骤S10获得的温度变化值和不同开门时间t进行线性拟合，得到线性相关值k；S30. 根据下式确定开门时的温度补偿功率P：其中，c是比热容，m是试验箱内的空气质量。2.根据权利要求1所述的一种老炼温度控制的加热功率确定方法，其特征在于，S10中还包括：令，实验在多个温度下，不同开门时间t对应的老炼试验箱内的温度场的温度变化值；分别为设定的最高温度和最低温度值，且；S20中还包括：将步骤S10获得的多个温度下，温度变化值和不同开门时间t进行线性拟合，得到线性相关值，即得到老炼试验箱温度T对应的线性相关值；S30中还包括：当开门时，先获取老炼试验箱内的当前温度，根据步骤S20获得的老炼试验箱温度T对应的线性相关值获得当前温度对应的线性相关值，确定开门时的温度补偿功率P：时的温度补偿功率P：其中，c是比热容，m是试验箱内的空气质量，是设定老炼温度T
aim
与当前温度的温度差，是取样时的平均开门时间。3.根据权利要求2所述的一种老炼温度控制的加热功率确定方法，其特征在于，采用插值计算法根据步骤S20获得的老炼试验箱温度T对应的线性相关值获得当前温度对应的线性相关值。4.一种老炼温度控制方法，其特征在于，包括以下步骤：
C10. 收...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙思谦，王伟，施昌建，叶剑军，黄征豪，
申请(专利权)人：杭州三海电子有限公司，
类型：发明
国别省市：