一种检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法技术

本发明专利技术涉及金属检测技术领域，具体涉及一种检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法，包括如下步骤：步骤一、将石墨粉与铜镓合金粉末按质量比1:1

【技术实现步骤摘要】
一种检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法


[0001]本专利技术涉及金属检测
，尤其涉及一种检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法。

技术介绍

[0002]铜镓靶材作为铜铟镓硒薄膜太阳能电池生产中的关键材料，其直接决定着铜铟镓硒薄膜太阳能电池的性能。靶材制备之前，铜镓合金粉末的纯度直接影响到靶材的性能，所以控制铜镓合金粉末杂质含量至关重要。目前检测金属中杂质元素的方法通常有两种，
①
电感耦合等离子体质谱仪(ICP
‑
MS)检测，利用等离子体焰炬将样品蒸发、分解、激发和电离进入质谱仪进行测定的一种分析方法。
②
辉光放电质谱仪(GD
‑
MS)检测，是一种固体材料直接分析的方法，几乎所有的固体样品元素包括碳、氧和氮都可被检测和定量，许多元素检出限可低至ppt水平。对于粉末状材料一般压制成块状进行测定，或选用高纯铟作为载体，将粉末平铺在处理过的铟表面，在适当的压力下将粉末压在金属铟上制得样品。
[0003]电感耦合等离子体质谱仪(ICP
‑
MS)检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、将石墨粉与铜镓合金粉末按质量比1:1
‑
3混匀得到混合粉；步骤二、将混合粉倒入模具压制成样品块，脱模取出样品块，记录样品块压制后状态；步骤三、将不同质量比的样品块放入GD
‑
MS中调谐，通过记录及分析各调谐参数、铜镓信号强度和溅射时间，以找出样品块的最佳质量比及调谐参数；步骤四、选择最佳杂质元素的分析同位素及分辨率，并避开原子团干扰项，采用最佳质量比的样品块和调谐参数进行测试杂质元素。2.根据权利要求1所述检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法，其特征在于，所述石墨粉采用纯度为99.9995％
‑
99.9999％石墨粉；所述铜镓合金粉末采用纯度为99.995％
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99.999％铜镓合金粉末。3.根据权利要求1所述检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法，其特征在于，所述步骤一中石墨粉与铜镓合金粉末按质量比1:1
‑
3混匀得到混合粉的方法是将石墨粉与铜镓合金粉按所述质量比装入洁净的玻璃瓶中，之后将玻璃瓶绑在湍流混粉器上混合，以使石墨粉和铜镓合金粉混合均匀。4.根据权利要求1所述检测铜镓合金粉末杂质元素的制样测试方法，其特征在于，所述步骤一中石墨...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙延焕，徐国军，杨谢行，张蛟，刘涛，
申请(专利权)人：宣城先进光伏技术有限公司，
类型：发明
国别省市：