光纤损耗的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光纤损耗的测试装置，其中，上述光纤损耗的测试装置包括：多个光束生成模块、光束耦合模块、光束分离模块、多个损耗测试模块，其中，光束耦合模块的多个输入端分别与多个光束生成模块连接，光束耦合模块的输出端与待测试光纤的输入端连接，光束分离模块的输入端与待测试光纤的输出端连接，光束分离模块的多个输出端分别与多个损耗测试模块连接。采用上述技术方案，解决了相关技术中，光纤损耗的测试的便捷度较低等问题。光纤损耗的测试的便捷度较低等问题。光纤损耗的测试的便捷度较低等问题。

【技术实现步骤摘要】
光纤损耗的测试装置


[0001]本技术涉及光学领域，具体而言，涉及一种光纤损耗的测试装置。

技术介绍

[0002]光纤激光器是由半导体泵浦管发出的泵浦光经掺稀土元素的增益光纤吸收后得到的光再经FBG光纤光栅震荡放大后，经过多级放大等过程输出得到激光光束。
[0003]但是随着增益光纤激光器在工业领域的应用方向不断地拓展，对光纤激光器输出的激光束在光束质量稳定性、输出功率稳定性方面提出更高的要求，然而，技术人员通过大量的实验发现随着增益光纤激光器高功率运行时间逐渐的增加，光纤激光器的输出功率会出现一个线性下降的现象，并且此种现象是不可逆的，这种效应也叫做光子暗化效应，这其实是增益光纤的粒子荧光寿命缩短的现象，量子损耗逐渐增加，并且这个过程是不可恢复的。最终会以热能的形式产生，使增益光纤的热量逐渐增加，所以对增益光纤的损耗测试及热量监测是光纤激光器技术中必不可少的。
[0004]现有技术中，对增益光纤的损耗测试主要有两种方法：第一种是光谱分析法，此方法是通过对特定波长的单色光和泵浦光经过增益光纤后，采集发射光谱在单色光诱发下的变化情况，从而从光谱上分析增益光纤的损耗，但是由于此种方法的激光光路结构复杂，要有多个滤波器、放大器、且还要求窄带宽单色光，操作复杂，因此不具备生产化高效率测试的要求。第二种测试方法是功率拷机型，此方法是将待测增益光纤先熔接上泵浦源后，经过泵浦源拷机2h或者更长时间，随后再熔接上信号检测光，再拷机相同的时间，并且间隔一段时间记录检测光的输出功率，最后通过计算得出掺镱光纤的损耗。过程步骤繁琐复杂，且不能实时监控。
[0005]针对相关技术中，光纤损耗的测试的便捷度较低等问题，尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0006]本技术实施例提供了一种光纤损耗的测试装置，以至少解决相关技术中，光纤损耗的测试的便捷度较低等问题。
[0007]根据本技术实施例的一个实施例，提供了一种光纤损耗的测试装置，包括：多个光束生成模块、光束耦合模块、光束分离模块、多个损耗测试模块，其中，所述光束耦合模块的多个输入端分别与所述多个光束生成模块连接，所述光束耦合模块的输出端与待测试光纤的输入端连接，所述光束分离模块的输入端与所述待测试光纤的输出端连接，所述光束分离模块的多个输出端分别与所述多个损耗测试模块连接。
[0008]在一个示例性实施例中，所述光束耦合模块，包括：合波器和模场适配器，其中，所述合波器的多个输入端分别与所述多个光束生成器连接，所述合波器的输出端与所述模场适配器的输入端连接，所述模场适配器的输出端与所述待测试光纤的输入光栅连接。
[0009]在一个示例性实施例中，所述光束分离模块包括分波器，其中，所述分波器上的输
入端与所述待测试光纤的输出光栅连接，所述分波器的多个输出端分别与所述多个损耗测试模块连接。
[0010]在一个示例性实施例中，所述光束耦合模块还包括所述输入光栅，所述光束分离模块还包括所述输出光栅。
[0011]在一个示例性实施例中，所述多个光束生成模块，包括：激光生成器和信号光生成器，其中，
[0012]所述激光生成器与所述光束耦合模块的第一输入端连接，所述信号光生成器与所述光束耦合模块的第二输入端连接。
[0013]在一个示例性实施例中，所述多个损耗测试模块包括：激光测试器和信号光测试器，其中，所述激光测试器与所述光束分离模块的第一输出端连接，所述信号光测试器与所述光束分离模块的第二输出端连接。
[0014]在一个示例性实施例中，所述激光测试器包括：第一滤波器和第一功率计，其中，所述第一滤波器的输入端与所述光束分离模块的输出端连接，所述第一滤波器的输出端与所述第一功率计连接。
[0015]在一个示例性实施例中，所述信号光测试器包括：第二滤波器和第二功率计，其中，所述第二滤波器的输入端与所述光束分离模块的输出端连接，所述第二滤波器的输出端与所述第二功率计连接。
[0016]在一个示例性实施例中，所述信号光测试器还包括：耦合镜组，其中，所述第二功率计与所述第二滤波器通过所述耦合镜组连接。
[0017]在一个示例性实施例中，所述光纤损耗的测试装置还包括：多个温度传感器和温度数据处理器，其中，所述多个温度传感器的温度采集端分别与所述待测试光纤的输入光栅、所述待测试光纤的增益光纤和所述待测试光纤的输出光栅连接，所述多个温度传感器的数据传输端与所述温度数据处理器连接。
[0018]在本技术实施例中，光纤损耗的测试装置包括：多个光束生成模块、光束耦合模块、光束分离模块、多个损耗测试模块，其中，光束耦合模块的多个输入端分别与多个光束生成模块连接，光束耦合模块的输出端与待测试光纤的输入端连接，光束分离模块的输入端与待测试光纤的输出端连接，光束分离模块的多个输出端分别与多个损耗测试模块连接，即通过光束耦合模块将多个光束生成模块生成的多个光束同时耦合进入待测试光纤，多个光束在独立传输互不干扰的情况下，在待测试光纤中经历损耗过程，然后通过光束分离模块，将同一光纤中传输的多个光束分离，最后通过多个损耗测试模块分别测试，实现同步测试待测试光纤在多个光束各自的作用下，待测试光纤的损耗情况。采用上述技术方案，解决了相关技术中，光纤损耗的测试的便捷度较低等问题，实现了提高光纤损耗的测试的便捷度的技术效果。
附图说明
[0019]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0020]图1是根据本技术实施例的一种光纤损耗的测试装置的结构框图；
[0021]图2是根据本技术实施例的光束耦合模块的结构框图一；
[0022]图3是根据本技术实施例的光束分离模块的结构框图一；
[0023]图4是根据本技术实施例的光束耦合模块的结构框图二；
[0024]图5是根据本技术实施例的光束分离模块的结构框图二；
[0025]图6是根据本技术实施例的多个光束生成模块的结构框图；
[0026]图7是根据本技术实施例的多个损耗测试模块的结构框图；
[0027]图8是根据本技术实施例的激光测试器的结构框图；
[0028]图9是根据本技术实施例的信号光测试器的结构框图；
[0029]图10是根据本技术实施例的温度测试模块的结构框图；
[0030]图11是根据本技术实施例的光纤损耗的测试装置的示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤损耗的测试装置，其特征在于，包括：多个光束生成模块、光束耦合模块、光束分离模块、多个损耗测试模块，其中，所述光束耦合模块的多个输入端分别与所述多个光束生成模块连接，所述光束耦合模块的输出端与待测试光纤的输入端连接，所述光束分离模块的输入端与所述待测试光纤的输出端连接，所述光束分离模块的多个输出端分别与所述多个损耗测试模块连接。2.根据权利要求1所述的一种光纤损耗的测试装置，其特征在于，所述光束耦合模块，包括：合波器和模场适配器，其中，所述合波器的多个输入端分别与所述多个光束生成器连接，所述合波器的输出端与所述模场适配器的输入端连接，所述模场适配器的输出端与所述待测试光纤的输入光栅连接。3.根据权利要求2所述的一种光纤损耗的测试装置，其特征在于，所述光束分离模块包括分波器，其中，所述分波器上的输入端与所述待测试光纤的输出光栅连接，所述分波器的多个输出端分别与所述多个损耗测试模块连接。4.根据权利要求3所述的一种光纤损耗的测试装置，其特征在于，所述光束耦合模块还包括所述输入光栅，所述光束分离模块还包括所述输出光栅。5.根据权利要求1所述的一种光纤损耗的测试装置，其特征在于，所述多个光束生成模块，包括：激光生成器和信号光生成器，其中，所述激光生成器与所述光束耦合模块的第一输入端连接，所述信号光生成器与所述光束耦合...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鑫涵，阮仁秋，况慧君，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：