LED状态检测方法及用于LED状态检测的测试终端技术

本发明专利技术公开了一种LED状态检测方法及用于LED状态检测的测试终端。其中，所述方法包括：所述测试终端确定出所述实时图像的ROI；所述测试终端对所述ROI作二值化处理，得到第一特征矩阵；所述测试终端根据所述第一特征矩阵，确定所述待检测LED本体的当前状态。所述测试终端用于执行所述方法的步骤。实施本发明专利技术有利于使得测试系统实现自主检测LED状态，从而提高LED状态检测的机械化程度。高LED状态检测的机械化程度。高LED状态检测的机械化程度。

【技术实现步骤摘要】
LED状态检测方法及用于LED状态检测的测试终端


[0001]本专利技术涉及工业生产
，尤其涉及一种LED状态检测方法及用于LED状态检测的测试终端。

技术介绍

[0002]PCBA是英文Printed Circuit Board Assembly的简称，也就是说PCB空板经过SMT上件，或经过DIP插件的整个制程，简称PCBA。PCBA的生产过程中，往往需要对PCB上的元器件进行测试，以确保出品质量过关。
[0003]特别地，对于具有LED的产品的测试作业，目前仍然需要依靠人工操作。其中，对于LED状态(即LED是否点亮)的判断是当中的关键步骤。
[0004]可见，如何使得测试系统实现自主检测LED状态，从而提高LED状态检测的机械化程度，是亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种LED状态检测方法及用于LED状态检测的测试终端，使得测试系统实现自主检测LED状态，从而提高LED状态检测的机械化程度。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED状态检测方法，所述方法应用于测试系统中，所述测试系统包括用于采集待检测LED本体的实时图像的相机以及与所述相机连接的测试终端，其特征在于，所述方法包括：所述测试终端确定出所述实时图像的ROI；所述测试终端对所述ROI作二值化处理，得到第一特征矩阵，其中，所述第一特征矩阵包括第一状态特征和/或第二状态特征，所述第一状态特征表示LED点亮时光亮区域对应的图像特征，所述第二特征表示LED熄灭时对应的图像特征；所述测试终端根据所述第一特征矩阵，确定所述待检测LED本体的当前状态。2.根据权利要求1所述的LED状态检测方法，其特征在于，所述测试终端根据所述第一特征矩阵，确定所述待检测LED本体的当前状态，具体包括：所述测试终端确定出第一比值，其中，所述第一比值表示第一状态特征值的数量与所述第一特征矩阵内全部特征值的数量的比值；所述测试终端判断所述第一比值是否大于等于预先确定的第一阈值，当判断出所述第一比值大于等于所述第一阈值时，所述测试终端判定所述待检测LED本体的当前状态为点亮状态。3.根据权利要求1所述的LED状态检测方法，其特征在于，所述测试终端根据所述特征值，确定所述待检测LED本体的当前状态，具体包括：所述测试终端确定出第二比值，其中，所述第二比值表示第二状态特征值的数量与所述第一特征矩阵内全部特征值的数量的比值；所述测试终端判断所述第二比值是否大于等于预先确定的第二阈值，当判断出所述第二比值大于等于所述第二阈值时，所述测试终端判定所述待检测LED本体的当前状态为熄灭状态。4.根据权利要求2或3所述的LED状态检测方法，其特征在于，在所述测试终端根据所述第一特征矩阵，确定所述待检测LED本体的当前状态之后，所述方法还包括：所述测试终端判定所述当前状态是否与目标状态匹配，其中，所述目标状态为点亮状态或者熄灭状态；若所述当前状态与所述目标状态匹配，则所述测试终端输出表示测试通过的结果信息，否则，所述测试终端输出表示测试不通过的结果信息。5.根据权利要求1所述的LED状态检测方法，其特征在于，所述待检测LED本体设置有若干个，所述测试终端确定出所述实时图像的ROI，具体包括：所述测试终端基于单个LED本体的图像特征，对所述实时图像划分与所述待检测LED本体一一对应的ROI；以及，在所述测试终端根据所述第一特征矩阵，确定所述待检测LED本体的当前状态之后，所述方法还包括：所述测试终端记录所述待检测LED本体的处于所述当前状态的时间信息；所述测试终端在预先确定的检测时间内，对所述待检测LED本体的当前状态以时间的先后排序，生成当前状态时序信息，其中，所述当前状态时序信息包括某一待检测LED本体在预先确定的检测时间长度范围...

【专利技术属性】
技术研发人员：王鹏，
申请(专利权)人：广东盈科电子有限公司，
类型：发明
国别省市：