可配置的电压检测电路制造技术

本实用新型专利技术涉及电压检测技术领域,公开了可配置的电压检测电路，包括电阻支路、控制开关、分压电阻和比较单元，电阻支路包括多个依次串联的检测电阻，每个检测电阻一端与一个控制开关的第一连接端电连接，所有控制开关的第二连接端电连接，电阻支路的末端检测电阻分别与比较单元的正输入端和分压电阻电连接，在实际使用时，将控制开关的第二连接端与电压检测点电连接，通过让对应的控制开关导通，可以改变电阻支路中与分压电阻进行分压的检测电阻的数量，而改变与分压电阻进行分压的检测电阻的数量可以改变输入到比较单元的正输入端的电压大小，因此通过本实用新型专利技术可以对多种电压检测点进行检测，不用针对多种电压检测点设置多个电压检测电路。多个电压检测电路。多个电压检测电路。

【技术实现步骤摘要】
可配置的电压检测电路


[0001]本技术涉及电压检测
，具体涉及可配置的电压检测电路。

技术介绍

[0002]单片机是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能、显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路集成到一块硅片上而构成的微型计算机系统。
[0003]单片机在实际使用时需要对电压进行检测，而单片机现有的内部检测电路电压检测点单一，大多只能针对某种特定的情况进行检测，如果需要对多个检测点进行电压检测，则需要设置多个电压检测电路，不能使用一个电压检测电路对多个检测点进行检测；另外对于一些简单使用A/D转换器来检测电压点的应用场景，由于ADC模块占用面积大，会增加芯片面积和使用功耗，如果能通过一种能检测多点电压点的电压的电路来替换掉ADC模块则能降低单片机在某些领域内的应用成本。

技术实现思路

[0004]鉴于
技术介绍
的不足，本技术是提供了可配置的电压检测电路，能对多点电压进行检测。
[0005]为解决以上技术问题，本技术提供了如下技术方案：可配置的电压检测电路，包括电阻支路、控制开关、分压电阻和比较单元，所述电阻支路包括多个检测电阻，所有检测电阻依次串联，每个检测电阻一端与一个控制开关的第一连接端电连接，所有控制开关的第二连接端电连接，所述电阻支路的末端检测电阻的第二连接端分别与所述比较单元的正输入端和分压电阻一端电连接，所述电阻支路的末端检测电阻的第二连接端是指末端检测电阻未与相邻检测电阻电连接的一端，所述分压电阻另一端接地。
[0006]在某种实施方式中，本技术还包括带隙基准单元，所述带隙基准单元的电压输出端与所述比较单元的负输入端电连接，向所述比较单元的负输入端输入基准电压。
[0007]在某种实施方式中，本技术还包括切换开关，所述切换开关包括一个输出端和至少两个输入端，一个输入端与一个输出端之间为一个开关通道
[0008]在某种实施方式中，所述控制开关的第一连接端为控制开关的输入端，所述控制开关的第二连接端是控制开关的输出端；或者所述控制开关的第一连接端为控制开关的输出端，所述控制开关的第二连接端是控制开关的输入端。
[0009]在某种实施方式中，所述电阻支路中的每个检测电阻的阻值相同。
[0010]在某种实施方式中，所述电阻支路包括三十八个检测电阻，三十八个检测电阻分别为检测电阻R1、
……
、检测电阻R38，检测电阻R1、检测电阻R2、
……
、检测电阻R38的阻值相同，分压电阻的阻值是检测电阻R1阻值的十二倍。
[0011]在某种实施方式中，所述控制开关是传输门开关。
[0012]本技术与现有技术相比所具有的有益效果是：在实际使用时，将控制开关的第二连接端与电压检测点电连接，通过让对应的控制开关导通，可以改变电阻支路中与分压电阻进行分压的检测电阻的数量，而改变与分压电阻进行分压的检测电阻的数量可以改变输入到比较单元的正输入端的电压大小，因此通过本技术可以对多种电压检测点进行检测，不用针对多种电压检测点设置多个电压检测电路；另外在一些应用ADC模块来检测电压的场合，由于本技术能向比较单元输入不同的检测电压，因此可以将电路中的ADC模块替换为本技术，进而可以降低电路或者芯片面积；最后本技术的功耗主要有带隙基准单元的功耗和电阻支路上的检测电阻的功耗，相比较采用ADC模块进行电压检测，通过改变检测电阻的阻值大小，可以降低进行电压检测所需要的功耗。
附图说明
[0013]图1为本技术的电路图。
具体实施方式
[0014]现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。
[0015]如图1所示，可配置的电压检测电路，包括电阻支路1、控制开关、分压电阻R0和比较单元2、带隙基准单元3和切换开关3；
[0016]其中电阻支路1包括三十八个检测电阻，分别为检测电阻R1、
……
、检测电阻R38，检测电阻R1、检测电阻R2、
……
、检测电阻R38，所有检测电阻依次串联且每个检测电阻的阻值相同，另外分压电阻R0的阻值是检测电阻阻值的十二倍；在某种实施方式中，可以根据实际需求设置电阻支路1中的检测电阻的数量和阻值大小；
[0017]在图1中，控制开关包括控制开关K0、控制开关K1、控制开关K2、
……
、控制开关K38，每个检测电阻一端与一个控制开关的第一连接端电连接，所有控制开关的第二连接端电连接；电阻支路1的末端检测电阻的第二连接端分别与比较单元2的正输入端和分压电阻R0一端电连接，电阻支路1的末端的检测电阻R1的第二连接端是指末端的检测电阻R1未与相邻的检测电阻R2电连接的一端，分压电阻R2另一端接地；
[0018]在图1中，带隙基准单元3的电压输出端与比较单元2的负输入端电连接，向比较单元2的负输入端输入基准电压。
[0019]在图1中，切换开关4包括一个输出端和至少两个输入端，一个输入端与一个输出端之间为一个开关通道；控制开关的第二连接端与切换开关的输出端电连接；在某种实施方式中，切换开关4包括一个输出端和M个输入端，M为大于2的正整数。
[0020]本实施例中，控制开关的第一连接端为控制开关的输入端，控制开关的第二连接端是控制开关的输出端；或者控制开关的第一连接端为控制开关的输出端，控制开关的第二连接端是控制开关的输入端；其中每个控制开关是传输门开关。
[0021]在实际使用时，本技术的所有控制开关中在同一时刻只有一个控制开关导通，其余的控制开关关断；
[0022]图1中的电路的检测过程如下：
[0023]带隙基准单元3向比较单元2的负输入端输入1.2V的基准电压VBG；当切换开关4选
择电压VDD作为电压检测输入时：
[0024]如果闭合控制开关K0，则比较单元2的正输入端输入电压VCIN+等于电压VDD,当电压VCIN+小于基准电压VBG时，比较单元2的输出结果为“0”即输出低电平信号，否则比较单元2的输出结果为“1”即输出高电平信号；
[0025]如果闭合控制开关K1，则电压VDD经检测电阻R1输入到比较单元2的正输入端，比较单元2的正输入端输入电压VCIN+＝VDD*R0/(R1+R0)＝VDD*12/13,当电压VCIN+小于基准电压VBG时即电压VDD小于1.3V时，比较单元2的输出结果为“0”即输出低电平信号，否则比较单元2的输出结果为“1”即输出高电平信号；
[0026]如果闭合控制开关K38，则电压VDD经检测电阻R38、检测电阻R37
……
检测电阻R1输入到比较单元2的正输入端，比较单元2的正输入端输入电压VCIN+＝VDD*R0/(R3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.可配置的电压检测电路，其特征在于，包括电阻支路、控制开关、分压电阻和比较单元，所述电阻支路包括多个检测电阻，所有检测电阻依次串联，每个检测电阻一端与一个控制开关的第一连接端电连接，所有控制开关的第二连接端电连接，所述电阻支路的末端检测电阻的第二连接端分别与所述比较单元的正输入端和分压电阻一端电连接，所述电阻支路的末端检测电阻的第二连接端是指末端检测电阻未与相邻检测电阻电连接的一端，所述分压电阻另一端接地。2.根据权利要求1所述的可配置的电压检测电路，其特征在于，还包括带隙基准单元，所述带隙基准单元的电压输出端与所述比较单元的负输入端电连接，向所述比较单元的负输入端输入基准电压。3.根据权利要求1所述的可配置的电压检测电路，其特征在于，还包括切换开关，所述切换开关包括一个输出端和至少两个输入端，一个输入端与一个输出端之间为一个开关通...

【专利技术属性】
技术研发人员：方马龙，
申请(专利权)人：无锡矽杰微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：