一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法，包括以下步骤：将高纯铜粉与待测盐类样品以质量比4:1掺杂，置于洁净的PFA容器中；将PFA容器置于混匀仪上，使高纯铜粉与盐类样品混合均匀；取>0.8g的混合样品置于不锈钢环中，在压片机上压制，得到压片；将压片通过辉光放电质谱法测量其中金属元素的杂质含量；将测定的金属元素换算为相应的主成分阴离子对应的化合物，计算盐类样品以化合物态的纯度。本发明专利技术建立了一种针对不同盐类化合物通过元素测定计算不同化合物纯度的分析方法。可解决纯度分析的关键技术难题，为相关样品纯度分析提供技术支撑。关样品纯度分析提供技术支撑。关样品纯度分析提供技术支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法


[0001]本专利技术属于化学分析
，具体涉及一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法。

技术介绍

[0002]辉光放电质谱法主要应用于导电介质杂质的分析，比如金属铁、铅等，优点主要是不需要样品消解，避免了消解过程中试剂杂质的影响。随着辉光放电质谱法应用的扩大，该技术扩逐渐展到非导电介质，例如氧化物、氯化物等。为增加非导电介质的导电性，往往需要借助导电介质，其借助的导电介质包括两种，一种是高纯铜粉，另一种是高纯铜柱(第二阴极)，与此对应，制备得到的导电样品分别为高纯铜粉导电样品，第二阴极导电样品。
[0003]因为辉光放电质谱法获得的是各种金属元素的含量，而在盐类化合物中，大多数元素不是以金属元素的形态存在，而是以化合物的形态存在，就涉及一个如何把元素含量转化为化合物纯度的问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法。
[0005]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0006]提供一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法，包括以下步骤：
[0007]S1、将高纯铜粉与待测盐类样品掺杂，置于洁净的PFA容器中；
[0008]S2、将PFA容器置于混匀仪上，使高纯铜粉与盐类样品混合均匀；
[0009]S3、取>0.8g的混合样品置于不锈钢环中，在压片机上压制，得到压片；
[0010]S4、将压片通过辉光放电质谱法测量其中金属元素的杂质含量；
[0011]S5、将测定的金属元素换算为相应的主成分阴离子对应的化合物，计算盐类样品以化合物态的纯度；
[0012]盐类样品中某金属元素形成的化合物或氧化物杂质含量＝盐类化合物中该金属元素的测定含量
×
金属元素相应的主成分各阴离子对应的化合物或氧化物的相对分子质量
÷
(金属元素的相对原子质量
×
化合物分子式中原子个数)；
[0013]盐类样品以化合物态的纯度＝1
‑
(盐类样品中某金属元素形成的化合物或氧化物杂质含量
÷
盐类样品总含量)
×
100％。
[0014]进一步地，S2中，PFA容器在混匀仪上混合1h
‑
3h。
[0015]进一步地，S3中，混合样品在压片机上于30Mpa压力下压制10s
‑
50s。
[0016]进一步地，S5还包括计算盐类样品以氧化物态、元素形态方式的纯度，如果盐类样品以化合物态、氧化物态、元素形态方式得到的纯度差异不显著，则以不同形态计算方式的算数平均值作为盐类化合物的纯度值；否则，对不同形态计算结果赋予不同权重，通过权重计算加权平均数作为作为盐类化合物的纯度值。
[0017]本专利技术的有益效果为：
[0018]本方法通过将测定的金属元素换算为相应的主成分阴离子相应的化合物，分别换算后，计算以化合物态、氧化物态、元素形态方式的纯度，如果几种方式的纯度值差异不显著，对分析结果不确定度影响忽略不计，可直接取不同计算方式算数平均值作为待测试剂的纯度数据；否则，可对不同形态计算结果赋予不同权重，权重来自实验数据或相关文献，通过权重计算加权平均数作为样品的纯度分析数据。
附图说明
[0019]图1为实施例1以不同形态计算纯度的结果对比图；
[0020]图2为实施例2以不同形态计算纯度的结果对比图。
具体实施方式
[0021]下面对本专利技术的具体实施方式进行描述，以便于本
的技术人员理解本专利技术，但应该清楚，本专利技术不限于具体实施方式的范围，对本
的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本专利技术的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本专利技术构思的专利技术创造均在保护之列。
[0022]实施例1
[0023]一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法，具体包括以下步骤：
[0024]称取1g干燥处理过的氯化铷样品与4g高纯铜粉样品，置于洁净的PFA容器中，在混匀仪上混合3h，使高纯铜粉与氯化铷样品混合均匀，然后将适量的(>0.8g)混合样品置于不锈钢环中，在压片机上于30Mpa压力下压制50s，制备得到机械稳定性好、表面平整的压片(内径外径厚度1.2mm)，将压片通过辉光放电质谱法测量其中金属元素的杂质含量。
[0025]表1氯化铷样品中金属元素杂质含量
[0026][0027][0028][0029]将测定的金属元素换算为相应的主成分阴离子对应的化合物，分别换算后，计算以化合物态的纯度。
[0030]盐类化合物中某金属元素对应的化合物或氧化物杂质含量＝盐类样品中该金属元素的测定含量
×
金属元素相应的主成分各阴离子对应的化合物或氧化物的相对分子质量
÷
(金属元素的相对原子质量
×
化合物分子式中原子个数)；
[0031]盐类化合物以化合物态的纯度＝1
‑
(盐类化合物的杂质含量
÷
盐类化合物总含量)
×
100％。
[0032]以氯化物态计算，例如铝Al，杂质含量为0.75mg/kg，则以三氯化铝为例，计算氯化物含量为0.75
×
(35.5
×
3+26.98)
÷
26.98＝3.71mg/kg。
[0033]以氧化物态计算，例如铝Al，杂质含量为0.75mg/kg，则以三氧化二铝为例，计算氧化物含量为0.75
×
(16.00
×
3+26.98
×
2)
÷
(26.98
×
2)＝1.41mg/kg。
[0034]将不同元素按此方法转化后，可以计算出以氯化物计纯度的含量为99.89％，而以元素计纯度为99.91％，两者相差不大，取平均值，杂质含量为99.90％。(见上表)
[0035]实施例2
[0036]测定磷酸二氢铵的纯度，分别以元素计，以氧化物计，以磷酸盐计，比较不同计算方法获得的纯度数据，见图2。
[0037]以元素计算结果见下表，类似氯化物的计算方法，分别求出以磷酸盐计，以氧化物计，从而求出纯度数据。
[0038]表2磷酸二氢铵样品中金属元素杂质含量
[0039]Li7(MR)0.00Se82(HR)46.96Gd157(MR)0.00Be9(MR)0.02Br81(HR)6.83Tb159(MR)0.05B11(MR)0.00Rb85(MR)0.00Dy163(MR)0.02
F19(MR)0.72Sr88(MR)0.12Ho165(MR)0.00Na23(MR)116.52Y89(MR)0.00Er166(MR)0本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于辉光放电质谱法评估盐类化合物纯度的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将高纯铜粉与待测盐类样品掺杂，置于洁净的PFA容器中；S2、将PFA容器置于混匀仪上，使高纯铜粉与盐类样品混合均匀；S3、取>0.8g的混合样品置于不锈钢环中，在压片机上压制，得到压片；S4、将压片通过辉光放电质谱法测量其中金属元素的杂质含量；S5、将测定的金属元素换算为相应的主成分阴离子对应的化合物，计算盐类样品以化合物态的纯度；盐类样品中某金属元素形成的化合物或氧化物杂质含量＝盐类化合物中该金属元素的测定含量
×
金属元素相应的主成分各阴离子对应的化合物或氧化物的相对分子质量
÷
(金属元素的相对原子质量
×
化合物分子式中原子个数)；盐类样品以化合物态的纯度＝1
‑
(盐类样品中某金属元素形成的化合物...

【专利技术属性】
技术研发人员：李海峰，张见营，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：