一种电子元件测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及电子元件测试技术领域，具体涉及一种电子元件测试设备，包括壳体、设置于壳体顶面的测试槽、设置于壳体顶面靠近测试槽的测试件，设置于壳体两侧的测试杆，还包括：设置于测试件侧面的导电块、开设于壳体内部的第二安装槽，所述第二安装槽的顶面连接有弹性柱，所述弹性柱的一端连接有第一开关触片，所述第二安装槽靠近第一开关触片的侧面连接有第二开关触片，本实用新型专利技术在使用的过程中，当电子元件发生漏电时，可以发出警报提醒操作人员，同时可以自动将测试杆与电子元件分离，进而本申请可以在电子元件进行其他测试的过程中，同时对电子元件进行漏电检测，减少由于电子元件漏电导致测试件等损伤的问题。子元件漏电导致测试件等损伤的问题。子元件漏电导致测试件等损伤的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试设备


[0001]本技术涉及点电子元件测试
，具体涉及一种电子元件测试设备。

技术介绍

[0002]电子元件，是电子电路中的基本元素，部分电子元件在投入使用前需要进行电路测试，即将待测试的电子元件通过测试装置进行测试，以此来检验电子元件是否具有完整的电路通路。
[0003]目前现有技术在对电子元件进行测试的过程中，虽然可以很好地测试电子元件的性能，但是在电子元件出现漏电时，不能自动将电子元件与测试件之间的连接中断，不仅不安全，还会损坏测试件，影响测试的正常进行，现有技术虽然有部分测试设备可以对电子元件是否漏电进行测试，但是不能在电子元件进行其他测试的同时，对电子元件进行漏电检测，进而当电子元件在进行其他测试的过程中发生漏电，仍会对测试件造成一定的损伤。

技术实现思路

[0004]解决的技术问题
[0005]针对现有技术所存在的上述缺点，本技术提供了一种电子元件测试设备，能够有效解决现有技术中测试设备在测试过程中当电容等电子元件发生的漏电时，不能自动中断测试工作的问题。
[0006]技术方案
[0007]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：
[0008]本技术提供一种电子元件测试设备，包括壳体、设置于壳体顶面的测试槽、设置于壳体顶面靠近测试槽的测试件，设置于壳体两侧的测试杆，还包括：
[0009]设置于测试件侧面的导电块、开设于壳体内部的第二安装槽，所述第二安装槽的顶面连接有弹性柱，所述弹性柱的一端连接有第一开关触片，所述第二安装槽靠近第一开关触片的侧面连接有第二开关触片；
[0010]开设于第二安装槽侧面的连接管，所述壳体的内部靠近测试杆的位置开设有连接槽，所述测试杆的侧面靠近连接槽的位置固定连接有连接板；
[0011]设置于壳体内部靠近第二安装槽一侧的驱动件。
[0012]进一步地，所述驱动件包括开设于壳体内部靠近弹性柱一侧的第一安装槽，所述第一安装槽的底面连接有电磁铁，所述电磁铁的侧面盘绕设置有导线，所述导线的一端与电磁铁电连接，所述导线的另一端与导电块电连接，所述第一安装槽的顶面通过弹性件连接有磁体，所述磁体与电磁铁相靠近面的磁性相同。
[0013]进一步地，所述壳体的内部靠近导电块的上部开设有连通槽，所述连接管与连通槽贯穿连接，所述连通槽的底面靠近两侧均连接有进气管，所述进气管与连接槽贯穿连接，所述测试杆的两侧侧面均开设有吹气管，所述吹气管与进气管贯穿连接，所述吹气管的侧面设置有第一单向阀。
[0014]进一步地，所述测试杆的前端为圆锥状。
[0015]进一步地，所述连通槽的侧面设置有通气管，所述通气管的侧面设置有第二单向阀。
[0016]进一步地，所述连接管的内径为二厘米至四厘米。
[0017]有益效果
[0018]本技术提供的技术方案，与已知的公有技术相比，具有如下有益效果：
[0019]本技术在使用的过程中，当电子元件发生漏电时，可以发出警报提醒操作人员，同时可以自动将测试杆与电子元件分离，进而本申请可以在电子元件进行其他测试的过程中，同时对电子元件进行漏电检测，减少由于电子元件漏电导致测试件等损伤的问题。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本技术的整体示意图；
[0022]图2为本技术的第一安装槽处剖视结构示意图；
[0023]图3为本技术的测试槽处剖视结构示意图；
[0024]图4为本技术的图3中的A处放大示意图。
[0025]图中的标号分别代表：1、壳体；2、测试槽；3、测试件；4、测试杆；6、导电块；7、第一安装槽；8、导线；9、电磁铁；10、弹性件；11、磁体；12、第二安装槽；13、弹性柱；14、第一开关触片；15、第二开关触片；16、连接槽；17、连接管；18、连接板；19、连通槽；20、进气管；21、吹气管；22、第一单向阀；23、通气管；24、第二单向阀。
具体实施方式
[0026]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]下面结合实施例对本技术作进一步的描述。
[0028]实施例：参照图1至图4，一种电子元件测试设备，包括壳体1、设置于壳体1顶面的测试槽2、设置于壳体1顶面靠近测试槽2的测试件3，设置于壳体1两侧的测试杆4，测试搁那4与测试件3之间通过导线连接，还包括：
[0029]设置于测试件3侧面的导电块6、开设于壳体1内部的第二安装槽12，第二安装槽12的顶面连接有弹性柱13，弹性柱13的一端连接有第一开关触片14，第二安装槽12靠近第一开关触片14的侧面连接有第二开关触片15；
[0030]开设于第二安装槽12侧面的连接管17，壳体1的内部靠近测试杆4的位置开设有连接槽16，测试杆4的侧面靠近连接槽16的位置固定连接有连接板18；
[0031]设置于壳体1内部靠近第二安装槽12一侧的驱动件；驱动件包括开设于壳体1内部靠近弹性柱13一侧的第一安装槽7，第一安装槽7的底面连接有电磁铁9，电磁铁9的侧面盘绕设置有导线8，导线8的一端与电磁铁9电连接，导线8的另一端与导电块6电连接，第一安装槽7的顶面通过弹性件10连接有磁体11，磁体11与电磁铁9相靠近面的磁性相同。
[0032]壳体1的内部靠近导电块6的上部开设有连通槽19，连接管17与连通槽19贯穿连接，连通槽19的底面靠近两侧均连接有进气管20，进气管20与连接槽16贯穿连接，测试杆4的两侧侧面均开设有吹气管21，吹气管21与进气管20贯穿连接，吹气管21的侧面设置有第一单向阀22。
[0033]当需要对电容等电子元件进行测试时，操作者可以将电容等电子元件放置在测试槽2的内部，再推动测试杆4，依次使两个测试杆4与电容等电子元件连接，连接完成后，即可通过测试件3对电容等电子元件的各项数据进行测试，当测试的电容等电子元件存在漏电的情况时，电流通过电容等电子元件的外壳传递至导电块6，再通过导电块6进入导线8的内部传递至电磁铁9，此时电磁铁9通电产生磁力，磁体11与电磁铁9相靠近面的磁性相同，磁体11与电磁铁9之间产生相斥力，磁体11与第一安装槽7密封滑动连接，相斥力使磁体11克服弹性件10的弹力向远离电磁铁9的方向移动对第一安装槽7内部的气体进行挤压，挤压本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试设备，包括壳体（1）、设置于壳体（1）顶面的测试槽（2）、设置于壳体（1）顶面靠近测试槽（2）的测试件（3），设置于壳体（1）两侧的测试杆（4），其特征在于，还包括：设置于测试件（3）侧面的导电块（6）、开设于壳体（1）内部的第二安装槽（12），所述第二安装槽（12）的顶面连接有弹性柱（13），所述弹性柱（13）的一端连接有第一开关触片（14），所述第二安装槽（12）靠近第一开关触片（14）的侧面连接有第二开关触片（15）；开设于第二安装槽（12）侧面的连接管（17），所述壳体（1）的内部靠近测试杆（4）的位置开设有连接槽（16），所述测试杆（4）的侧面靠近连接槽（16）的位置固定连接有连接板（18）；设置于壳体（1）内部靠近第二安装槽（12）一侧的驱动件。2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试设备，其特征在于，所述驱动件包括开设于壳体（1）内部靠近弹性柱（13）一侧的第一安装槽（7），所述第一安装槽（7）的底面连接有电磁铁（9），所述电磁铁（9）的侧面盘绕设置有导线（8），所述导线（8）的一端与电磁铁...

【专利技术属性】
技术研发人员：张锦连，
申请(专利权)人：广州赛瑞科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：