一种高低温温度循环试验方法、系统、终端及存储介质技术方案

本申请涉及可靠性试验技术领域，尤其涉及一种高低温温度循环试验方法、系统、终端及存储介质；其方法包括：获取测试方案，基于测试方案对元器件进行高低温温度循环试验，并获取实时测试数据，获取实时测试温度，基于实时测试数据以及实时测试温度，判断实时测试数据是否满足预设的测试阈值，若实时测试数据满足测试阈值，则判定元器件质量合格；若实时测试数据不满足测试阈值，则判定元器件质量不合格，并终止当前测试。本申请有助于提高对元器件质量判断的准确性。判断的准确性。判断的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种高低温温度循环试验方法、系统、终端及存储介质


[0001]本申请涉及可靠性试验
，尤其涉及一种高低温温度循环试验方法、系统、终端及存储介质。

技术介绍

[0002]高低温温度循环试验，也称为热循环试验或温度循环试验，是一种将试验样品暴露于预设的高低温交替的试验环境中所进行的可靠性试验，旨在验证模拟温度交替变化环境对电子元器件的机械性能及电气性能的影响，考核电子元器件在短期内反复承受温度变化的能力及不同结构材料之间的热匹配性能，暴露元器件潜在的材料缺陷和制造质量缺陷，消除早期失效，提高产品可靠性。温度循环试验适用于揭示评估由剪切应力所引起的“蠕变应力释放”疲劳失效机理和可靠性，在焊点的失效分析和评价方面应用广泛。
[0003]相关技术中，在元器件进行高低温温度循环试验后，判断元器件质量是否合格的方法是对元器件进行一次电测量，基于测量结果判断元器件质量是否合格，从而筛选出质量不合格的元器件。
[0004]针对上述相关技术，专利技术人认为，相关技术中判别元器件质量是否合格的方法缺陷较大，容易造成判断结果不准确，从而出现对元器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，包括：获取测试方案；基于所述测试方案对元器件进行高低温温度循环试验，并获取实时测试数据；获取实时测试温度；基于所述实时测试数据以及所述实时测试温度，判断所述实时测试数据是否满足预设的测试阈值；若所述实时测试数据满足所述测试阈值，则判定所述元器件质量合格；若所述实时测试数据不满足所述测试阈值，则判定所述元器件质量不合格，并终止当前测试。2.根据权利要求1所述的一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，所述基于所述测试方案对元器件进行高低温温度循环试验，并获取实时测试数据的具体步骤包括：基于所述测试方案，获取老炼试验板的板号；基于所述板号，获取所有工位号；基于所述工位号，对所述元器件进行高低温温度循环试验，并获取所述工位号的工作电流以及工作电压；将所述工作电流以及所述工作电压作为所述实时测试数据。3.根据权利要求2所述的一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，所述基于所述实时测试数据以及所述实时测试温度，判断所述实时测试数据是否满足预设的测试阈值的具体步骤包括：基于所述实时测试温度，判断所述工作电流是否满足预设的电流阈值；若所述工作电流满足所述电流阈值，则判断所述工作电压是否满足预设的电压阈值；若所述工作电压满足所述电压阈值，则判定所述实时测试数据满足所述测试阈值。4.根据权利要求3所述的一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，还包括：若所述工作电流不满足所述电流阈值和/或所述工作电压不满足所述电压阈值，则判定所述实时测试数据不满足所述测试阈值。5.根据权利要求3所述的一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，在所述基于所述工位信息，对所述元器件进行高低温温度循环试验，并获取所述工位号的工作电流以及工作电压步骤之后，还包括：获取测试时间；基于所述工作电流、所述工作电压以及所述测试时间，获取电流时间曲线和电压时间曲线；基于所述实时测试温度和所述测试时间，获取温度时间曲线。6.根据权利要求1所述的一种高低温温度循环试验方法，其特征在于，在所述若所述实时测试数据不满...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐广文，徐感恩，丁辰野，叶峰，张洪威，
申请(专利权)人：杭州三海电子有限公司，
类型：发明
国别省市：