【技术实现步骤摘要】
提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置
[0001]本申请涉及电子设备可靠性分析
,特别是涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置。
技术介绍
[0002]电子设备是航天装备的重要组成部分,其质量的可靠性和稳定性可能决定航天产品的成败,因此电子设备的寿命预估工作是航天产品可靠性工作中的重点之一。由于电子设备的基本组成单元为元器件,因此其寿命评估工作通常等效为核心元器件的寿命评估。对于电子元器件在使用过程中的工作寿命,一般通过电子元器件的试验寿命与工作寿命之间的关系,进行预测。
[0003]在相关技术中,通过基准工况的试验寿命与工作寿命之间的函数关系,以及待预测工况与基准工况之间的工况差异倍数,确定待预测工况的等效工作寿命。其中,在确定工况差异倍数时,是直接通过电压、纹波电流和温度的实际值与额定值的比值计算工况差异倍数的,在计算过程中,未考虑电压、纹波电流和温度等影响因子对不同工况下电子元器件的工作寿命的影响程度。
技术实现思路
[0004]基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够快速高效地预测电子元器件工作寿命的方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0005]第一方面,本申请提供了一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法。所述方法包括:获取基准元器件的第一试验温度以及第一试验温度对应的第一试验寿命;获取基准元器件在第一工况条件下的第一工作寿命,根据第一工作寿命和第一试验寿命,确定基准元器件的试验加速倍数,第一工况条件是至少基于电压 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法,其特征在于,所述方法包括:获取基准元器件的第一试验温度以及所述第一试验温度对应的第一试验寿命;获取所述基准元器件在第一工况条件下的第一工作寿命,根据所述第一工作寿命和所述第一试验寿命,确定所述基准元器件的试验加速倍数,所述第一工况条件是至少基于电压、纹波电流以及占空比三种工作参数所设置的;获取待预测元器件的第二工况条件,根据所述第二工况条件中的工作温度和所述试验加速倍数,确定所述待预测元器件的第二试验温度,所述待预测元器件和所述基准元器件具有相同的特性参数,所述第二工况条件是至少基于电压、纹波电流以及占空比三种工作参数所设置的;获取所述第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值和所述第二工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第二影响权重值,根据所述第一影响权重值、所述第二影响权重值、所述第一工况条件、所述第二工况条件、第一试验温度以及第二试验温度,确定工况差异加速倍数,所述工况差异加速倍数用于指示不同工况对试验加速倍数的影响程度;根据所述第一试验寿命、所述试验加速倍数以及所述工况差异加速倍数,确定所述待预测元器件在所述第二工况条件下的第二工作寿命。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值,包括:根据至少一个样品元器件的第一历史工作数据,获取多组每种工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数,所述样品元器件是指与所述待预测元器件型号相同的元器件;对于任一工作参数,计算多组所述任一工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数的加权平均值;将每种工作参数对应的第一影响权重的历史评估分数的加权平均值的归一化处理结果,作为每种工作参数对应的第一影响权重值。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一工况条件包括N个参数,N≥3;相应地,所述获取所述第一工况条件中涉及到的每种工作参数对应的第一影响权重值,包括:根据样品元器件的第二历史工作数据,获取至少N+1组历史工况条件以及对应的历史工作寿命,所述样品元器件是指与所述待预测元器件型号相同的元器件;根据所述至少N+1组历史工况条件以及对应的历史工作寿命,构建方程组,根据所述方程组的解,确定每一工作参数对应的第一影响权重值。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述工作寿命与所述工况条件的每一参数负相关;相应地,获取至少N+2组历史工况条件以及对应的历史工作寿命,包括:,i=1,2,
…
,N+2;其中,为第i个历史工况条件对应的历史工作寿命;K为工作寿命与各参数之间的线性倍数值;温度影响权重;在第i个历史工况条件下的温度参数值;为第j个参数对应的影响权重;为第j个参数在第i个历史工况条件下的参数值。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一影响权重值、所述第二
影响权重值、所述第一工况条件、所述第二工况条件、第一试验温度以及第二试验温度,确定工况差异加速倍数,包括:根据第一试验温度、第一温度影响权重值、所述第一影响权重值和所述第一工况条件中每一工作参数对应的额定数值和...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘树强,余思达,李潮,韩立帅,
申请(专利权)人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室,
类型:发明
国别省市:
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