【技术实现步骤摘要】
一种高速高精度的六面体检测系统、方法和存储介质
[0001]本申请涉及涉及人工智能、半导体六面体检测
，尤其涉及一种高速高精度的六面体检测系统、方法和计算机存储介质。
技术介绍
[0002]随着电子工业的持续高速增长，带动了电子元器件产业强劲发展。新能源汽车、工控、家电、通信，计算机、消费电子产品等领域都需要大量的元器件。随着制程工艺的提升，电子元器件的尺寸也越来越小，且多为六面体结构。在生产过程中，电子元器件难免受到各种工艺、材料、温度和搬运等影响，产生划痕，黑点等缺陷。对大量肉眼难以分辨细节的亚毫米级元器件进行快速检测是行业的痛点，因此基于六面体检测的技术应运而生。
[0003]六面体外观及尺寸检测大量应用在半导体行业中的电容、电阻、电感、滤波器、二极管、晶体管等小体积，且大数量的关键零部件上，通过分别拍摄六面体各个面的图像，再利用算法检测其缺陷。在六面体检测中，常规的深度学习模型已经超越传统视觉检测的精度和速度，被业界广泛使用。然而工业需求也在提升，对检测速度和精度提出了更高的要求。例如公制0201的微小...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种六面体检测系统，其特征在于，包括：特征提取模块，用于对被测元件对应的输入图片进行不同倍数的下采样处理，得到Y个不同维度的输出特征图；无参联合表征模块，用于从所述Y个不同维度的输出特征图中，筛选出N个输出特征图，得到N个第一目标输出特征图，对N个所述第一目标输出特征图进行处理，得到所述输入图片的联合表征特征图；根据所述联合表征特征图判定所述输入图片是否为负例图片；多维融合表征模块，用于当所述无参联合表征模块判定所述输入图片为负例图片后，输出所述输入图片的预测信息。2.如权利要求1所述的六面体检测系统，其特征在于，所述无参联合表征模块还用于：获取上限数组U和下限数组L；确定所述联合表征特征图的每个坐标位置的像素点的值中，未位于上限数组U和下限数组L对应位置的参考数值之间的像素点的总数量；当所述总数量超过预设数量阈值，则判定所述输入图片为负例图片；其中，所述上限数组U包括所述联合表征特征图的不同坐标位置所分别对应的多个上限参考数值，所述下限数组L包括所述联合表征特征图的不同坐标位置所分别对应的多个下限参考数值，所述上限数组U和所述下限数组通过如下方式确定：统计不同类型样品的大量正例样本图片的联合表征特征图的像素点的数值分布，得到上限数组计算公式和下限数组计算公式；获取所述被测元件的大量正例样本图片的联合表征特征图中不同坐标位置的均值和标准差；将所述均值和标准差分别代入上限数组计算公式和下限数组计算公式，得到所述上限数组U和下限数组L。3.如权利要求2所述的六面体检测系统，其特征在于，所述上限数组U下限数组L通过如下公式获取：所述上限数组U＝Q1+1.35R，所述下限数组L＝Q2
‑
1.35R；其中，M表示所述被测元件的大量正例样本图片对应的所述联合表征特征图中每个相同坐标位置的均值，σ表示所述被测元件的大量正例样本图片对应的联合表征特征图中每个相同坐标位置的标准差，e表示自然对数函数的底数，γ表示常数。4.如权利要求3所述的六面体检测系统，其特征在于，所述无参联合表征模块用于：a、从所述第一目标输出特征图筛选出最低维特征图；b、对所述最低维特征图进行转维变形，得到初始转维特征图；c、从所述第一目标输出特征图中，选取出所述最低维特征图的上一级维度特征图；d，将所述初始转维度特征图与所述上一级维度特征图，进行广播后再转维处理，得到下一级转维特征图；e、将所述下一级转维特征图和新的上一级维度特征图，进行广播后再转维处理，得到新的下一级转维特征图；f、根据所述新的下一级转维特征图重复步骤e，直至所述第一目标输出特征图中的所有维度的特征图参与到转维处理中；其中，每次转维处理按照转维度从低到高顺序，依次从所述第一目标输出特征图选出所述新的上一级维度特征图。5.如权利要求1所述的六面体检测系统，其特征在于，所述多维融合表征模块用于：
从所述Y个不同维度的输出特征图中，筛选出P...
【专利技术属性】
技术研发人员：何良雨，王戬鑫，崔健，刘彤，张文刚，
申请(专利权)人：锋睿领创珠海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。