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基于坯布纹理的缺陷模型匹配方法、介质以及电子设备组成比例
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下载基于坯布纹理的缺陷模型匹配方法、介质以及电子设备的技术资料
文档序号:35532899
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本发明公开了基于坯布纹理的缺陷模型快速匹配方法,使用本发明所述的缺陷模型匹配方法,先对灰度图做灰度均衡化处理,使所有的图都维持在统一亮度,可以让图的特征提取更加均匀,降低外界条件对图产生的影响,然后将不同尺度的图以及其特征图在通道维度融合后...
该专利属于上海致景信息科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海致景信息科技有限公司授权不得商用。
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