基于坯布纹理的缺陷模型匹配方法、介质以及电子设备组成比例

技术编号:35532899 阅读:22 留言:0更新日期:2022-11-09 14:57
本发明专利技术公开了基于坯布纹理的缺陷模型快速匹配方法,使用本发明专利技术所述的缺陷模型匹配方法,先对灰度图做灰度均衡化处理,使所有的图都维持在统一亮度,可以让图的特征提取更加均匀,降低外界条件对图产生的影响,然后将不同尺度的图以及其特征图在通道维度融合后输送到特征提取网络中输出特征向量,与数据库中的特征向量之间的夹角计算余弦值相似度,特征匹配的效率高、精准度高、且过程简单,无需工厂人员执行过多的操作,解决工匹配检测模型容易出错的问题。错的问题。错的问题。

【技术实现步骤摘要】
基于坯布纹理的缺陷模型匹配方法、介质以及电子设备


[0002]本专利技术涉及纺织
,具体涉及基于坯布纹理的缺陷模型匹配方法、介质以及计算装置。

技术介绍

[0004]现有技术中,使用深度学习技术对纺织的坯布进行缺陷检测已经十分常见,由于不同的布种有不同的原料配比、经密、纬密、组织结构和提花纹理,因此不同布种的瑕疵特征也有较大区别,很有可能一种坯布的正常纹理与另一种坯布的缺陷纹理的特征十分相似,如果仅使用一种通用缺陷检测模型去检测所有的布匹,就很有可能会漏检、误检,在坯布的纺织过程中所使用的缺陷检测模型,需要对不同的坯布纹理有针对性地进行选择。
[0005]在生产过程中,每当设备开始纺织一种新型坯布,为了提高坯布的缺陷检测准确度,通常使用人工干预的方式,对坯布的特征进行提取,然后和数据库中的现有的坯布的纹理进行比对,筛选出坯布特征最为相似的坯布,使用该特征最接近的坯布作为缺陷识别模型,对新型坯布进行纺织却显得检测,但是这种人工检测对比的方式,识别错误率大、效率低下,需要的步骤流程耗时较长,判断过程中还容易受人们的主观判断的影响,难以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于坯布纹理的缺陷模型快速匹配方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、对待检测坯布表面进行拍摄,生成坯布纹理的二通道的灰度图;S2、对所述灰度图进行亮度调整,生成对应的均衡效果图;S3、对所述均衡效果图进行五次分辨率调整,生成五张不同分辨率的子均衡效果图;S4、对所有子均衡效果图分别进行LBP特征提取,生成五张对应的特征图;S5、将所有子均衡效果图及所有特征图进行拼接,生成对应的10通道的图像数据矩阵;S6、将所述图像数据矩阵送入预先训练好的特征提取网络,生成对应的三维特征图;将所述三维特征图输入第一降维卷积核,生成对应的二维特征图;将所述二维特征图输入第二降维卷积核,生成坯布纹理的灰度图对应的比对特征向量;S7、将所述比对特征向量与预设的数据库中的各个特征向量分别进行比对并计算对应的相似度,筛选出最大的相似度;其中,所述数据库中关联存储有多个坯布纹理的缺陷模型及其对应的特征向量;S8、判断最大的相似度是否大于相似度阈值,若是,则采用该最大的相似度对应的特征向量对应的缺陷模型作为待检测坯布的缺陷模型;若否,则选取指定的缺陷模型或针对所述待检测坯布的纹理训练新的缺陷模型。2.根据权利要求1所述的基于坯布纹理的缺陷模型快速匹配方法,其特征在于:所述对所述灰度图进行亮度调整,生成对应的均衡效果图,包括:对所述预定分辨率图进行直方图均衡化处理,得到对应的均衡效果图。3.根据权利要求1所述的基于坯布纹理的缺陷模型快速匹配方法,其特征在于:所述对所述均衡效果图进行五次分辨率调整,生成五张不同分辨率的子均衡效果图,包括:对所述均衡效果图中的坯布纹理做特定尺寸的缩放,使所述均衡效果图中的坯布纹理对应的像素尺寸保持一致,并对所述均衡效果图进行像素尺度的调整,获得多张子均衡效果图。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘世昌邹建法陈钟浩管瑞峰刘运春
申请(专利权)人:上海致景信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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