测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试治具，包括：相对设置的第一治具与第二治具，第一治具，包括治具本体，且在治具本体的靠近第二治具一侧设有第一区；第二治具，包括固定部以及调节部，调节部位于固定部与第一治具之间，且在其靠近第一治具的一侧设有第二区，且调节部具有位置调节结构，位置调节结构用于调整调节部与固定部之间的相对位置，第一区与第二区中的其中一者设有探针，另一者为产品固定区。本申请实施例可以有效改善因接触不良而导致的测试结果不准。以有效改善因接触不良而导致的测试结果不准。以有效改善因接触不良而导致的测试结果不准。

【技术实现步骤摘要】
测试治具


[0001]本申请涉及测试
，特别是涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]壳体(Housing)治具为对半导体产品进行测试的常用治具，其通常包括上下两部分治具。其中上治具上设有探针，同时待测产品固定在下治具上，进而使得探针与待测产品的引脚接触，从而进行测试。
[0003]在生产过程中，同型号的上下治具在生产线上通常是通用的，但是其治具供应商通常有多个，而每个供应商做的治具都的会存在一定的公差范围。因此，在实际测试过程中，常会出现产品引脚与治具探针对位不准，从而导致二者接触不良，从而影响测试结果。

技术实现思路

[0004]基于此，本申请实施例提供一种能够有效改善因接触不良而导致的测试结果不准。
[0005]一种测试治具，包括相对设置的第一治具与第二治具，
[0006]所述第一治具，包括治具本体，且在所述治具本体的靠近所述第二治具一侧设有第一区；
[0007]所述第二治具，包括固定部以及调节部，所述调节部位于所述固定部与所述第一治具之间，且在其靠近所述第一治具的一侧设有第二区，且所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括相对设置的第一治具与第二治具，所述第一治具，包括治具本体，且在所述治具本体的靠近所述第二治具一侧设有第一区；所述第二治具，包括固定部以及调节部，所述调节部位于所述固定部与所述第一治具之间，且在其靠近所述第一治具的一侧设有第二区，且所述调节部具有位置调节结构，所述位置调节结构用于调整所述调节部与所述固定部之间的相对位置；所述第一区与所述第二区中的其中一者设有探针，另一者为产品固定区。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述调节部包括：第一调节层，具有第一调节结构，所述第一调节结构用于在第一方向上调整所述第一调节层与所述固定部之间的相对位置。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述第一调节结构包括第一调节孔，所述第一调节孔沿第一方向延伸方向，以使得所述第一调节层沿所述第一方向移动；所述测试治具还包括第一固定件，所述固定部上设定第一固定孔，所述第一固定件用于穿过所述第一调节孔以及所述第一固定孔而将所述第一调节层固定至所述固定部。4.根据权利要求2或3所述的测试治具，其特征在于，所述调节部还包括：第二调节层，位于所述第一调节层与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟宪伟，任先鹏，王永梁，
申请(专利权)人：绍兴中芯集成电路制造股份有限公司，
类型：新型
国别省市：