一种评估集中器CPU体质的动态评估方法技术

本发明专利技术涉及电网集中器技术领域，特别是涉及一种评估集中器CPU体质的动态评估方法。本发明专利技术使集中器CPU保持高频率值运行，并计算集中器CPU实时温度处于两级温度阈值之间的持续时间、以用于集中器CPU体质评估。本发明专利技术设置了非满载的测试条件，并采用了第一预设温度、第二预设温度组成两级温度阈值，前者作为体质判断依据，后者作为安全警戒依据、以保证评估判的安全性；本发明专利技术以集成器CPU处于两级温度阈值之间的持续时间作为表征集中器CPU体质的依据，有效避免了在测试时将集中器CPU置于极限条件下而导致损坏的情况出现。条件下而导致损坏的情况出现。条件下而导致损坏的情况出现。

【技术实现步骤摘要】
一种评估集中器CPU体质的动态评估方法


[0001]本专利技术涉及电网集中器
，特别是涉及一种评估集中器CPU体质的动态评估方法。

技术介绍

[0002]集中器是指远程集中抄表系统的中心管理设备和控制设备，负责定时读取终端数据、系统的命令传送、数据通讯、网络管理、事件记录、数据的横向传输等功能。集中器主要分为I型和II型，后者比前者体型小很多、缺少前者具有的载波通讯及屏显等功能。
[0003]现有的集中器，出厂技术指标要求其CPU主频在800MHz及以上。但集中器的实际使用场景较为恶劣，需要集中器长时间高频率工作，易造成CPU损坏。因此，对于集中器CPU而言，还需要对其体质进行评估判断，便于挑选出体质好的、以保证集中器的稳定工作。但现有集成器CPU体质评估大多参考电脑等电子类产品CPU检测方法，而这类检测方法则使将对CPU进行烤机处理、测试参数恶劣，对于集成器CPU而言极易造成评估时即损坏。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对现有集中器CPU进行体质评估时易损坏的问题，提供一种评估集中器CPU体质的动态评估方法。
[0005]本专利技术采用以下技术方案实现：
[0006]第一方面，
[0007]本专利技术公开了一种评估集中器CPU体质的动态评估方法，包括以下步骤：
[0008]S1，使集中器CPU保持高频率值运行，其中，所述高频率值不小于集中器CPU主频的80％；所述集中器CPU主频为800MHz及以上；
[0009]S2，判断当前时刻t0的集中器CPU实时温度T
实
是否不小于第二预设温度T2，其中，T2小于一个第一预设温度T1，T1是集中器CPU执行降温操作的临界温度；是，则执行步骤S3；
[0010]S3，以k为采样周期、j为采样次数，对所述集中器CPU的温度进行实时采样，每采样一次即判断t0+k
×
j时刻的实时温度T
j
与T2的差值ΔT2是否不小于零、且判断T
j
与T1的差值ΔT1是否小于零；
[0011]是，则执行步骤S4；
[0012]否，则当ΔT1不小于零时，先执行降温操作，再返回步骤S2；
[0013]S4，计算T
j
不小于T2、且小于T1的持续时间t
H1
，t
H1
＝k
×
j；
[0014]其中，t
H1
数值越大表征集中器CPU体质越好。
[0015]该评估集中器CPU体质的动态评估方法实现根据本公开的实施例的方法或过程。
[0016]第二方面，
[0017]本专利技术公开了一种电子设备，所述电子设备包括存储器以及处理器，所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序以使所述电子设备执行上述的评估集中器CPU体质的动态评估方法。
[0018]本专利技术也公开了一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行上述的评估集中器CPU体质的动态评估方法。
[0019]与现有技术相比，本专利技术具备如下有益效果：
[0020]本专利技术设置了非满载的测试条件，并采用了第一预设温度、第二预设温度组成两级温度阈值，前者作为体质判断依据，后者作为安全警戒依据、以保证评估判的安全性；本专利技术以集成器CPU处于两级温度阈值之间的持续时间作为表征集中器CPU体质的依据，有效避免了在测试时将集中器CPU置于极限条件下而导致损坏的情况出现。
附图说明
[0021]图1为本专利技术中一种评估集中器CPU体质的动态评估方法的第一种实施例的流程图；
[0022]图2为图1中增加结果判断步骤的流程图；
[0023]图3为图1中增加时间修正及结果判断步骤的流程图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]需要说明的是，当组件被称为“安装于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。
[0026]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0027]实施例1
[0028]请参阅图1，图1为本专利技术中一种评估集中器CPU体质的动态评估方法的第一种实施例的流程图。本实施例公开了一种评估集中器CPU体质的动态评估方法，包括以下步骤：
[0029]S1，使集中器CPU保持高频率值运行。
[0030]其中，高频率值不小于集中器CPU主频的80％，所述集中器CPU主频为800MHz及以上。
[0031]S1目的在于模拟集中器CPU实际工作状态，而为了实现集中器CPU保持高频率值运行，使集中器CPU运行负载程序。负载程序为安装在所述集中器上的业务应用程序，例如电表采集任务管理、低压集抄应用程序、IEC101和IEC104应用程序。当然，业务应用程序根据实际需求也会存在不同，是可以自由预装的。
[0032]S2，判断当前时刻t0的集中器CPU实时温度T
实
是否不小于第二预设温度T2，其中，
T2小于一个第一预设温度T1，T1是集中器CPU执行降温操作的临界温度；是，则执行步骤S3；否，返回步骤S2。
[0033]S2检测当前时刻t0的集中器CPU实时温度T
实
是否达到体质判定温度临界值。
[0034]需要说明的是，上述当前时刻t0表征的也是实时时间，即“返回步骤S2”后的当前时刻也实时更新。
[0035]S3，以k为采样周期、j为采样次数，对所述集中器CPU的温度进行实时采样，每采样一次即判断t0+k
×
j时刻的实时温度T
j
与T2的差值ΔT2是否不小于零、且判断T
j
与T1的差值ΔT1是否小于零；
[0036]是，则执行步骤S4；
[0037]否，分为两种情况：
[0038](1)当判断ΔT2小于零时，返回步骤S2；
[0039](2)当判断ΔT1不小于零时，先执行降温操作，再返回步骤S2。
[0040]S3周期性对集中器CPU温度进行实时采样，并即时检测采样温度是否处于T1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估集中器CPU体质的动态评估方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，使集中器CPU保持高频率值运行，其中，所述高频率值不小于集中器CPU主频的80％，所述集中器CPU主频为800MHz及以上；S2，判断当前时刻t0的集中器CPU实时温度T
实
是否不小于第二预设温度T2，其中，T2小于一个第一预设温度T1，T1是集中器CPU执行降温操作的临界温度；是，则执行步骤S3；S3，以k为采样周期、j为采样次数，对所述集中器CPU的温度进行实时采样，每采样一次即判断t0+k
×
j时刻的实时温度T
j
与T2的差值ΔT2是否不小于零、且判断T
j
与T1的差值ΔT1是否小于零；是，则执行步骤S4；否，则当判断ΔT1不小于零时，先执行降温操作，再返回步骤S2；S4，计算T
j
不小于T2、且小于T1的持续时间t
H
，t
H
＝k
×
j；其中，t
H
数值越大表征集中器CPU体质越好。2.根据权利要求1所述的评估集中器CPU体质的动态评估方法，其特征在于，S1中使集中器CPU运行负载程序；所述负载程序为安装在所述集中器上的业务应用程序。3.根据权利要求1所述的评估集中器CPU体质的动态评估方法，其特征在于，所述T1、T2、k均为可调值。4.根据权利要求1所述的评估集中器CPU体质的动态评估方法，其特征在于，当判断当前时刻t0的集中器CPU实时温度T
实
小于第一预设温度T2时，返回步...

【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，吴义文，蒋小三，左勇，岳浩，张孟，
申请(专利权)人：安徽南瑞中天电力电子有限公司，
类型：发明
国别省市：