一种陶瓷电容器的测试结构制造技术

技术编号:35492075 阅读:25 留言:0更新日期:2022-11-05 16:48
本实用新型专利技术涉及电容器测试配件技术领域,尤其是指一种陶瓷电容器的测试结构,其包括测试前座和测试后座,所述测试前座一排式等间隔贯穿设置有多个第一穿孔,所述测试后座一排式等间隔贯穿设置有多个第二穿孔,所述第一穿孔内装配有前排测试探针,所述第二穿孔内装配有后排测试探针,所述测试后座的底部一排式间隔设置有若干第一销孔,所述测试前座一排式间隔贯穿设置有第二销孔,第一销孔与第二销孔一一对应,所述第二销孔内装配有调节螺栓,所述调节螺栓的前端伸入所述第一销孔并与所述第一销孔连接。本实用新型专利技术结构新颖,可以适用于不同尺寸的陶瓷电容器进行检测,提高使用灵活性,检测方便、快捷,减少更换测试治具的情况,提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷电容器的测试结构


[0001]本技术涉及电容器测试配件
,尤其是指一种陶瓷电容器的测试结构。

技术介绍

[0002]在小型电脑、移动通信等设备日益轻、薄、短、小,高性能,多功能化的过程中,半导体陶瓷电容器则具有其特殊的重要性。目前对陶瓷电容器的测试都需要用到测试治具以及测试装置进行配合对陶瓷电容器进行检测,目前的测试治具只能适用于一种尺寸陶瓷电容器,当需要检测其他尺寸时便需要更换不同的测试治具,工作效率低,检测灵活性差,检测不便。

技术实现思路

[0003]本技术针对现有技术的问题提供一种陶瓷电容器的测试结构,结构新颖,可以通过前排测试探针和后排测试探针与陶瓷电容器抵接实现对其进行测试;可以适用于不同尺寸的陶瓷电容器进行检测,提高使用灵活性,检测方便、快捷,减少更换测试治具的情况,提高工作效率。
[0004]为了解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案:
[0005]本技术提供的一种陶瓷电容器的测试结构,包括测试前座和测试后座,所述测试前座一排式等间隔贯穿设置有多个第一穿孔,所述测试后座一排式等间隔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷电容器的测试结构,其特征在于:包括测试前座和测试后座,所述测试前座一排式等间隔贯穿设置有多个第一穿孔,所述测试后座一排式等间隔贯穿设置有多个第二穿孔,所述第一穿孔内装配有前排测试探针,所述第二穿孔内装配有后排测试探针,所述测试后座的底部一排式间隔设置有若干第一销孔,所述测试前座一排式间隔贯穿设置有第二销孔,第一销孔与第二销孔一一对应,所述第二销孔内装配有调节螺栓,所述调节螺栓的前端伸入所述第一销孔并与所述第一销孔连接。2.根据权利要求1所述的一种陶瓷电容器的测试结构,其特征在于:所述测试后座上一排式等间隔社会自由多个安装孔。3.根据权利要求1所述的一种陶瓷电容器的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱保魏龙
申请(专利权)人:广东易利嘉电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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